[發(fā)明專利]存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置及糾錯(cuò)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210333371.2 | 申請(qǐng)日: | 2012-09-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103426482A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鳥(niǎo)井修;菅野伸一 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社東芝 |
| 主分類號(hào): | G11C29/42 | 分類號(hào): | G11C29/42 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 11247 | 代理人: | 劉瑞東;陳海紅 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲(chǔ)器 控制器 存儲(chǔ) 裝置 糾錯(cuò) 方法 | ||
關(guān)聯(lián)申請(qǐng)的參照
本申請(qǐng)享受2012年5月14日申請(qǐng)的美國(guó)專利申請(qǐng)?zhí)?1/646,490的優(yōu)先權(quán),該美國(guó)申請(qǐng)的全內(nèi)容在本申請(qǐng)中援用。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)施方式涉及存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置及糾錯(cuò)方法。
背景技術(shù)
可能產(chǎn)生從存儲(chǔ)器讀出存儲(chǔ)器所存儲(chǔ)的用戶數(shù)據(jù)時(shí)變化為不同于本來(lái)值的值,或者,發(fā)送裝置所發(fā)送的數(shù)據(jù)由接收裝置接收時(shí)接收的數(shù)據(jù)變化為不同于本來(lái)值的值等的現(xiàn)象。
為了應(yīng)對(duì)該問(wèn)題,一般采用將用戶數(shù)據(jù)糾錯(cuò)編碼,生成校驗(yàn)位數(shù)據(jù),以用戶數(shù)據(jù)和校驗(yàn)位數(shù)據(jù)為組進(jìn)行管理的方法。糾錯(cuò)碼例如有BCH碼和/或RS(里德-索羅門)碼。
專利文獻(xiàn)1:美國(guó)專利第7418644號(hào)說(shuō)明書(shū)
專利文獻(xiàn)2:日本特開(kāi)2005-56397號(hào)公報(bào)
專利文獻(xiàn)3:日本特開(kāi)2009-211209號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
但是,傳統(tǒng)技術(shù)中,對(duì)用戶數(shù)據(jù),無(wú)法根據(jù)錯(cuò)誤的規(guī)模進(jìn)行變更處理量的適當(dāng)糾錯(cuò)。
因而,本發(fā)明所要解決的問(wèn)題是提供對(duì)用戶數(shù)據(jù)可以根據(jù)錯(cuò)誤的規(guī)模進(jìn)行變更處理量的適當(dāng)糾錯(cuò)的存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置及糾錯(cuò)方法。
根據(jù)本實(shí)施方式的存儲(chǔ)器控制器,是一種控制非易失性存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)器控制器,其特征在于,具備:編碼部,其使用同一生成多項(xiàng)式對(duì)2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)分別進(jìn)行糾錯(cuò)編碼處理,按每個(gè)用戶數(shù)據(jù)生成第1校驗(yàn)位,對(duì)上述2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)和對(duì)應(yīng)的上述第1校驗(yàn)位進(jìn)行糾錯(cuò)編碼處理,從而生成第2校驗(yàn)位;存儲(chǔ)器接口部,其控制上述用戶數(shù)據(jù)、上述第1校驗(yàn)位及上述第2校驗(yàn)位向上述非易失存儲(chǔ)器的寫入及從上述非易失性存儲(chǔ)器的讀出;以及解碼部,其使用從上述非易失性存儲(chǔ)器讀出的上述用戶數(shù)據(jù)、上述第1校驗(yàn)位及上述第2校驗(yàn)位進(jìn)行糾錯(cuò)解碼處理,
其中,上述第1校驗(yàn)位的糾正能力設(shè)為A(A是1以上的整數(shù))比特,上述第2校驗(yàn)位的糾正能力設(shè)為B(B是1以上的整數(shù))比特時(shí),使用上述第1校驗(yàn)位和上述第2校驗(yàn)位的兩方的上述糾錯(cuò)解碼處理,對(duì)上述2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)、對(duì)應(yīng)的上述第1校驗(yàn)位和對(duì)應(yīng)的上述第2校驗(yàn)位,具有至少A+B比特的糾正能力。
根據(jù)其他實(shí)施方式的存儲(chǔ)裝置,其特征在于,具備:非易失性存儲(chǔ)器;編碼部,其使用同一生成多項(xiàng)式對(duì)2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)分別進(jìn)行糾錯(cuò)編碼處理,按用戶數(shù)據(jù)生成第1校驗(yàn)位,對(duì)上述2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)和對(duì)應(yīng)的上述第1校驗(yàn)位進(jìn)行糾錯(cuò)編碼處理,從而生成第2校驗(yàn)位;存儲(chǔ)器接口部,其控制上述用戶數(shù)據(jù)、上述第1校驗(yàn)位及上述第2校驗(yàn)位向上述非易失存儲(chǔ)器的寫入及從上述非易失性存儲(chǔ)器的讀出;以及解碼部,其使用從上述非易失性存儲(chǔ)器讀出的上述用戶數(shù)據(jù)、上述第1校驗(yàn)位及上述第2校驗(yàn)位進(jìn)行糾錯(cuò)解碼處理,
其中,上述第1校驗(yàn)位的糾正能力設(shè)為A(A是1以上的整數(shù))比特,上述第2校驗(yàn)位的糾正能力設(shè)為B(B是1以上的整數(shù))比特時(shí),使用上述第1校驗(yàn)位和上述第2校驗(yàn)位的兩方的上述糾錯(cuò)解碼處理,對(duì)上述2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)、對(duì)應(yīng)的上述第1校驗(yàn)位和對(duì)應(yīng)的上述第2校驗(yàn)位,具有至少A+B比特的糾正能力。
另外,根據(jù)其他實(shí)施方式的糾錯(cuò)方法,是控制非易失性存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)器控制器中的糾錯(cuò)方法,其特征在于,包含:使用同一生成多項(xiàng)式對(duì)2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)分別進(jìn)行糾錯(cuò)編碼處理,按每個(gè)用戶數(shù)據(jù)生成第1校驗(yàn)位的步驟;對(duì)上述2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)和對(duì)應(yīng)的上述第1校驗(yàn)位進(jìn)行糾錯(cuò)編碼處理,從而生成第2校驗(yàn)位的步驟;將上述用戶數(shù)據(jù)、上述第1校驗(yàn)位及上述第2校驗(yàn)位寫入上述非易失性存儲(chǔ)器的步驟;從上述非易失性存儲(chǔ)器讀出上述用戶數(shù)據(jù)、上述第1校驗(yàn)位及上述第2校驗(yàn)位的步驟;以及使用從上述非易失性存儲(chǔ)器讀出的上述用戶數(shù)據(jù)、上述第1校驗(yàn)位及上述第2校驗(yàn)位進(jìn)行糾錯(cuò)解碼處理的步驟,
其中,上述第1校驗(yàn)位的糾正能力設(shè)為A(A是1以上的整數(shù))比特,上述第2校驗(yàn)位的糾正能力設(shè)為B(B是1以上的整數(shù))比特時(shí),采用上述第1校驗(yàn)位和上述第2校驗(yàn)位的兩方的上述糾錯(cuò)解碼處理,對(duì)上述2個(gè)以上的用戶數(shù)據(jù)、對(duì)應(yīng)的上述第1校驗(yàn)位和對(duì)應(yīng)的上述第2校驗(yàn)位,具有至少A+B比特的糾正能力。
根據(jù)上述構(gòu)成的存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置及糾錯(cuò)方法,對(duì)用戶數(shù)據(jù),可以根據(jù)錯(cuò)誤的規(guī)模,進(jìn)行變更處理量的適當(dāng)糾錯(cuò)。
附圖說(shuō)明
圖1是第1實(shí)施方式的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的構(gòu)成例的方框圖。
圖2是第1實(shí)施方式的編碼運(yùn)算的概念示圖。
圖3是第1實(shí)施方式的解碼運(yùn)算的概念示圖。
圖4是第1實(shí)施方式的編碼運(yùn)算順序的一例流程圖。
圖5是第1實(shí)施方式的解碼運(yùn)算順序的一例流程圖。
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- 專利分類
G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
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