[發明專利]有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置

有效

• 申請號: 201210292916.X
• 申請日: 2012-08-17
• 公開（公告）號: CN102853996A
• 公開（公告）日: 2013-01-02
• 發明（設計）人: 李進延;陳瑰;李海清;王一礴;謝璐;戴能利;蔣作文;彭景剛;程蘭
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 曹葆青

1.一種有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，該裝置包括復合樣品采樣室，光源，鎖相放大器，第一、第二單色儀，控制模塊、探測器及數據處理器；

復合樣品采樣室的三個通光孔分別和光源的可調狹縫、第一單色儀的第一可調狹縫以及第二單色儀的第一可調狹縫相連通，復合樣品采樣室用來放置待測光纖并提供穩定的測試環境；

光源為寬帶光源，光源上的通光孔與第一單色儀的第二可調狹縫相連通，第一單色儀的第二可調狹縫與光源的可調狹縫相互垂直，光源用于提供監測信號光；鎖相放大器一端通過斬波器用數據線與光源相連，另一端通過數據線和探測器相連，用于提高測試結果的信噪比；

第一單色儀的第二可調狹縫與光源的通光孔相連，用于將光源的白光轉化為特定波長的單色信號光；第一單色儀的第一可調狹縫和復合樣品采樣室的通光孔對接，用于將單色信號光通入復合樣品采樣室；

第二單色儀通過第一可調狹縫接收經待測光纖輸出的信號光，第二可調狹縫和探測器相連；

控制模塊根據數據處理器的指令實現對復合樣品采樣室內的溫度、第一、第二單色儀內電機的控制；

探測器為硅光電探測器，固定在第二單色儀的光輸出面；探測器的光敏面對著第二單色儀的可調狹縫且位置相匹配；探測器探測狹縫輸出的信號光，并將探測到的光信號轉化為電信號，經數據線輸入到鎖相放大器；

數據處理器通過控制模塊對測試裝置進行控制，讀取鎖相放大器的數據，對測試所得數據進行相關的數據分析和處理。

2.根據權利要求1所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，所述的復合樣品采樣室由樣品盒、半導體泵浦源、耦合系統、光纖波分復用器、光纖合束器和水溫控裝置組成；

樣品盒位于復合樣品采樣室內，用于安裝待測試的光纖；

半導體泵浦源采用半導體激光光源，半導體泵浦源的尾纖與光纖合束器的泵浦輸入端熔接相連；光纖波分復用器兩輸入端和兩個耦合系統的尾纖熔接相連，輸出端和光纖合束器的信號輸入端熔接相連；

光纖合束器采用信號光纖芯輸入，泵浦光包層輸入，光纖合束器的輸出端光纖固定在樣品盒的接口內；

水溫控裝置通過冷卻及加熱循環水控制復合樣品采樣室的溫度。

3.根據權利要求2所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，所述樣品盒包括接口、無源匹配雙包層光纖、單包層光纖及濾除模塊；接口用于與所述光纖合束器的輸出端連接，無源匹配雙包層光纖一端與所述接口連接，另一端用于與待測有源光纖的一端連接，單包層光纖的一端用于與待測有源光纖的另一端連接，單包層光纖的另一端輸出信號光至所述耦合系統；濾除模塊分為兩片獨立的黃銅塊，中部有圓形凹槽，尺寸與待測光纖匹配，單包層光纖放置于濾除模塊的圓形凹槽中。

4.根據權利要求1所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，所述可調狹縫高度與復合樣品采樣室的通光孔高度一致，可調狹縫的縫寬為0.01～3mm。

5.根據權利要求2、3或4所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，所述半導體泵浦源中心波長為975-981nm，最大輸出功率為30W，波長溫度漂移小于0.4nm/K，尾纖包層直徑125um。

6.根據權利要求2、3或4所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，所述耦合系統中配置有尾纖，尾纖采用錐形光纖，包層直徑由350um-125um。

7.根據權利要求2、3或4所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，所述光纖波分復用器為2*1波分復用器，運行波長為400-1100um。

8.根據權利要求6所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，所述光纖波分復用器為2*1波分復用器，運行波長為400-1100um。

9.根據權利要求2、3或4所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，光纖合束器為(2+1)*1合束器，泵浦光纖運行波長為976nm。

10.根據權利要求8所述的有源稀土摻雜光纖光子暗化測試裝置，其特征在于，光纖合束器為(2+1)*1合束器，泵浦光纖運行波長為976nm。