[發明專利]測試設備及其可移動式測試室有效
| 申請號: | 201210297922.4 | 申請日: | 2012-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN103630767A | 公開(公告)日: | 2014-03-12 |
| 發明(設計)人: | 謝超;蕭棨湰;鄒自強;夏鳴 | 申請(專利權)人: | 臺達電子工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國 |
| 地址: | 中國臺灣桃*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 設備 及其 移動式 | ||
技術領域
本發明是有關于一種測試設備,且特別是有關于一種用于燒機測試(Burn-in?Test)的測試設備及其可移動式測試室。
背景技術
目前的各種電子產品在正式販售前,為了確保其可靠度,大部分會事先進行燒機測試(Burn-in?Test)。在一般室溫下所進行的燒機測試,通常需消耗較多的時間才能確保產品的可靠度。舉例而言,若欲在一般室溫下對變頻器的類的電子產品進行燒機測試,必須經過48小時才能夠完成,而這樣長時間的測試勢必會消耗大量的人力及電力,無法滿足日益增長的產量需求。但若縮短測試時間,卻又無法保障產品的可靠度。
為了解決這樣的困境,遂有廠商在燒機測試站裝設高溫測試室,使得產品在一定的高溫下運行(例如攝氏50度),如此一來,不僅可維持燒機測試的嚴苛條件,保障產品的可靠度,更可縮短燒機測試的時間。
然而,為了縮短燒機測試的時間,通常會同時對好幾臺產品進行測試,因此必須對應配置有好幾臺高溫測試室。舉例來說,倘若欲對六臺變頻器進行燒機測試,則必須同時配置有六臺高溫測試室,無疑地會增加成本上的負擔。
此外,若以機柜型變頻器為例,傳統的操作方式是將變頻器的系統柜先置于高溫測試室中,再將模塊、變壓器、及散熱風機等裝置安裝至系統柜中,最后再進行配線、清潔等,操作上十分不便,且亦浪費時間。
另外,如中壓變頻器(MVD)等高壓大電流大功率的驅動器,一般都屬于重型裝備類產品,其重量動輒以十幾噸或幾十噸計,因而該類產品的高溫燒機測試一直是國內外業界難以克服的困難點。按照一般思維,構建高溫燒機測試室后需費盡周章將如此巨大的產品裝載進測試室中或由測試室中卸載,非常不方便,因而一般會被認為不切實際而放棄,只能讓這些巨大的產品在室溫中進行燒機。
發明內容
有鑒于此,本發明的技術方案在于提供一種測試設備及其所采用的可移動式測試室,從而解決了將重型產品裝載進測試室中或由測試室中卸載的問題(實際上是讓重型產品保持不動,而將活動式的燒機測試室移動,從而實現對重型產品的包覆)。
通過在燒機測試室中對重型產品進行高溫燒機測試,不僅可以保證產品品質,而且可以大幅縮短燒機測試所需時間。
本發明的一目的是在于利用一臺可移動式測試室來做為多臺待測物的燒機測試環境,從而大幅降低先前技術采用多臺測試室所需負擔的成本。
為了達到上述目的,依據本發明的一實施方式,一種測試設備包含多條軌道、多個測試區域以及一可移動式測試室。這些測試區域是位于這些軌道之間。可移動式測試室包含一通道、至少一加熱源以及至少一對滾珠。加熱源是用以加熱通道。此對滾珠分別可滑動地容置于兩條軌道中,以將通道移動至不同的測試區域上方。
依據本發明的另一實施方式,一種可移動式測試室包含一對側壁、一通道、一對隔熱簾、至少一個加熱源以及至少一對滾珠。通道是夾設于此對側壁之間。此對隔熱簾是可卷起地罩住通道的相對兩端,其中此對隔熱簾與此對側壁共同形成一測試空間。加熱源是用以加熱測試空間。此對滾珠是分別設置于此對側壁的底面。
通過上述實施方式,本發明可利用具有滾珠的可移動式測試室在軌道中滑動,故此可移動式測試室可被移動至各個不同的測試區域來做為不同待測物(例如不同的變頻器)的燒機測試環境。因此,本發明上述實施方式可僅利用一臺測試室來做為多臺待測物的燒機測試環境,大幅降低先前技術利用多臺測試室所需負擔的高額成本。
此外,通過本發明的實施方式,當可移動式測試室正用于某一臺待測物時,測試人員可同時組裝下一臺待測物或是拆卸上一臺已測完的產品,故可縮短燒機測試的時間。
以上所述僅是用以闡述本發明所欲解決的問題、解決問題的技術手段、及其產生的功效等等,本發明的具體細節將在下文的實施方式及相關附圖中詳細介紹。
附圖說明
為讓本發明的上述和其他目的、特征、優點與實施例能更明顯易懂,所附附圖的說明如下:
圖1繪示依據本發明一實施方式的測試設備的示意圖;
圖2繪示依據本發明一實施方式的軌道的剖面圖;
圖3繪示依據本發明一實施方式的可移動式測試室的一操作方式的立體圖;
圖4繪示圖3的可移動式測試室的另一操作方式的立體圖;
圖5繪示依據本發明一實施方式的滾珠的剖面圖。
【主要元件符號說明】
100:可移動式測試室
110:側壁
112:底面
120:通道
125:測試空間
130:隔熱簾
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