[發(fā)明專利]基于電流突變的智能卡讀寫器斷電測試捕獲方法及讀寫器

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210314741.8
• 申請日: 2012-08-30
• 公開（公告）號: CN102866312A
• 公開（公告）日: 2013-01-09
• 發(fā)明（設計）人: 曾華新;黃小鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 東信和平科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G06K17/00
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202
• 代理人: 溫旭

【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明屬于智能卡測試技術(shù)和智能卡讀寫器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于電流突變的智能卡讀寫器斷電測試捕獲方法。

【背景技術(shù)】

當前的智能卡斷電測試讀寫器，都是通過設置斷電周期來捕獲智能卡擦寫FLASH或EERPOM的瞬間，通常需要用戶預先估計被測智能卡的FLASH或EEPROM的擦寫時間，及指令執(zhí)行時間，然后設置相應的斷電范圍，估計值會有一定偏差，用戶給定的捕獲范圍通常較大，導致斷電測試非常慢，要完成斷電測試有時需要一兩天，效率很低，尤其在FLASH或EEPROM擦寫時間較短的測試中，要捕獲到擦寫瞬間是很困難的，非常耗時的，使斷電測試速度非常慢，測試效率極低。

【發(fā)明內(nèi)容】

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種及時、準確、輕易捕獲擦寫瞬間，測試速度快、效率高的基于電流突變的智能卡讀寫器斷電測試捕獲方法及讀寫器。

本發(fā)明解決現(xiàn)有技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為：

一種基于電流突變的智能卡讀寫器斷電測試捕獲方法，包括有首先設定指定指令表并輸入至讀寫器，然后接收操作指令并與指定指令表上的指定指令進行對比、判斷，接著讀寫器將屬于指定指令的操作指令發(fā)送給智能卡，同時在發(fā)送操作指令的部分字節(jié)后開始對智能卡的電流進行監(jiān)測，判斷是否發(fā)生突增且突增量是否達到設定值，最后根據(jù)監(jiān)測、判斷結(jié)果切斷智能卡電源并停止監(jiān)測，完成斷電測試。

進一步地，所述讀寫器向智能卡發(fā)送該操作指令，接著讀寫器將屬于指定指令的操作指令發(fā)送給智能卡，同時在發(fā)送操作指令的部分字節(jié)后開始對智能卡的電流進行監(jiān)測，判斷是否發(fā)生突增且突增量是否達到設定值，具體為：所述讀寫器先發(fā)送該操作指令的一部分字節(jié)到智能卡上，然后啟動電流監(jiān)控模塊對智能卡的Vcc引腳上的電流進行監(jiān)測，接著再把該操作指令的剩余部分字節(jié)發(fā)到智能卡上，最后電流監(jiān)控模塊監(jiān)測智能卡執(zhí)行指定指令時繼續(xù)對Vcc引腳上的電流進行監(jiān)測，判斷電流是否發(fā)生突增且突增量是否達到設定值。

進一步地，本斷電測試捕獲方法，包括有以下步驟：

a.設定指定指令表并輸入讀寫器；

b.讀寫器對插入其內(nèi)的智能卡進行復位；

c.讀寫器接收從PC機發(fā)送過來的智能卡操作指令；

d.讀寫器將接收到的操作指令與指定指令表上的指定指令進行對比、判斷是否屬于指定指令；

e.讀寫器先將屬于指定指令的操作指令的前4個字節(jié)發(fā)送到智能卡；

f.讀寫器啟動電流監(jiān)控模塊對智能卡的Vcc引腳進行監(jiān)測；

g.?讀寫器將該操作指令剩余字節(jié)全部發(fā)送至智能卡；

h.讀寫器對電流監(jiān)控模塊的監(jiān)測結(jié)果是否發(fā)生突增且突增量是否達到設定值進行判定；

i.讀寫器根據(jù)判定結(jié)果切斷智能卡電源或者重新接受操作指令；

j.讀寫器切斷智能卡電源后關(guān)閉電流監(jiān)控模塊。

進一步地，所述智能卡的電流突增量的設定值為2mA或3mA。

一種智能卡讀寫器，包括有智能卡讀寫控制模塊，還包括有一與智能卡的Vcc引腳連接并用于監(jiān)測其電流的電流監(jiān)控模塊、一用于監(jiān)控操作指令的接收和指定指令的發(fā)送的指令監(jiān)控模塊，所述電流監(jiān)控模塊和指令監(jiān)控模塊均與所述智能卡讀寫控制模塊導通連接。

本發(fā)明的有益效果如下：

本發(fā)明通過上述技術(shù)方案，讀寫器即可監(jiān)控在執(zhí)行指定指令時的智能卡VCC上的電流突變（突增），在此極短的時間內(nèi)及時、準確、輕易地捕獲智能卡FLASH或EEPROM擦寫的瞬間，實現(xiàn)對智能卡的斷電測試，大大地提高了對智能卡的斷電測試速度，測試效率非常高。

【附圖說明】

圖1是本發(fā)明所述基于電流突變的智能卡讀寫器斷電測試捕獲方法實施例的流程示意圖；

圖2是本發(fā)明所述讀寫器實施例的結(jié)構(gòu)原理示意框圖。

【具體實施方式】

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。