[發明專利]中小尺寸高精度編碼器的精度校核方法及裝置

有效

• 申請號: 201210313096.8
• 申請日: 2012-08-30
• 公開（公告）號: CN103630161A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 于正林;于博;丁紅昌;曹國華;姜濤
• 申請（專利權）人: 長春理工大學
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.中小尺寸高精度編碼器的精度校核方法及裝置，其特征在于，采用激光雙頻干涉原理及多齒分度盤技術，對被檢測編碼器的精度直接進行校核。

2.根據權利要求1所述的中小尺寸高精度編碼器的精度校核方法及裝置，其特征在于，被檢測編碼器(10)通過一套簡單的傳動機構將運動傳遞給裝載多齒分度盤(4)的分度器(1)上，待被檢測編碼器(10)轉動結束后，多齒分度盤(4)會以相反的方向轉動被檢測編碼器(10)輸出的轉角值，之后通過對分度器(1)上表面的反射鏡位置進行激光標定，可以得到被檢測編碼器(10)的轉動誤差。

3.根據權利要求2所述的中小尺寸高精度編碼器的精度校核方法及裝置，其特征在于，被檢測編碼器(10)通過止推軸承(9)、鎖緊軸套(2)、托臺(1)、緊固螺栓(5)，將運動傳遞給裝載多齒分度盤(4)的分度器(1)上，并通過對對中螺栓(6)的調整，可以使分度器(1)與被檢測編碼器(10)二者保持同軸。