[發明專利]一種測量光學器件參數的設備

有效

• 申請號: 201210327009.4
• 申請日: 2012-09-05
• 公開（公告）號: CN102798516A
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 任均宇;劉小青;陳偉欽
• 申請（專利權）人: 廣東威創視訊科技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01J1/00;G01B11/26
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

技術領域

本發明涉及光學器件參數測量領域技術，尤其是涉及一種測量光學器件參數的設備。

背景技術

目前，工作生活中很多設備都會用到發光二極管(LED，Light?EmittingDiode)以及濾光片等光學器件，但在實際應用中，有一些光學器件可能由于質量的問題，會導致該光學器件的光學參數不符合使用要求。當光學器件數量較大的時候，特別是在大批生產的過程中，如果不能盡早地發現存在質量問題的器件，就可能會引起很大的損失。因此需要借助一些測量設備能夠對光學器件的各種參數進行檢驗和測量。

發明人在實現本發明實施例的過程中發現目前現有的很多對光學器件參數測量的設備雖然能準確測量，但價格昂貴，且設備結構比較復雜，另外，對光學器件(如LED發射管)的不同參數進行測量時需要用到不一樣的測量設備分別進行測量，不便于操作。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種測量光學器件參數的設備，結構設計簡單，用于對光學器件的參數進行快速地檢驗和測量。

一種測量光學器件參數的設備，包括：

設置于旋轉裝置7中央的發光二極管LED發射管1、與所述LED發射管1相連的LED驅動模塊2、與所述LED驅動模塊2相連的主控模塊4、設置于旋轉裝置7四周且與主控模塊4相連的線陣攝像頭采集模塊3、通過數據傳輸模塊5與所述主控模塊4相連的數據處理模塊6；

所述主控模塊4用于控制所述旋轉裝置7將線陣攝像頭采集模塊3旋轉至LED發射管1正前方；

所述線陣攝像頭采集模塊3用于對LED發射管1發出的光進行探測并采集圖像數據；

所述LED驅動模塊2用于在所述線陣攝像頭采集模塊3進行探測時，對LED發射管1進行恒流驅動；

所述主控模塊4還用于接收所述線陣攝像頭采集模塊3采集到的圖像數據，通過數據傳輸模塊5傳輸到所述數據處理模塊6；

所述數據處理模塊6用于接收通過所述數據傳輸模塊5傳輸的圖像數據，計算并得到LED發射管1的光強強度、光發射角度和配光曲線。

優選地，所述數據處理模塊6具體用于接收通過所述數據傳輸模塊5傳輸的圖像數據，獲取線陣攝像頭采集模塊3采集到的每個像素的強度值，并記錄其中像素強度值最大的，得到LED發射管1的光強強度；記錄所述最大的光強強度所處的像素位置，并記錄光強強度為所述最大的光強強度大小一半的光強強度所處的像素位置，根據線陣攝像頭采集模塊3與LED發射管1的距離和線陣攝像頭采集模塊3采集到的像素間距，得到LED發射管1的光發射角度；將所述圖像數據轉換為極坐標系數據，得到LED發射管1的配光曲線。

進一步地，所述設備還包括放置于LED發射管1和線陣攝像頭采集模塊3之間的濾光片8；

所述數據處理模塊6還用于在放置所述濾光片8時，獲取到每個像素的強度值，計算出第二光強平均值，根據所述第一光強平均值和第二光強平均值，計算并得到所述濾光片8的透光率，所述第一光強平均值為未放置濾光片8時，根據獲取到的每個像素的強度值計算出來的光強平均值；

更進一步地，所述設備還包括設置于旋轉裝置7四周且與主控模塊4相連的LED接收管9；

所述主控模塊4還用于控制所述旋轉裝置7將所述LED接收管9旋轉至LED發射管1正前方；

所述LED接收管9用于對LED發射管1發出的光進行探測并采集圖像數據；

所述主控模塊4還用于接收所述LED接收管9采集到的圖像數據，通過數據傳輸模塊5傳輸到所述數據處理模塊6；

所述數據處理模塊6用于接收通過所述數據傳輸模塊5傳輸的圖像數據，計算并得到LED接收管9的光靈敏度。

優選地，所述設備還包括與所述主控模塊4相連的測量模式選擇模塊10，用于根據需要測量的光學參數進行測量模式的選擇。

優選地，所述旋轉裝置7呈圓形轉盤設置，與所述主控模塊4相連，用于安裝固定線陣攝像頭采集模塊3，并通過LED夾具11固定LED發射管1和LED接收管9；根據主控模塊4發送的控制命令帶動所述線陣攝像頭采集模塊3和LED接收管9旋轉。

優選地，所述旋轉裝置7通過步進電機驅動旋轉。