[發明專利]一種PLC光分路器的測試裝置及方法

有效

• 申請號: 201210290575.2
• 申請日: 2012-08-15
• 公開（公告）號: CN102798513A
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 肖熠;王毅強;商惠琴;王明華;楊建義;郝寅雷
• 申請（專利權）人: 上海光芯集成光學股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司 31225
• 代理人: 蔣亮珠

技術領域

本發明屬于集成光學領域，尤其涉及一種PLC光分路器的測試方法，用以提高企業的工作效率。

背景技術

隨著FTTH的普及，PLC光分路器的需求量越來越大。PLC光分路器技術指標優異，器件體積小，單個器件的分路通道多，可達到128路。在大規模生產和應用上都較之光纖拉錐型分路器有壓倒性的優勢。

但是，多通道數的PLC器件測試很繁瑣，提高多通道分路器的測試效率，是工程應用上具有很大意義的課題。

現有的多通道多波段測試系統，PLC的輸入端利用光開關實現多波段選擇輸入，PLC的輸出端接多通道功率計實時顯示測得的光功率。這樣只要把光纖陣列與PLC的輸入輸出對準，即可測試全通道多波段的損耗值。

這種方法最消耗時間的步驟在與光纖陣列與PLC的對準和耦合，需要手動進行調節。因為波導的尺寸很小，只有微米量級，普通攝像頭的放大倍率有限，難以觀察清楚是否完全對準耦合。工程上可行的做法是，根據功率計的實時讀數來判斷是否對準。但是，只有在輸入和輸出都對準的情況下，光功率計才會有讀數。同時調節輸入和輸出使其對準是費時費力的。

發明內容

本發明的目的就是為了克服上述現有技術存在的缺陷而提供一種效率高的PLC光分路器的測試裝置及方法。

本發明的目的可以通過以下技術方案來實現：一種PLC光分路器的測試裝置，其特征在于，該裝置包括樣品架、輸入端FA、接收端設備、光開關，LED白光源、寬帶紅外光源、計算機，所述的樣品架前方設有輸入端FA，后方設有接收端設備，所述的LED白光源和寬帶紅外光源的輸出經光纖并聯連接到光開關，所述的計算機分別連接LED白光源、寬帶紅外光源、光開關和接收端設備。

所述的接收端設備為圖象傳感器或多通道FA和光功率計。

所述的寬帶紅外光源為1290nm～1610nm寬帶紅外光光源。

使用PLC光分路器的測試裝置進行測試的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

第一步：輸入端對準

(1)在樣品架上放上待測1×N芯片；(2)通過控制光開關使LED白光傳輸到單通道FA；(3)選擇接收端設備為圖像傳感器；(4)調節輸入端FA的位置，當計算機的顯示器上顯示出N個白色光斑時，說明輸入端FA已經與PLC芯片的輸入端口對準；

第二步：輸出端對準

(1)在樣品架上放上待測1×N芯片；(2)通過控制光開關使寬帶紅外光傳輸到單通道FA；(3)選擇接收端設備為多通道FA和光功率計；(4)微調輸入端FA和接收端多通道FA，使光功率計的功率值讀數最大；

第三步，測試

通過控制光開關控制不同波長的寬帶紅外光插入待測1×N芯片的通道中，通過光功率計測得功率值即得插入損耗。

所述的待測1×N芯片為含有1個輸入端波導，N個輸出對端波導，其中N為自然數。

所述的N為8、16、32、64、128或256。

所述的寬帶紅外光波長范圍是1290nm～1610nm，插入損耗的測試結果是覆蓋這一波段范圍的頻譜曲線。

所述的寬帶紅外光需要測試的波長是1310nm，1490nm和1550nm。

通過控制輸出光源的偏振態，測得待測1×N芯片的偏振相關損耗值。

與現有技術相比，本發明先利用紅外圖像傳感器(CCD)，調節對準PLC的輸入端。然后再換上光功率計，調節對準PLC的輸出端。配合工業支架裝置的設計，可以使CCD和光功率計的切換變得很簡單。這樣把PLC耦合的過程分解成兩步，簡單明了，提高了測試效率。

附圖說明

圖1為本發明輸入端對準的示意圖；

圖2為本發明輸出端對準的示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細說明。

實施例

如圖1-2所示，一種PLC光分路器的測試裝置，該裝置包括樣品架、輸入端FA1、接收端設備、光開關2，LED白光源3、寬帶紅外光源4、計算機5，所述的樣品架前方設有輸入端FA1，后方設有接收端設備，所述的LED白光源3和寬帶紅外光源4的輸出經光纖并聯連接到光開關2，所述的計算機5分別連接LED白光源3、寬帶紅外光源4、光開關2和接收端設備。

使用上述PLC光分路器的測試裝置進行測試的方法，該方法包括以下步驟：

第一步：輸入端對準