[發明專利]GIS母線接頭的接觸電阻檢測方法和系統

有效

• 申請號: 201210289446.1
• 申請日: 2012-08-14
• 公開（公告）號: CN102798757A
• 公開（公告）日: 2012-11-28
• 發明（設計）人: 劉根才;詹清華;舒乃秋;金向朝;蘇杏志;李玲;李洪濤;李紅玲;關向雨;吳曉文
• 申請（專利權）人: 廣東電網公司佛山供電局;武漢大學
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王茹;曾旻輝

1.一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

根據GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數確定GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力；

根據所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻。

2.根據權利要求1所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測方法，其特征在于，所述根據GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數確定GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力包括步驟：通過f＝K(πD-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，其中，f為GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長度，K為彈簧等效剛度，π為圓周率，N為GIS母線接頭梅花觸指個數。

3.根據權利要求1所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測方法，其特征在于，所述根據GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數確定GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力包括步驟：通過f_i＝a_i(G)+K(πD-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，其中，f_i為第i個GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，a_i(G)為GIS母線接頭和母線導體的重力G在第i個梅花接頭上的徑向分量，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長度，K為彈簧等效剛度，π為圓周率，i＝1.2.3...N，N為GIS母線接頭梅花觸指個數。

4.根據權利要求1至3之一所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測方法，其特征在于，所述根據所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻包括步驟：

通過R_s＝ρ/2n(f)a(f)確定收縮電阻R_s，其中，ρ為電阻率，n(f)為在接觸面內產生的微觀導電斑點的數量，a(f)為導電斑點的平均半徑；

通過確定膜電阻R_m，其中，c₁、c₂為膜電阻與接觸壓力的非線性擬合系數；

通過R＝R_s(f)+R_m(f)確定GIS母線接頭的接觸電阻R。

5.一種GIS母線接頭的接觸電阻檢測系統，其特征在于，包括：

接觸壓力確定模塊，用于根據GIS母線接頭及其抱緊彈簧的材料參數確定GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，并將得到的接觸壓力發送給接觸壓力確定模塊；

所述接觸電阻確定模塊用于在接收到所述接觸壓力后，根據所述接觸壓力確定GIS母線接頭的接觸電阻。

6.根據權利要求5所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測系統，其特征在于，所述接觸壓力確定模塊通過f＝K(πD-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，其中，f為GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長度，K為彈簧等效剛度，π為圓周率，N為GIS母線接頭梅花觸指個數。

7.根據權利要求5所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測系統，其特征在于，接觸壓力確定模塊通過f_i＝a_i(G)+K(πD-L)/N確定GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，其中，f_i為第i個GIS母線接頭梅花觸指與導體的接觸壓力，a_i(G)為GIS母線接頭和母線導體的重力G在第i個梅花接頭上的徑向分量，D為母線接頭直徑，L為彈簧自由長度，K為彈簧等效剛度，π為圓周率，i＝1.2.3...N，N為GIS母線接頭梅花觸指個數。

8.根據權利要求5至7之一所述的GIS母線接頭的接觸電阻檢測方法，其特征在于，所述接觸電阻確定模塊包括：

收縮電阻確定單元，用于通過R_s＝ρ/2n(f)a(f)確定收縮電阻R_s，其中，ρ為電阻率，n(f)為在接觸面內產生的微觀導電斑點的數量，a(f)為導電斑點的平均半徑；

膜電阻確定單元，用于通過確定膜電阻R_m，其中，c₁、c₂為膜電阻與接觸壓力的非線性擬合系數；

接觸電阻確定單元，用于通過R＝R_s(f)+R_m(f)確定GIS母線接頭的接觸電阻R。