[發(fā)明專利]物理量檢測(cè)器及電子設(shè)備

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210308798.7
• 申請(qǐng)日: 2012-08-27
• 公開（公告）號(hào): CN102967730A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 渡邊潤;中仙道和之;亀田高弘
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 精工愛普生株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G01P15/14
• 分類號(hào): G01P15/14
• 代理公司: 北京金信立方知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11225
• 代理人: 黃威;蘇萌萌

1.一種物理量檢測(cè)器，其特征在于，具備：

撓性部，其具有壓電性，且為板狀；

物理量檢測(cè)元件，其被搭載于所述撓性部的兩個(gè)主面中的至少一個(gè)所述主面上；

質(zhì)量部，其被搭載于所述撓性部上，并具有導(dǎo)電性；

封裝件，其用于收納所述撓性部、所述物理量檢測(cè)元件和所述質(zhì)量部，

在所述物理量檢測(cè)元件上，設(shè)置有將檢測(cè)到的物理量作為電信號(hào)來獲取的配線，并且所述質(zhì)量部能夠保持為所需的電位。

2.如權(quán)利要求1所述的物理量檢測(cè)器，其特征在于，

所述封裝件具備：

封裝件基座，其搭載了所述撓性部、所述物理量檢測(cè)元件和所述質(zhì)量部；

蓋體，其被搭載于所述封裝件基座上，并覆蓋所述物理量檢測(cè)元件，且具有導(dǎo)電性，

所述質(zhì)量部能夠保持為與所述蓋體相同的電位。

3.如權(quán)利要求2所述的物理量檢測(cè)器，其特征在于，

所述封裝件基座在與所述蓋體對(duì)置的內(nèi)底面上設(shè)置有導(dǎo)電部，

所述撓性部具有以跨及兩個(gè)所述主面的方式而設(shè)置的電極，

所述質(zhì)量部與所述電極電連接，且能夠保持為與所述導(dǎo)電部相同的電位。

4.如權(quán)利要求1至權(quán)利要求3中任一項(xiàng)所述的物理量檢測(cè)器，其特征在于，

所述質(zhì)量部具有切口部，并且所述質(zhì)量部被搭載于，搭載有所述物理量檢測(cè)元件的所述撓性部的所述主面上，

當(dāng)俯視觀察時(shí)，在所述質(zhì)量部的所述切口部?jī)?nèi)，配置有所述物理量檢測(cè)元件的一部分。

5.如權(quán)利要求1至權(quán)利要求3中任一項(xiàng)所述的物理量檢測(cè)器，其特征在于，

所述撓性部具有基座部、和通過接合部而與該基座部相連接的可動(dòng)部，

所述可動(dòng)部能夠以所述接合部為支點(diǎn)而在與所述可動(dòng)部的主面交叉的方向上位移，

所述物理量檢測(cè)元件以跨越所述接合部的方式而被架設(shè)于所述基座部和所述可動(dòng)部上，

所述質(zhì)量部被搭載于所述可動(dòng)部的所述主面上。

6.一種電子設(shè)備，其特征在于，

具備權(quán)利要求1至權(quán)利要求3中任一項(xiàng)所述的物理量檢測(cè)器。