[發明專利]一種檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201210299734.5
• 申請日: 2012-08-22
• 公開（公告）號: CN102830346A
• 公開（公告）日: 2012-12-19
• 發明（設計）人: 石仔良;涂君;吳求應
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 黃厚剛

1.一種檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

現場可編程門陣列FPGA加載第一配置文件，根據所述第一配置文件對隨機讀寫存儲器RAM資源模塊和可配置邏輯塊CLB資源模塊的第一部分分別進行測試，得到所述RAM資源模塊的測試結果和所述CLB資源模塊的第一部分的測試結果；

所述FPGA加載第二配置文件，根據所述第二配置文件對所述CLB資源模塊的第二部分進行測試，得到所述CLB資源模塊的第二部分的測試結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述FPGA根據所述第一配置文件對RAM資源模塊進行測試，得到所述RAM資源模塊的測試結果，包括：

所述FPGA根據所述第一配置文件將隨機讀寫存儲器塊Block?RAM資源模塊和分布式隨機讀寫存儲器Distributed?RAM資源模塊例化成多個預設寬度和預設深度的雙端口RAM，將所述例化得到的所述多個雙端口RAM作為第一測試模塊，并對所述第一測試模塊進行測試得到所述RAM資源模塊的測試結果。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述FPGA根據所述第一配置文件對CLB資源模塊的第一部分進行測試，得到所述CLB資源模塊的第一部分的測試結果，包括：

所述FPGA根據所述第一配置文件將CLB資源模塊的第一部分配置成被測試模塊，其中，所述第一部分包括最后一列Slice_XmaxY0到Slice_XmaxYmax之間所有Slice，所述被測試模塊中的每個Slice中的觸發器和查找表LUT串聯，所述LUT被配置成反向器，所述觸發器被配置成帶異步清零端的D觸發器，并將除所述最后一列Slice_XmaxY0到Slice_XmaxYmax之間的Slice配置成測試向量產生模塊和測試結果分析模塊，并通過所述測試向量產生模塊產生測試向量，將所述測試向量輸入到所述被測試模塊中進行測試，所述測試結果分析模塊獲取所述被測模塊的測試結果，得到所述CLB資源模塊的第一部分的測試結果。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述FPGA根據所述第二配置文件對所述CLB資源模塊的第二部分進行測試，得到所述CLB資源模塊的第二部分的測試結果，包括：

所述FPGA根據所述第二配置文件將所述CLB資源模塊中的第二部分配置成被測試模塊，其中，所述第二部分包括Slice_X0Y0到Slice_Xmax-1Ymax之間所有Slice，所述被測試模塊中的每個Slice中的觸發器和LUT串聯，所述LUT被配置成反向器，所述觸發器被配置成帶異步清零端的D觸發器，并將最后一列Slice_XmaxY0到Slice_XmaxYmax配置成測試向量產生模塊和測試結果分析模塊，并通過所述測試向量產生模塊產生測試向量，將所述測試向量輸入到所述被測試模塊中進行測試，所述測試結果分析模塊獲取所述被測模塊的測試結果，得到所述CLB資源模塊的第二部分的測試結果。

5.根據權利要求1-4任一項所述的方法，其特征在于，所述FPGA加載第一配置文件之后，還包括：

所述FPGA根據所述第一配置文件對數字信號處理器DSP資源模塊，和/或，鎖相環PLL資源模塊和數字時鐘管理器DCM資源模塊分別進行測試，得到所述DSP資源模塊的測試結果，和/或，所述PLL資源模塊和所述DCM資源模塊的測試結果。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述FPGA根據所述第一配置文件對DSP資源模塊進行測試，得到所述DSP資源模塊的測試結果，包括：

所述FPGA根據所述第一配置文件將DSP資源模塊例化成多個將乘法器，將所述例化得到的所述多個乘法器作為第二測試模塊，并對所述第二測試模塊進行測試得到所述DSP資源模塊的測試結果。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述FPGA根據所述第一配置文件對PLL資源模塊和DCM資源模塊進行測試，得到所述PLL資源模塊和所述DCM資源模塊的測試結果，包括：

所述FPGA根據所述第一配置文件將PLL資源模塊中的所有PLL和DCM資源模塊中的所有DCM按照一維陣列串聯起來，得到第三測試模塊，并對所述第三測試模塊進行測試得到所述PLL資源模塊和所述DCM資源模塊的測試結果。