[發明專利]光拾取器裝置及光盤裝置

有效

• 申請號: 201210298565.3
• 申請日: 2008-11-26
• 公開（公告）號: CN102831905A
• 公開（公告）日: 2012-12-19
• 發明（設計）人: 山崎和良
• 申請（專利權）人: 日立視聽媒體股份有限公司
• 主分類號: G11B7/1381
• 分類號: G11B7/1381;G11B7/09;G11B7/1353
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

1.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括：

射出光束的半導體激光器；

用于將從所述半導體激光器射出的光束聚光并照射到光盤的物鏡；

對從所述光盤反射的光束進行分光的分光元件；和

具有多個接受通過所述分光元件分光的光束的受光面的光檢測器，其中，

所述分光元件具有區域A、區域B、和區域C這三個區域，

所述分光元件的區域C是含有所述分光元件的中心的區域，

所述分光元件的區域A相對于區域C在與所述光盤上的軌道對應的方向上離開，

所述分光元件的區域B相對于區域C在所述光盤的半徑方向上離開，

被所述光盤反射的光束，透過所述物鏡入射到所述分光元件，光束被所述分光元件分割，按各區域分別在不同的方向行進，在所述光檢測器上聚焦，

在所述光檢測器中，從在所述區域A、B、C衍射的光束檢測出再現信號，

對在所述分光元件的區域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光進行檢測的多個受光面，排列在與對應所述光盤的軌道的方向大體平行的方向上。

2.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：

對在所述分光元件的區域A衍射的+1次衍射光或-1次衍射光進行檢測的受光面為4個受光面。

3.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：

對在所述分光元件的區域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光進行檢測的受光面為4個受光面。

4.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：

通過在所述分光元件的區域B衍射的-1次衍射光檢測出聚焦誤差信號，

通過在所述分光元件的區域A、B衍射的+1次衍射光檢測出跟蹤誤差信號，

通過在所述分光元件的區域A衍射的-1次衍射光檢測出跟蹤誤差信號的偏移量修正信號，

通過在所述區域A、B、C衍射的+1次衍射光的和檢測出再現信號。

5.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于：

對在所述分光元件的區域C衍射的+1次衍射光或-1次衍射光進行檢測的受光面是一個受光面。

6.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括：

射出光束的半導體激光器；

用于將從所述半導體激光器射出的光束聚光并照射到光盤的物鏡；

對從所述光盤反射的光束進行分光的分光元件；和

具有多個接受通過所述分光元件分光的光束的受光面的光檢測器，其中，

所述分光元件具有區域A、區域B、和區域C這三個區域，

所述分光元件的區域C是含有所述分光元件的中心的區域，

所述分光元件的區域A相對于區域C在與所述光盤上的軌道對應的方向上離開，

所述分光元件的區域B相對于區域C在所述光盤的半徑方向上離開，

被所述光盤反射的光束，透過所述物鏡入射到所述分光元件，光束被所述分光元件分割，按各區域分別在不同的方向行進，在所述光檢測器上聚焦，

在所述光檢測器中，從在所述區域A、B、C衍射的光束檢測出再現信號，

對在所述分光元件的區域A衍射的+1次衍射光或-1次衍射光進行檢測的多個受光面，排列在與對應所述光盤的軌道的方向大體垂直的方向上，

并且對在所述分光元件的區域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光進行檢測的多個受光面，排列在與對應所述光盤的軌道方向大體平行的方向上。

7.根據權利要求7所述的光拾取器裝置，其特征在于：

對在所述分光元件的區域A衍射的+1次衍射光或-1次衍射光進行檢測的受光面為4個受光面。

8.根據權利要求6所述的光拾取器裝置，其特征在于：

對在所述分光元件的區域B衍射的+1次衍射光或-1次衍射光進行檢測的受光面為4個受光面。

9.根據權利要求6所述的光拾取器裝置，其特征在于：

通過在所述分光元件的區域B衍射的-1次衍射光檢測出聚焦誤差信號，

通過在所述分光元件的區域A、B衍射的+1次衍射光檢測出跟蹤誤差信號，

通過在所述分光元件的區域A衍射的-1次衍射光檢測出跟蹤誤差信號的偏移量修正信號，

通過在所述區域A、B、C衍射的+1次衍射光的和檢測出生成再現信號。