[發(fā)明專利]溝槽式柵極金氧半場效晶體管有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210317182.6 | 申請日: | 2012-08-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103545368B | 公開(公告)日: | 2016-10-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 詹前陵;李祈祥 | 申請(專利權(quán))人: | 力祥半導(dǎo)體股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/78 | 分類號(hào): | H01L29/78;H01L29/423 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
| 地址: | 中國臺(tái)灣新竹縣*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 溝槽 柵極 半場 晶體管 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種半導(dǎo)體元件,且特別是有關(guān)于一種溝槽式柵極金氧半場效晶體管。
背景技術(shù)
溝槽式金氧半導(dǎo)體場效晶體管被廣泛地應(yīng)用在電力開關(guān)(power?switch)元件上,例如是電源、整流器或低壓馬達(dá)控制器等等。一般而言,溝槽式金氧半導(dǎo)體場效晶體管多采取垂直結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì),以提升元件密度。其利用晶片的背面作為漏極,而在晶片的正面制作多個(gè)晶體管的源極以及柵極。由于多個(gè)晶體管的漏極是并聯(lián)在一起的,因此其所承受的電流大小可以相當(dāng)大。
溝槽式金氧半導(dǎo)體場效晶體管的工作損失可分成切換損失(switching?loss)及導(dǎo)通損失(conducting?loss)兩大類,其中因輸入電容Ciss所造成的切換損失會(huì)因操作頻率的提高而增加。輸入電容Ciss包括柵極對源極的電容Cgs以及柵極對漏極的電容Cgd。
現(xiàn)有技術(shù)的一種作法是在溝槽內(nèi)形成柵極與遮蔽柵極(shielded?gate)。遮蔽柵極位于柵極下方,絕緣層將柵極與遮蔽柵極相隔開,且遮蔽柵極連接至源極。此種作法雖然可以減少柵極對漏極的電容Cgd,但另一方面卻會(huì)增加?xùn)艠O對源極的電容Cgs,因而無法有效地降低切換損失。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種溝槽式柵極金氧半場效晶體管,可以同時(shí)減少柵極對漏極的電容Cgd及柵極對源極的電容Cgs,以有效地降低切換損失,提升元件效能。
本發(fā)明提供一種溝槽式柵極金氧半場效晶體管。具有第一導(dǎo)電型的磊晶層配置在具有第一導(dǎo)電型的基底上。具有第二導(dǎo)電型的主體層配置在磊晶層中。磊晶層中具有第一溝槽,主體層中具有第二溝槽,且第一溝槽配置在第二溝槽下方。第一導(dǎo)體層配置在第一溝槽中。第一絕緣層配置在第一導(dǎo)體層與磊晶層之間。第二導(dǎo)體層配置在第二溝槽的側(cè)壁上。第二絕緣層配置在第二導(dǎo)體層與主體層之間以及第二導(dǎo)體層與第一導(dǎo)體層之間。介電層配置在磊晶層上并填滿第二溝槽。具有第一導(dǎo)電型的二摻雜區(qū)分別配置在第二溝槽的兩側(cè)的主體層中。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第二絕緣層的厚度小于第一絕緣層的厚度。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第二絕緣層覆蓋第一導(dǎo)體層的頂部。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第一導(dǎo)體層還延伸至第二溝槽中。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第一導(dǎo)體層的材料包括摻雜多晶硅。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第二導(dǎo)體層的材料包括摻雜多晶硅。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述溝槽式柵極金氧半場效晶體管還包括第三導(dǎo)體層,其配置在介電層上,其中第三導(dǎo)體層通過二導(dǎo)體插塞與主體層電性連接。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第三導(dǎo)體層的材料包括金屬。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第一導(dǎo)電型為N型,第二導(dǎo)電型為P型;或第一導(dǎo)電型為P型,第二導(dǎo)電型為N型。
本發(fā)明另提供一種溝槽式柵極金氧半場效晶體管。具有第一導(dǎo)電型的磊晶層配置在第一導(dǎo)電型的基底上。具有第二導(dǎo)電型的主體層配置在磊晶層中。磊晶層中具有第一溝槽,主體層中具有第二溝槽,且第一溝槽配置在第二溝槽下方。第一導(dǎo)體層配置在第一溝槽中。第一絕緣層配置在第一導(dǎo)體層與磊晶層之間。第二絕緣層配置在第二溝槽中并覆蓋第一導(dǎo)體層。第二導(dǎo)體層配置在第二溝槽中并覆蓋第二絕緣層。第三絕緣層配置在第二導(dǎo)體層與主體層之間。介電層配置在磊晶層上并覆蓋第二導(dǎo)體層。具有第一導(dǎo)電型的二摻雜區(qū)分別配置在第二溝槽的兩側(cè)的主體層中。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第三絕緣層的厚度小于第一絕緣層的厚度。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第二絕緣層的寬度大于第一導(dǎo)體層的寬度。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第一導(dǎo)體層的材料包括摻雜多晶硅。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第二導(dǎo)體層的材料包括摻雜多晶硅。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述溝槽式柵極金氧半場效晶體管還包括第三導(dǎo)體層,其配置在介電層上,其中第三導(dǎo)體層通過兩個(gè)導(dǎo)體插塞與主體層電性連接。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第三導(dǎo)體層的材料包括金屬。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中,上述第一導(dǎo)電型為N型,第二導(dǎo)電型為P型;或第一導(dǎo)電型為P型,第二導(dǎo)電型為N型。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于力祥半導(dǎo)體股份有限公司,未經(jīng)力祥半導(dǎo)體股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210317182.6/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





