[發明專利]用于根據傳播時間原理測量料位的方法

有效

• 申請號: 201210332654.5
• 申請日: 2012-09-10
• 公開（公告）號: CN102997975A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 斯特凡·格倫弗洛;阿列克謝·馬利諾夫斯基;克勞斯·潘克拉茨
• 申請（專利權）人: 恩德萊斯和豪瑟爾兩合公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 張煥生;謝麗娜

1.一種利用根據測量裝置中傳播時間原理工作的料位測量設備(3)來測量容器(1)中的填充物質的料位(L)的方法，其中，在空容器(1)的情況中，發射到所述容器(1)中的微波信號(T)的至少一部分經由在所述容器(1)的底部上的反射而反射回所述料位測量設備(3)，其中

所述料位測量設備(3)發射微波信號(T)至所述容器(1)中并在依賴于該信號在所述容器(1)中傳播的路徑距離的傳播時間之后把該信號在所述容器(1)中反射到所述料位測量設備(3)的部分作為被接收信號(R)而接收回，

基于所述被接收信號(R)推導出回波函數(E(P))，所述回波函數把所述被接收信號(R)的振幅表達為與該信號的傳播時間或該信號在所述容器中傳播的路徑距離相對應的位置(P)的函數，

基于所述回波函數(E(P))，檢測所述回波函數是否包含歸因于所述填充物質的表面上的反射的料位回波(E_L)以及所述回波函數是否包含歸因于容器底部上的反射的容器底部回波(E_F)，并且

僅在下列情況下指示空容器的存在：在相應的回波函數(E(P))中，未檢測到料位回波(E_L)，并且在相應的回波函數(E(P))中，在容器底部回波位置(PF)處檢測到容器底部回波(E_F)，所述容器底部回波位置位于所述回波函數(E(P))的先前確定的雙側受限的空回波位置范圍(ΔP_empty)中，其中，所述容器底部回波(E_F)在空容器(1)的情況下出現在依賴于所述容器(1)的形狀和所述料位測量設備(3)的安裝位置的空回波位置(P_empty)處。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述空回波位置(P_empty)通過包括下列的步驟來確定：

在所述容器(1)被排空至少一次的時間段內，所述料位測量設備(3)發射微波信號(T)至所述容器(1)中并在依賴于該信號在所述容器(1)中傳播的路徑距離的傳播時間之后把該信號在所述容器(1)中反射到所述料位測量設備(3)的部分作為被接收信號(R)而接收回，

基于所述被接收信號(R)推導出回波函數(E(P))，所述回波函數把所述被接收信號(R)的振幅表達為與該信號的傳播時間或該信號在所述容器中傳播的路徑距離相對應的位置(P)的函數，

基于所述回波函數(E(P))，確定所述回波函數(E(P))中可檢測的所述容器底部回波(E_F)的容器底部回波位置(PF)，并且

當在所述時間段中檢測到至少一個容器底部回波(E_F)時，所述空回波位置(P_empty)被設為等于在所述時間段中確定的所述最小容器底部回波位置(PF)。

3.根據權利要求2所述的方法，其中

預確定包圍空距離位置(P_D)的空距離位置范圍(ΔP_D)，其中，在所述空距離位置中出現的回波既不可識別為料位回波(E_L)，也不可識別為容器底部回波(E_F)，其中，所述空距離位置(D)是對應于到所述料位測量設備(3)的距離的位置，其中在空容器(1)的情況下從所述料位測量設備(3)發射的微波信號(T)首先到達所述容器底部的一部分，

當在所述時間段期間未檢測到容器底部回波(E_F)或者在所述時間段期間出現的所述最小容器底部回波位置(PF)直接與所述空距離位置范圍(ΔP_D)接界時，所述空回波位置范圍(ΔP_empty)被設為等于所述空距離位置范圍(ΔP_D)，

當確定的空回波位置(P_empty)超出所述空距離位置范圍(ΔP_D)的量大于所述料位測量設備(3)的位置確定精度時，所述空回波位置范圍(ΔP_empty)被設為等于空回波位置(P_empty)包圍范圍，該包圍范圍的寬度大于所述位置確定精度且小于所述位置確定精度的個位數倍數，并且，

在后續的定期測量操作中，在所述空回波位置范圍(ΔP_empty)內出現的回波被識別為容器底部回波(E_F)。