[發明專利]一種控制設備和信號采樣方法有效
| 申請號: | 201210322492.7 | 申請日: | 2012-09-03 |
| 公開(公告)號: | CN103677354A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發明(設計)人: | 熊江 | 申請(專利權)人: | 炬力集成電路設計有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 519085 廣東省珠海*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 控制 設備 信號 采樣 方法 | ||
技術領域
本發明涉及信號處理技術領域,尤其是涉及一種控制設備和信號采樣方法。
背景技術
觸摸面板(TP,Touch?Panel)是一種外設裝置,可以安裝在顯示設備的表面上。例如安裝在液晶顯示面板、電發光顯示設備或者陰極射線管顯示設備的表面。其中,帶有觸摸面板的液晶顯示設備包括至少一個液晶顯示面板,安裝在液晶顯示面板上的觸摸面板以及通過排線等連接方式和觸摸面板連接的觸摸面板控制器。具體地,液晶顯示面板用于顯示圖像等相關信息,觸摸面板控制器用于接收通過碰觸觸摸面板而產生的模擬信號。
在包含觸摸面板的顯示設備中,如圖1所示,安裝在液晶顯示設備表面、并與液晶顯示設備緊密貼合的TP是一個較大的平面導體,在電路中,等效為TP和液晶顯示設備中間存在一個較大的耦合電容Ccoup,電容Ccoup在高頻情況下等效為短路,在帶有觸摸面板的液晶顯示設備正常工作條件下,液晶顯示設備的共模電壓會周期性地翻轉,從而對觸摸面板TP的輸出信號產生較大的干擾,如圖2所示,液晶顯示設備的反轉信號VCOM的上升沿和下降沿會通過耦合電容干擾到TP在X和/或Y方向采集的位置電壓值,使得TP采集到的模擬信號準確性較低?,F有技術中一般采用下述方法來消除液晶顯示設備對TP造成的干擾:
如圖3所示,增加一條物理信號連接線,通過該物理信號連接線采集電壓信號Mpol,即將液晶顯示器(LCD,Liquid?Crystal?Display)產生的反轉信號VCOM引入到CPU中,CPU在采集到反轉信號VCOM的上升沿或者下降沿之后,控制觸摸控制器進入待機模式,經過一段預先設定的時間t,如圖4所示,再由CPU控制觸摸控制器由待機模式轉換為工作模式,即啟動進行采集模擬信號及模數(AD)轉換工作,從而避免了觸摸控制器在采集模擬信號時被LCD產生的反轉信號干擾,采集到的模擬信號準確性較低的問題。
現有技術中提出的信號采樣方法,需要額外增加物理引線將液晶顯示面板產生的反轉信號VCOM引到CPU中,所以硬件復雜度較高,并且由于增加了物理引線,使得液晶顯示面板必須與液晶觸摸面板配套使用,所以不利于液晶顯示面板和液晶觸摸面板之間的模組組裝。
發明內容
本發明實施例提供了一種控制設備和信號采樣方法,能夠較好地降低帶有觸摸面板的液晶顯示面板的硬件復雜度,并且便于液晶顯示面板和液晶觸摸面板之間的模組組裝。
一種控制設備,用于外接顯示設備,包括觸摸面板,與所述觸摸面板連接的觸摸控制器,該控制設備還包括:信號采樣裝置,用于確定觸摸控制器采樣得到的原始信號中出現干擾沿的第一時間點,其中,所述干擾沿是由顯示設備正常工作時產生的反轉信號的上升沿或下降沿引起的對原始信號造成干擾的干擾突變信號;以及根據確定出的第一時間點,控制觸摸控制器在預設第一時長內不進行信號采樣;其中,所述信號采樣裝置與觸摸控制器信號輸入端連接。
一種信號采樣方法,包括:確定觸摸控制器采樣得到的原始信號中出現干擾沿的第一時間點,其中,所述干擾沿是由液晶顯示面板正常工作時產生的反轉信號的上升沿或下降沿引起的對原始信號造成干擾的干擾突變信號;根據確定出的第一時間點,控制觸摸控制器在預設第一時長內不進行信號采樣。
采用上述技術方案,不需要增加額外的物理連接線,通過確定觸摸控制器采樣得到的原始信號中出現干擾沿的第一時間點,根據確定出的第一時間點,控制觸摸控制器在預設第一時長內不進行信號采樣。從而可以較好地降低帶有觸摸面板的液晶顯示面板的硬件復雜度,并且便于液晶顯示面板和液晶觸摸面板之間的模組組裝。
附圖說明
圖1為現有技術中,提出的觸摸面板與液晶顯示面板空間耦合位置示意圖;
圖2為現有技術中,提出的液晶顯示面板通過空間耦合干擾觸摸面板采集電壓的示意圖;
圖3為現有技術中,解決液晶顯示面板干擾原理示意圖;
圖4為現有技術中,解決液晶顯示面板干擾時序控制示意圖;
圖5a為本發明實施例一中,提出的帶有獨立信號采樣裝置的控制設備結構組成框圖;
圖5b為本發明實施例一中,提出的帶有集成信號采樣裝置的控制設備結構組成框圖;
圖6a為本發明實施例一中,信號采樣裝置基本時序控制圖;
圖6b為本發明實施例一中,信號采樣裝置結構圖;
圖7為本發明實施例二中,被干擾的采樣信號波形圖;
圖8為本發明實施例二中,信號采樣方法流程圖;
圖9為本發明實施例二中,干擾沿檢測電路原理圖。
具體實施方式
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