[發明專利]一種離子束流自動測量系統及測量方法有效
| 申請號: | 201210313386.2 | 申請日: | 2012-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN102819033A | 公開(公告)日: | 2012-12-12 |
| 發明(設計)人: | 陳學勇;宋逢泉;祝慶軍;廖燕飛;宋鋼 | 申請(專利權)人: | 中國科學院合肥物質科學研究院 |
| 主分類號: | G01T1/29 | 分類號: | G01T1/29 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人: | 成金玉 |
| 地址: | 230031 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 離子束 自動 測量 系統 測量方法 | ||
1.一種離子束流自動測量系統,其特征在于包括:離子源系統(1)、接口法蘭(2)、真空室(3)、束流強度測量探頭(4)、發射度測量探頭(5)、能散度測量探頭(6)、單原子離子比測量探頭(7)、束流截止裝置(8)、第一步進電機驅動裝置(9)、第二步進電機驅動裝置(16)、第一步進電機(10)、第二步進電機(12)、第三步進電機(17)、第四步進電機(21)、第一掃描電場電源(14)、第二掃描電場電源(19)、掃描磁場電源(23)、第一A/D卡(11)、第二A/D卡(15)、第三A/D卡(20)、第四A/D卡(24)、第五A/D卡(25)、第一D/A卡(13)、第二D/A卡(18)、第三D/A卡(22)和計算機(26);離子束流從離子源系統(1)引出后,由連接真空室(3)的接口法蘭(2)進入真空室(3),真空室(3)中在束流線的兩側安裝了束流強度測量探頭(4)、發射度測量探頭(5)、能散度測量探頭(6)和單原子離子比測量探頭(7),在真空室(3)中分別單獨完成對離子束流的束流強度、發射度、能散度、單原子離子比的自動測量;計算機(26)通過第一步進電機驅動裝置(9)和第一步進電機(10)控制束流強度測量探頭(4)進入和撤離束流線,束流強度測量探頭(4)得到的電流信號通過第一A/D卡(11)轉換成數字信號傳輸到計算機(26)中,計算機(26)對此信號進行濾波與成形處理并予以顯示;計算機(26)通過第一步進電機驅動裝置(9)和第二步進電機(12)控制發射度測量探頭(5)進入和撤離束流線,計算機(26)發出的數字指令由第一D/A卡(13)轉換成模擬信號后,控制第一掃描電場電源(14)對發射度測量探頭(5)中掃描電場的電壓進行掃描,發射度測量探頭(5)得到的電流信號、束流位置信號和第一掃描電場電源(14)得到的電壓信號通過第二A/D卡(15)轉換成數字信號輸入到計算機(26),計算機(26)進行發射度計算,并將計算結果予以顯示;計算機(26)通過第二步進電機驅動裝置(16)和第三步進電機(17)控制能散度測量探頭(6)進入和撤離束流線,計算機(26)發出的數字指令由第二D/A卡(18)轉換成模擬信號后,控制第二掃描電場電源(19)對能散度測量探頭(6)中掃描電場的電壓進行掃描,能散度測量探頭(6)的電流信號以及第二掃描電場電源(19)輸出的電壓信號通過第三A/D卡(20)轉換成數字信號后傳輸到計算機(26),計算機(26)進行能散度計算,并將計算結果予以顯示;計算機(26)通過第二步進電機驅動裝置(16)和第四步進電機(21)控制單原子離子比測量探頭(7)進入和撤離束流線,計算機(26)發出的數字指令由第三D/A卡(22)轉換成模擬信號后,控制掃描磁場電源(23)對單原子離子比測量探頭(7)中磁場的場強進行掃描,單原子離子比測量探頭(7)得到的電流信號以及掃描磁場電源(23)輸出的電壓信號通過第四A/D卡(24)轉換成數字信號傳輸到計算機(26),計算機(26)計算單原子離子比,并將計算結果予以顯示;束流截止裝置(8)中的電流信號經第A/D卡(25)轉換成數字信號傳輸到計算機(26)中,計算機(26)對此信號進行濾波與成形處理并予以顯示,由顯示的波形的穩定性判斷束流是否達到穩定狀態。
2.根據權利要求1所述的一種離子束流自動測量系統,其特征在于:所述離子束流的能量應低于200keV,離子束流強度低于180mA。
3.根據權利要求1所述的一種離子束流自動測量系統,其特征在于:所述的束流強度測量探頭(4)為一個法拉第筒,其結構包括第一極板(29)、第二極板(30)、圓孔(28)、筒體(31)、進水口(32)、冷卻水流動槽(33)、出水口(34);圓孔(28)開在第一極板(29)和第二極板(30)上,第一極板(29)位于第二極板(30)前,筒體(31)位于第二極板(30)后,冷卻水流動槽(33)纏繞分布在筒體(31)外側,進水口(32)位于筒體(31)前端,出水口(34)位于筒體(31)后端。
4.根據權利要求1所述的一種離子束流自動測量系統,其特征在于:所述發射度測量探頭(5)包括:第一入射縫(37)、第一出射縫(40)、第一上極板(38)、第一下極板(39)、第二法拉第筒(41);第一上極板(38)和第一下極板(39)平行放置,位于第一入射縫(37)和第一出射縫(40)之間,第一入射縫(37)和第一出射縫(40)的開口方向平行于第一上極板(38)和第一下極板(39),第二法拉第筒(41)位于第一出射縫(40)之后。
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