[發(fā)明專利]電子設(shè)備的測試方法、測試裝置、測試工裝和測試系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210296440.7 | 申請日： | 2012-08-20 |
| 公開（公告）號： | CN103631246B | 公開（公告）日： | 2017-02-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 譚澤漢;牛安;彭志富 | 申請（專利權(quán)）人： | 珠海格力電器股份有限公司 |
| 主分類號： | G05B23/02 | 分類號： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司11240 | 代理人： | 吳貴明,余剛 |
| 地址： | 519070 *** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電子設(shè)備 測試 方法 裝置 工裝 系統(tǒng) | ||
1.一種電子設(shè)備的測試方法，其特征在于，包括：
在電子設(shè)備執(zhí)行測試命令后，采集所述電子設(shè)備的圖像，以得到對比圖像；
提取所述對比圖像的信息；
比較提取到的信息和預(yù)存的標準信息，其中，所述標準信息包括所述電子設(shè)備執(zhí)行所述測試命令后的正確執(zhí)行結(jié)果；以及
根據(jù)比較結(jié)果輸出所述電子設(shè)備執(zhí)行所述測試命令的結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備的測試方法，其特征在于，當所述電子設(shè)備為顯示器時，在采集所述電子設(shè)備的圖像之前，所述方法還包括：
控制所述顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子設(shè)備的測試方法，其特征在于，提取所述對比圖像的有效信息包括：
對所述對比圖像通過閾值化函數(shù)進行閾值化，其中，閾值化結(jié)果為1的像素點為所述對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結(jié)果為0的像素點為所述對比圖像中第二部分的像素點，所述第一部分為所述顯示器的背光區(qū)域?qū)?yīng)的圖像部分，
所述第二部分為所述對比圖像中除所述第一部分之外的部分；
讀取所述對比圖像各像素點的像素值，將所述第二部分中所有像素點的像素值替換為0；
對像素替換后的所述對比圖像進行顆粒濾波和填充處理；
通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理后的所述對比圖像，以得到所述第一部分在所述對比圖像中的坐標范圍；以及
對所述坐標范圍內(nèi)的圖像進行圖像處理，以得到所述對比圖像的有效信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備的測試方法，其特征在于，所述電子設(shè)備為控制主板時，所述控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，采集所述電子設(shè)備的圖像包括：
采集所述顯示單元的圖像。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子設(shè)備的測試方法，其特征在于，所述顯示單元為發(fā)光二極管。
6.一種電子設(shè)備的測試裝置，其特征在于，包括：
采集模塊，用于在電子設(shè)備執(zhí)行測試命令后，通過攝像裝置采集所述電子設(shè)備的圖像，以得到所述對比圖像；
提取模塊，用于提取所述對比圖像的信息；
比較模塊，用于比較提取到的信息和預(yù)存的標準信息，其中，所述標準信息包括所述電子設(shè)備執(zhí)行所述測試命令后的正確執(zhí)行結(jié)果；以及
確定模塊，用于根據(jù)比較結(jié)果確定所述電子設(shè)備執(zhí)行所述測試命令的結(jié)果。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子設(shè)備的測試裝置，其特征在于，所述電子設(shè)備為顯示器時，所述顯示器的背光源處于長亮的狀態(tài)，其中，所述提取模塊包括：
閾值子模塊，用于對所述對比圖像通過閾值化函數(shù)進行閾值化，其中，閾值化結(jié)果為1的像素點為所述對比圖像中第一部分的像素點，閾值化結(jié)果為0的像素點為所述對比圖像中第二部分的像素點，所述第一部分為所述顯示器的背光區(qū)域?qū)?yīng)的圖像部分，所述第二部分為所述對比圖像中除所述第一部分之外的部分；
替換子模塊，用于讀取所述對比圖像各像素點的像素值，將所述第二部分中所有像素點的像素值替換為0；
濾波填充子模塊，用于對像素替換后的所述對比圖像進行顆粒濾波和填充處理；
檢測子模塊，用于通過邊緣檢測處理顆粒濾波和填充處理后的所述對比圖像，以得到所述第一部分在所述對比圖像中的坐標范圍；以及
提取子模塊，用于對所述坐標范圍內(nèi)的圖像進行圖像處理，以得到所述對比圖像的有效信息。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子設(shè)備的測試裝置，其特征在于，所述電子設(shè)備為控制主板時，所述控制主板的信號輸出端連接有顯示單元，所述采集模塊用于通過所述攝像裝置采集所述顯示單元的圖像。
9.一種電子設(shè)備的測試工裝，其特征在于，包括：
攝像裝置，用于在電子設(shè)備執(zhí)行測試命令后，采集所述電子設(shè)備的圖像，以得到對比圖像；
處理裝置，與所述攝像裝置相連接，用于提取所述對比圖像中的信息，并根據(jù)提取到的信息和預(yù)存的標準信息確定所述電子設(shè)備執(zhí)行所述測試命令的結(jié)果，
其中，所述標準信息包括所述電子設(shè)備執(zhí)行所述測試命令后的正確執(zhí)行結(jié)果；以及
顯示裝置，與所述處理裝置相連接，用于輸出所述電子設(shè)備執(zhí)行所述測試命令的結(jié)果。
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