[發明專利]一種應用于薄層色譜掃描儀的圖像補償方法及控制系統

有效

• 申請號: 201210320478.3
• 申請日: 2012-09-03
• 公開（公告）號: CN102866228A
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發明（設計）人: 吳濤;楊代華;李勇波;甘明;何王勇
• 申請（專利權）人: 中國地質大學(武漢)
• 主分類號: G01N30/90
• 分類號: G01N30/90
• 代理公司: 武漢華旭知識產權事務所 42214
• 代理人: 周宗貴;劉榮

1.一種應用于薄層色譜掃描儀的圖像補償方法，其特征在于包括以下步驟：

（1）、掃描儀上的監測光電倍增管記錄掃描儀上的光源對目標物掃描時的光強數據矩陣C_ij，記做：

c11,c12...c1(n-1),c1nc21,c22...c2(n-1),c2n...cm1,cm2...cm(n-1),cmn]]>

其中m為掃描行數，n為掃描列線數，c_ij為任一掃描點光強數據；

（2）、根據光強數據矩陣C_ij計算光強平均強度M；

（3）、利用光強數據矩陣C_ij和光強平均強度M計算光強分布矩陣Q_ij，記做：

q11,q12...,q1(n-1),q1nq21,q22...,q2(n-1),q2n...qm1,qm2...,qm(n-1),qmn]]>

其中m為掃描行數，n為掃描列線數，q_ij為任一掃描點光強分布數據，且q_ij=c_ij/M;

（4）、掃描儀上的測定光電倍增管記錄光源對目標物掃描時的反射光數據矩陣H_ij，記做：

h11,h12...h1(n-1),h1nh21,h22...h2(n-1),h2n...hm1,hm2...hm(n-1),hmn]]>

其中m為掃描行數，n為掃描列線數，h_ij為測定光電倍增管檢測任一點的數據；

（5）、利用光強分布矩陣Q_ij對反射光數據矩陣H_ij進行修正處理，以抵消光強發生變化對測定光電倍增管檢測數據的影響，修正后得到反射光數據修正矩陣H′，記做：

h11′,h12′...h1(n-1)′,h1n′h21′,h22′...h2(n-1)′,h2n′...hm1′,hm2′...hm(n-1)′,hmn′]]>

其中m為掃描行數，n為掃描列線數，h′_ij為修正后的反射光檢測數據，且h′_ij=h_ij/q_ij；

（6）、根據反射光數據修正矩陣H′與光強平均強度M，即可分析獲得掃描數據。