[發(fā)明專利]半導體集成電路器件

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210309382.7
• 申請日: 2012-08-28
• 公開（公告）號: CN102969015A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 池端菜月;田中一雄;戶羽健夫;荒川政司
• 申請（專利權(quán)）人: 瑞薩電子株式會社
• 主分類號: G11C7/10
• 分類號: G11C7/10;G11C11/4096;G11C7/06
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務(wù)所 11038
• 代理人: 高科

1.一種半導體集成電路器件，具有：

外部連接端子，用于接收來自外部的輸入信號；以及

與所述外部連接端子連接的差分放大電路；

其中，所述差分放大電路包括：接收來自所述外部端子的輸入信號的第1差分輸入部、接收基準電壓的第2差分輸入部、以及接收所述第1差分輸入部的電流和所述第2差分輸入部的電流的尾電流源，且所述差分放大電路檢測所述第1差分輸入部側(cè)的電流并反饋到所述尾電流源，以控制流經(jīng)所述尾電流源的尾電流。

2.如權(quán)利要求1所述的半導體集成電路器件，其特征在于，

通過電阻將所述第1差分輸入部側(cè)的電流轉(zhuǎn)換為電壓并反饋到所述尾電流源。

3.如權(quán)利要求1所述的半導體集成電路器件，其特征在于，

具有：

第1晶體管及第2晶體管，分別構(gòu)成所述第1差分輸入部及所述第2差分輸入部；

第3晶體管，用作所述第1晶體管及所述第2晶體管的尾電流源；以及

電流檢測部，用于檢測流經(jīng)所述第1晶體管的電流；

其中，所述第3晶體管根據(jù)所述電流檢測部檢測到的電流來控制所述尾電流源中的尾電流的電流量。

4.如權(quán)利要求3所述的半導體集成電路器件，其特征在于，

所述電流檢測部包括用于將流經(jīng)所述第1晶體管的電流轉(zhuǎn)換為電壓的電阻，而且，所述第3晶體管根據(jù)所述電阻所轉(zhuǎn)換的電壓來控制所述尾電流源中的尾電流的電流量。

5.如權(quán)利要求3或4所述的半導體集成電路器件，其特征在于，

還具有第4晶體管，所述第4晶體管連接于所述第3晶體管和施加了電源電壓的電源線之間，且向柵極輸入允許所述差分放大電路運行的允許運行信號，

其中，所述第4晶體管在所述允許運行信號有效時為導通狀態(tài)，且使所述差分放大電路運行。

6.如權(quán)利要求1至5中任一項所述的半導體集成電路器件，其特征在于，

還具有延遲時間調(diào)整電路，分別輸入從所述差分放大電路輸出的輸出信號及所述輸出信號的反轉(zhuǎn)信號，所述延遲時間調(diào)整電路進行調(diào)整以使得所述輸出信號和所述反轉(zhuǎn)信號的延遲差大致消失，并輸出所述輸出信號和所述反轉(zhuǎn)信號。

7.一種半導體集成電路器件，其特征在于，

具有：

第1外部連接端子，用于接收差分信號中的第1信號；

第2外部連接端子，用于接收所述差分信號中的所述第1信號的反轉(zhuǎn)信號即第2信號；

第1差分放大電路，具有第1差分輸入部和第2差分輸入部，所述第1差分輸入部接收來自所述第1外部連接端子的所述第1信號，所述第2差分輸入部接收基準電壓，且所述第1差分放大電路進行所述第1信號與所述基準電壓的差分放大；以及

第2差分放大電路，具有第3差分輸入部和第4差分輸入部，所述第3差分輸入部接收來自所述第2外部連接端子的所述第2信號，所述第4差分輸入部接收所述基準電壓，且所述第2差分放大電路進行所述第2信號與所述基準電壓的差分放大。

8.如權(quán)利要求7所述的半導體集成電路器件，其特征在于，

所述第1差分放大電路檢測所述第1差分輸入部側(cè)的電流并反饋到所述第1差分放大電路的第1尾電流源，控制所述第1尾電流源中的尾電流，所述第2差分放大電路檢測所述第3差分輸入部側(cè)的電流并反饋到所述第2差分放大電路的第2尾電流源，控制所述第2尾電流源中的尾電流。

9.如權(quán)利要求8所述的半導體集成電路器件，其特征在于，

所述第1差分放大電路通過電阻將所述第1差分輸入部側(cè)的電流轉(zhuǎn)換為電壓并反饋到所述第1尾電流源，所述第2差分放大電路通過電阻將所述第3差分輸入部中產(chǎn)生的電流轉(zhuǎn)換為電壓并反饋到所述第2尾電流源。