[發明專利]利用陣列感應測井資料進行地層參數反演的方法及裝置有效
| 申請號: | 201210291333.5 | 申請日: | 2012-08-15 |
| 公開(公告)號: | CN102789003A | 公開(公告)日: | 2012-11-21 |
| 發明(設計)人: | 王昌學;胡法龍;李長喜;杜寶會;李霞;秋英淑;王環;宋連騰;程相志;張莉 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01V11/00 | 分類號: | G01V11/00 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默聞 |
| 地址: | 100007 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 陣列 感應 測井 資料 進行 地層 參數 反演 方法 裝置 | ||
1.一種利用陣列感應測井資料進行地層參數反演的方法,其特征在于,所述方法包括:
步驟1,獲取陣列感應測井資料與輔助測井曲線資料,所述陣列感應測井資料包括從不同陣列單元測量的陣列感應原始響應曲線和由所述陣列感應原始響應曲線進行合成聚焦處理后的陣列感應測井曲線;
步驟2,根據所述陣列感應測井資料與所述輔助測井曲線資料對測量井段進行分層;
步驟3,通過幾何因子法對所述陣列感應測井曲線進行初步反演,生成對應層的初始的原狀地層電阻率、侵入帶電阻率和侵入半徑值;
步驟4,根據所述的對應層的初始的原狀地層電阻率、侵入帶電阻率和侵入半徑值,生成對應層的陣列感應模擬響應曲線;
步驟5,判斷所述對應層的陣列感應模擬響應曲線與對應層的所述陣列感應原始響應曲線是否一致,如果一致,轉到步驟6,如果不一致,轉到步驟7;
步驟6,將所述初始的原狀地層電阻率、侵入帶電阻率和侵入半徑值作為反演結果輸出;
步驟7,根據所述陣列感應原始響應曲線,結合對應層的地質特征,通過交互式反演修改所述初始的原狀地層電阻率、侵入帶電阻率和侵入半徑值,重復步驟4-7,輸出最終的原狀地層電阻率、侵入帶電阻率和侵入半徑值。
2.根據權利要求1所述的利用陣列感應測井資料進行地層參數反演的方法,其特征在于,所述輔助測井曲線資料包括自然伽馬測井曲線、井徑測井曲線、密度測井曲線以及自然電位測井曲線。
3.根據權利要求1所述的利用陣列感應測井資料進行地層參數反演的方法,其特征在于,所述根據所述陣列感應測井資料與輔助測井曲線資料對測量井段進行分層,包括:
根據所述陣列感應測井曲線特征依據斜率變化趨勢確定層界面;
根據所述輔助測井曲線資料和確定的層界面,分別將所述陣列感應測井曲線特征不明顯的泥巖夾層、致密層、垮塌層分出來。
4.根據權利要求1所述的利用陣列感應測井資料進行地層參數反演的方法,其特征在于,所述通過幾何因子法對所述陣列感應測井曲線進行初步反演,生成對應層的初始的原狀地層電阻率、侵入帶電阻率和侵入半徑值,包括:
通過幾何因子法對分層后的每一層計算出初步的原狀地層電阻率、侵入帶電阻率和侵入半徑值:
式中Ci-陣列感應測井0.6m分辨率系列電導率值(電阻率倒數),S/m;
-井眼泥漿對陣列感應測井響應的貢獻;
Cm-泥漿電導率值,S/m;
-侵入帶對陣列感應測井響應的貢獻,與侵入半徑值有關;
C′xo-侵入帶電導率值,S/m;
C′t-原狀地層電導率值,S/m;
N-陣列感應測井0.6m分辨率系列曲線條數,且N=5或6;
通過陣列感應測井測得的每一層0.6m分辨率系列的N個值由上式可列出N個方程形成超定方程組,通過最優化方法計算出每一層初步的原狀地層電阻率、侵入帶電阻率和侵入半徑值;
其中,Cm根據所述陣列感應測井曲線計算得到,根據所述井徑測井曲線計算得到。
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