[發明專利]硅基上的近紅外量子點電致發光的器件及制備方法有效
| 申請號: | 201210308854.7 | 申請日: | 2012-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN102820391A | 公開(公告)日: | 2012-12-12 |
| 發明(設計)人: | 許興勝;李成果 | 申請(專利權)人: | 中國科學院半導體研究所 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/20 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 湯保平 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 硅基上 紅外 量子 電致發光 器件 制備 方法 | ||
1.一種硅基上的近紅外量子點電致發光的器件,包括:
一襯底;
一氧化層,該氧化層制作在襯底上,該氧化層為二氧化硅薄膜,其通過分擔電壓,平衡電子和空穴的注入;
一發光層,該發光層制作在氧化層上,該發光層為近紅外發光的膠體量子點;
一電子傳輸層,該電子傳輸層制作在發光層上,該電子傳輸層可以傳輸電子,提高電子載流子注入效率;
一金屬電極,該金屬電極制作在電子傳輸層上,該金屬電極用于向發光層注入電子;
其中所述襯底、氧化層、發光層、電子傳輸層和金屬電極為平板波導結構或為脊形波導結構,所述脊形波導結構的襯底為凸字形,中間有一凸臺,所述氧化層、發光層、電子傳輸層和金屬電極均制作在襯底的凸臺上。
2.根據權利要求1所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件,其中襯底的材料為重摻雜的p型或n型完全硅材料,或者為重摻雜的p型或n型SOI材料,重摻雜的硅電阻率小于25Ω·cm。
3.根據權利要求1所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件,其中氧化層的厚度為1-5nm的二氧化硅薄膜。
4.根據權利要求1所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件,其中發光層為發光波長是1100-1700nm的近紅外波段的膠體量子點材料。
5.根據權利要求1所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件,其中電子傳輸層為n型的寬禁帶半導體薄膜。
6.一種硅基上的近紅外量子點電致發光的器件的制備方法,包括如下步驟:
步驟1:取一襯底;
步驟2:在襯底上制作一氧化層,該氧化層為二氧化硅薄膜,其通過分擔電壓,平衡電子和空穴的注入;
步驟3:在氧化層上制作發光層,該發光層為近紅外發光的膠體量子點;
步驟4:在發光層上制作一電子傳輸層,該電子傳輸層可以傳輸電子,提高電子載流子注入效率。
步驟5:在傳輸層上制作一金屬電極,該金屬電極用于向發光層注入電子。
7.根據權利要求6所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件的制備方法,其中所述襯底、氧化層、發光層、電子傳輸層和金屬電極為平板波導結構或為脊形波導結構,所述脊形波導結構是在制作完成后,采用光刻的方法,去除襯底上兩側的氧化層、發光層、電子傳輸層和金屬電極,去除的深度到達襯底內,形成脊形波導結構。
8.根據權利要求6所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件的制備方法,其中襯底的材料為重摻雜的p型或n型完全硅材料,或者為重摻雜的p型或n型SOI材料,重摻雜的硅電阻率小于25Ω·cm。
9.根據權利要求6所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件的制備方法,其中氧化層的厚度為1-5nm的二氧化硅薄膜。
10.根據權利要求6所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件的制備方法,其中發光層為發光波長是1100-1700nm的近紅外波段的膠體量子點材料。
11.根據權利要求6所述的硅基上的近紅外量子點電致發光的器件的制備方法,其中電子傳輸層為n型的寬禁帶半導體薄膜。
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