[發明專利]檢測裝置及檢測圓軸的外徑、跳動值、真圓度的方法

有效

• 申請號: 201210335508.8
• 申請日: 2012-09-12
• 公開（公告）號: CN102901456A
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發明（設計）人: 鄭青煥
• 申請（專利權）人: 深圳深藍精機有限公司
• 主分類號: G01B11/10
• 分類號: G01B11/10;G01B11/02;G01B11/24
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

技術領域

本發明涉及一種光學檢測裝置，尤其涉及一種可用于檢測軸的外徑、跳動值、真圓度等的檢測裝置及檢測方法。

背景技術

目前，隨著工業的高速發展，為避免圓軸類零部件因外徑、跳動值、真圓度波動過大在所應用的設備造成磨損或故障，因此，對圓軸部件的檢測成為必要。在測量行業，現有技術多利用平行光、掃描平行光束或擴束平行光速照射被測物，對其投影尺寸進行光速掃描遮擋時間的測量，或平行光遮擋位置的測量。然而，這樣的測量方式多為半自動方式：檢測人員需手持光學測量儀器對圓軸進行測量，并一一記錄測量數據，檢測效率十分低下。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于，提供了一種可快速準確自動檢測軸外徑、跳動值、真圓度的檢測裝置。

本發明是這樣實現的，提供一種檢測裝置，其包括基部、光學測量部、頂尖部和PC-PLC控制中心；所述光學測量部和所述頂尖部滑動地安裝在所述基部上；所述PC-PLC控制中心控制所述光學測量部、所述頂尖部相對所述基部的運動；所述基部包括基板和設于所述基板上的兩條基板導軌；所述兩條基板導軌分別沿其橫向延伸，并在縱向上相間設置；所述光學測量部包括光學測量儀導軌和設于所述光學測量儀導軌上的光學測量儀；所述光學測量儀用于對待檢測圓軸進行測量，并將測量數據反饋給所述PC-PLC控制中心，所述PC-PLC控制中心根據所述測量數據計算出所述待檢測圓軸的檢測數據；所述光學測量儀導軌橫向滑動設置在所述基板導軌上；所述光學測量儀滑動地設置在所述光學測量儀導軌上；所述頂尖部包括頂尖導軌、第一頂尖結構和第二頂尖結構；所述頂尖導軌沿橫向其橫向延伸設置在所述基板上，并在縱向上與所述兩個基板導軌間隔設置；所述第一頂尖結構沿橫向其橫向可滑動地設置在所述頂尖導軌的一端；所述第二頂尖結構沿其橫向橫向可滑動地設置在所述頂尖導軌的另一端。。

進一步地，所述頂尖部還包括V型支撐座；所述V型支撐座沿其橫向滑動設置在所述頂尖導軌上，并位于所述第一頂尖結構與所述第二頂尖結構之間用于支撐所述待檢測圓軸。

進一步地，所述第一頂尖結構和所述第二頂尖結構分別包括殼體、氣缸導軌、氣缸、氣缸伸縮桿、頂尖和電機；所述殼體包括底板、基座和固定塊；所述底板上設有與所述頂尖導軌相配合的滑槽；所述基座安裝在所述底板上并隨著所述底板相對于所述頂尖導軌滑動；所述基座上設有開口；所述固定塊設置在所述底板上；所述氣缸導軌設置在所述底板上并沿其橫向延伸；所述基座滑動安裝在所述氣缸導軌上；所述氣缸安裝在所述基座上；所述氣缸伸縮桿的一端位于所述氣缸中，所述氣缸伸縮桿的另一端延伸到所述氣缸的外部并可伸縮穿過所述基座上的所述開口，并通過所述固定塊使得所述氣缸帶動所述基座在所述氣缸導軌上沿其橫向相對于所述氣缸導軌往復滑動；所述頂尖設置在所述基座上，并隨著所述基座一同運動；所述電機設置在所述殼體的一側，驅動所述頂尖轉動。

進一步地，所述第一頂尖結構的所述固定塊位于所述殼體的臨近所述第一頂尖結構的所述頂尖的一側；所述第二頂尖結構的所述固定塊位于所述殼體的遠離所述第二頂尖結構的所述頂尖的一側。

進一步地，所述頂尖包括形成在其前端的內凹部和可更換地設在所述內凹部中的限位塊；所述限位塊與所述待檢測圓軸配合。

進一步地，所述限位塊呈圓臺形，用以檢測實心的圓軸；所述圓臺形的限位塊上設有內凹槽，所述內凹槽的外圈與所述測實心的圓軸的倒角相配合。

進一步地，所述限位塊呈圓錐形，用以檢測空心的圓軸；所述圓錐形的限位塊與所述空心的圓軸的內圈相配合。

所述檢測裝置進一步包括上料機構、下料分揀機構和機械手機構；所述上料機構抓取所述待檢測圓軸，并將檢測完的圓軸放置到所述下料分揀機構中；所述PLC-PC控制中心控制所述機械手機構對圓軸的抓取，并控制所述下料分揀機構根據測量、分類結果進行下料和分揀。

進一步地，所述機械手機構設置于所述基板上，具有豎直設立于所述基板上之兩立柱及架設于兩所述立柱上的橫梁，機械手部件設于該橫梁上，沿所述橫梁上設置的導軌滑移。