[發明專利]一種多模式離子化方法

有效

• 申請號: 201210318273.1
• 申請日: 2012-09-02
• 公開（公告）號: CN102800554A
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 王利兵;丁利;清江;于艷軍;胥傳來;侯堯
• 申請（專利權）人: 王利兵
• 主分類號: H01J49/16
• 分類號: H01J49/16;H01J49/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明屬于質譜離子化技術領域，具體涉及一種電子轟擊電離耦合電噴霧電離的多模式離子化方法。

背景技術

在質譜儀中，有機化合物以及生物分子的離子化是制約質譜儀靈敏度的關鍵因素。自質譜儀誕生以來，人們就化合物的離子化技術展開了不斷的研究。目前，應用于質譜儀中的離子化技術主要有四大類（表1），這四種類型的電離技術能夠將自然界存在的幾乎所有氣態、液態和固態的分子進行電離。其中，電子轟擊電離（EI）技術與電噴霧電離（ESI）技術是最為常用的兩種化合物離子化技術。

表1?有機質譜分析中常用的化合物電離技術

電離源離子化試劑/介質適用對象優點缺點主要應用形式電子電離電子氣態樣品碎片信息豐富，便于了解化合物的結構無法得到某些化合物的分子離子，對熱不穩定化合物不適用電子轟擊電離源（EI源）化學電離氣體離子氣態樣品結構信息豐富，靈敏度高不適于對熱不穩定化合物化學電離源（CI源），大氣壓電離源（API），大氣壓化學電離源（APCI源）解吸電離光子、高能粒子固態樣品/液態樣品適用于熱不穩定與難汽化的化合物，且有豐富的分子離子峰碎片離子少，靈敏度較低基質輔助激光解吸電離源（MALDI），等離子體解吸電離源（PDI），大氣壓光電離源（APPI），場解吸電離源（FDI），快原子轟擊電離源（FAB）噴霧電離高能電場液態樣品適用于熱不穩定與難汽化的化合物碎片離子較少電噴霧電離源（ESI）,電噴霧萃取電離源（EESI）