[發(fā)明專利]基于硬件平臺(tái)的門級(jí)功耗分析裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210308750.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-08-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102866291A | 公開(公告)日: | 2013-01-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙新超;陳嵐;雷韶華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R21/00 | 分類號(hào): | G01R21/00 |
| 代理公司: | 北京漢昊知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11370 | 代理人: | 朱海波 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 硬件 平臺(tái) 功耗 分析 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域,特別涉及一種基于硬件平臺(tái)的門級(jí)功耗分析裝置及方法。
背景技術(shù)
超大規(guī)模(VLSI)集成電路的功耗隨著集成電路制造技術(shù)的發(fā)展成倍增長(zhǎng),而功耗及散熱問(wèn)題一直是制約著集成電路設(shè)計(jì)的重要因素,它不但影響著電池的連續(xù)工作時(shí)間及散熱量,更在很大程度上決定著芯片的成本和可靠性,低功耗己經(jīng)成為與面積和性能同等重要的設(shè)計(jì)目標(biāo)。
在芯片設(shè)計(jì)過(guò)程中,功耗分析可以分為幾個(gè)層次,自下而上分別是版圖級(jí)、晶體管級(jí)、門級(jí)、寄存器傳輸級(jí)(RTL)、結(jié)構(gòu)級(jí)和算法級(jí)。對(duì)芯片設(shè)計(jì)進(jìn)行功耗優(yōu)化和低功耗設(shè)計(jì)的前提是要能對(duì)功耗進(jìn)行評(píng)估和分析。門級(jí)功耗分析兼有精度高,分析速度快的優(yōu)點(diǎn)。現(xiàn)有的功耗分析設(shè)備都是針對(duì)家用電器、辦公設(shè)備等強(qiáng)電產(chǎn)品提出的,在弱電市場(chǎng)上,特別在芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域,目前還沒(méi)有一款與硬件平臺(tái)相聯(lián)系的功耗分析裝置。雖然一些EDA軟件生產(chǎn)廠商可以提供功耗分析軟件,比如Synopsys公司的PrmeTime,該工具可以在芯片設(shè)計(jì)的門級(jí)層次進(jìn)行功耗分析;可是其測(cè)試激勵(lì)等仿真模型與實(shí)際情況存在一定的差別,所以一款結(jié)合實(shí)際的硬件平臺(tái)進(jìn)行門級(jí)功耗分析的裝置和方法,是目前集成電路設(shè)計(jì)市場(chǎng)上的一個(gè)迫切需求。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)以上提出的功耗分析工具不夠完善的問(wèn)題,本方案提出了一種基于硬件平臺(tái)的門級(jí)功耗分析裝置。方案基于硬件平臺(tái),設(shè)計(jì)了捕獲模塊,并結(jié)合上位機(jī)的功耗分析模型,實(shí)現(xiàn)了針對(duì)測(cè)量系統(tǒng)當(dāng)前的工作性能水平和被檢測(cè)模塊功耗水平的硬件平臺(tái)測(cè)試方案。方案應(yīng)用于無(wú)線通信SoC芯片中,可以在SoC前端設(shè)計(jì)時(shí)進(jìn)行功耗分析,使得SoC功耗評(píng)估及優(yōu)化方案可以提早實(shí)現(xiàn),從而可以大大提高SoC一次流片的成功率。
本發(fā)明提供一種基于硬件平臺(tái)的門級(jí)功耗分析裝置,包括矢量捕獲模塊、控制模塊、存儲(chǔ)模塊和功耗分析模塊,其中矢量捕獲模塊、控制模塊和存儲(chǔ)模塊位于硬件平臺(tái)上,功耗分析模塊位于上位機(jī)中;控制模塊為硬件平臺(tái)的工作及信號(hào)捕獲提供時(shí)鐘控制信號(hào),矢量捕獲模塊在時(shí)鐘控制下捕獲實(shí)時(shí)信號(hào)狀態(tài),存儲(chǔ)模塊用于存儲(chǔ)捕獲的信號(hào),功耗分析模塊根據(jù)捕獲信號(hào)生成門級(jí)波形轉(zhuǎn)換文件,建立門級(jí)功耗模型并完成功耗分析。
其中,所述硬件平臺(tái)包括可編程邏輯驗(yàn)證單元、中央處理核心控制單元、數(shù)字信號(hào)協(xié)處理單元和模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元;矢量捕獲模塊和存儲(chǔ)模塊位于可編程邏輯驗(yàn)證單元中,控制模塊包括中央處理核心控制單元和數(shù)字信號(hào)協(xié)處理單元。其捕獲的信號(hào)包括控制信號(hào)、數(shù)據(jù)信號(hào)和地址信號(hào),所述信號(hào)由所述中央處理核心控制單元、數(shù)字信號(hào)協(xié)處理單元和模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元提供。矢量捕獲模塊通過(guò)AHB總線與控制模塊相連。可編程邏輯驗(yàn)證單元通過(guò)JTAG接口與上位機(jī)相連,存儲(chǔ)的信號(hào)通過(guò)JTAG接口傳輸?shù)缴衔粰C(jī)中。
另外,本發(fā)明提供一種基于硬件平臺(tái)的門級(jí)功耗分析方法,包括:
a)由硬件平臺(tái)捕獲實(shí)時(shí)信號(hào)狀態(tài),存儲(chǔ)并傳送至上位機(jī),在上位機(jī)中生成信號(hào)狀態(tài)列表文件,所述信號(hào)狀態(tài)列表文件包含信號(hào)的名稱、采樣周期和信號(hào)狀態(tài);
b)根據(jù)所述信號(hào)狀態(tài)列表文件對(duì)門級(jí)電路進(jìn)行仿真,生成門級(jí)波形轉(zhuǎn)換文件,所述門級(jí)波形轉(zhuǎn)換文件包含了所有信號(hào)的翻轉(zhuǎn)信息;
c)建立門級(jí)功耗模型,所述門級(jí)功耗模型即為門級(jí)功耗的計(jì)算公式,根據(jù)工藝條件確定模型中各個(gè)參數(shù)的值;
d)根據(jù)門級(jí)波形轉(zhuǎn)換文件和門級(jí)功耗模型進(jìn)行門級(jí)功耗分析。
在所述步驟a)中,所述實(shí)時(shí)信號(hào)狀態(tài)由矢量捕獲模塊在控制模塊的時(shí)鐘控制下捕獲,并保存到對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)模塊中,所述矢量捕獲模塊、控制模塊和存儲(chǔ)模塊均位于硬件平臺(tái)上。
所述實(shí)時(shí)信號(hào)包括控制信號(hào)、數(shù)據(jù)信號(hào)和地址信號(hào),所述實(shí)時(shí)信號(hào)由硬件平臺(tái)上的中央處理核心控制單元、數(shù)字信號(hào)協(xié)處理單元和模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元提供。
在所述步驟b)中,所述信號(hào)的翻轉(zhuǎn)信息包括翻轉(zhuǎn)密度和靜態(tài)概率。
在所述步驟b)中,所述門級(jí)電路由寄存器傳輸級(jí)設(shè)計(jì)并綜合得到。
在所述步驟c)中,門級(jí)功耗模型包括開關(guān)功耗模型、短路功耗模型和靜態(tài)功耗模型。所述靜態(tài)功耗模型由門級(jí)電路的泄漏電流和電源電壓決定。所述開關(guān)功耗模型由控制信號(hào)頻率、電源電壓以及所有門級(jí)電路節(jié)點(diǎn)的翻轉(zhuǎn)密度和輸出電容決定。所述短路功耗模型與開關(guān)功耗模型近似線性關(guān)系,其線性系數(shù)通過(guò)實(shí)驗(yàn)統(tǒng)計(jì)得到。
在所述步驟d)中,所述功耗分析包括功耗密度在各個(gè)功能模塊之間的分布;動(dòng)態(tài)功耗、靜態(tài)功耗所占的比重;總的平均功耗和運(yùn)行中出現(xiàn)的峰值功耗。所述動(dòng)態(tài)功耗通過(guò)將所述信號(hào)的翻轉(zhuǎn)密度代入所述開關(guān)功耗模型和短路功耗模型中計(jì)算得到。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院微電子研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院微電子研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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