[發明專利]集成電路

有效

• 申請號: 201210310297.2
• 申請日: 2012-08-22
• 公開（公告）號: CN102957384A
• 公開（公告）日: 2013-03-06
• 發明（設計）人: M·貝爾庫特;L·L·A·H·多佩爾
• 申請（專利權）人: NXP股份有限公司
• 主分類號: H03F3/217
• 分類號: H03F3/217;G01R31/317
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華

1.一種包括D類放大器的集成電路，所述D類放大器用于放大在輸入端子處的輸入信號，所述D類放大器在操作模式與測試模式之間可切換，在所述操作模式中，比較器(4)直接耦合到輸出級(5)，在所述測試模式中，所述比較器(4)經由采樣器(15)耦合到所述輸出級(5)并且所述輸出級(5)經由反饋網絡耦合到所述輸入端子，借此所述輸入信號的數字表示在所述采樣器(15)的輸出處可用。

2.根據權利要求1所述的集成電路，其中所述輸出級(5)耦合到輸出端子。

3.根據權利要求1或者2所述的集成電路，還包括：輸入數模轉換器DAC(1)，其具有耦合到所述輸入端子的輸出。

4.根據權利要求3所述的集成電路，其中所述采樣器(15)的所述輸出耦合到所述輸入DAC(1)的輸入，并且所述輸出級(5)經由開關(17)耦合到接地端子。

5.根據權利要求4所述的集成電路，其中所述采樣器(15)的所述輸出經由緩沖器耦合到所述輸入DAC(1)的輸入。

6.根據權利要求5所述的集成電路，其中所述緩沖器是反相緩沖器(16)。

7.根據任一前述權利要求所述的集成電路，還包括在所述輸入端子與所述比較器(4)之間的低通濾波器。

8.根據權利要求7所述的集成電路，其中所述低通濾波器是二階低通濾波器。

9.根據任一前述權利要求所述的集成電路，其中所述反饋網絡是從所述輸出級(5)耦合到所述輸入端子的電阻器(6)。

10.根據任一前述權利要求所述的集成電路，其中所述采樣器(15)由在過采樣頻率運行的時鐘驅動。

11.根據任一前述權利要求所述的集成電路，還包括：數字信號處理器DSP，用于接收在所述采樣器(15)的所述輸出處的所述數字表示并且根據預定測試協議分析所接收的數字表示。

12.一種測試根據任一前述權利要求所述的集成電路的方法，所述方法包括：將所述集成電路切換到所述測試模式；將測試信號耦合到所述輸入端子；接收在所述采樣器(15)的所述輸出處的所述數字表示；以及根據預定測試協議分析所述輸出信號。

13.根據權利要求12所述的測試集成電路的方法，其中所述預定測試協議包括分析信噪比SNR、總諧波失真THD和電源抑制PSR。

14.根據權利要求12或者13所述的測試集成電路的方法，其中根據所述預定測試協議分析所述輸出信號由集成于所述集成電路上的DSP執行。