[發明專利]通過元素的測量強度計算被干擾元素濃度的方法有效
| 申請號： | 201210287547.5 | 申請日： | 2012-08-14 |
| 公開（公告）號： | CN103592226A | 公開（公告）日： | 2014-02-19 |
| 發明（設計）人： | 馬增 | 申請（專利權）人： | 天津精利為科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/25 | 分類號： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 300384 天津市南開區華苑產*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 通過 元素 測量 強度 計算 干擾 濃度 方法 | ||
1.一種通過元素的測量強度計算被干擾元素濃度的方法，其特征在于，該方法包括以下兩種校正模型：
(1)譜線重疊校正模型：?其中，Ii為被干擾元素的測量強度，Ic為被干擾元素沒有干擾時的凈強度，Kj為重疊干擾系數，Iij為第I塊標準樣品第j個具有疊加干擾性質的干擾元素的強度，m為同一塊標準樣品中可能的干擾元素的個數；
(2)譜線重疊-自吸校正模型：?其中，Ii為被干擾元素的測量強度，Ic為被干擾元素沒有干擾時的凈強度，Iij為第I塊標準樣品第j個具有自吸干擾性質的干擾元素的強度，Kj＝l..m為自吸干擾系數；1為同一塊標準樣品中可能的疊加干擾元素的個數；Iil為第i個標準樣品中第1個具有疊加干擾性質的干擾元素的強度，K1＝1..l為疊加干擾系數。
2.根據權利要求1所述的通過元素的測量強度計算被干擾元素濃度的方法，其特征在于，所述譜線重疊校正模型的求解方法為：假設標準樣品有n塊，因此我們共有n組數據，根據加權最小二乘法，有：
設Ic＝Ci*K0，其中Ci為第i塊標準樣品被干擾元素的濃度，K0為沒有干擾時的系數，Iij為第I塊標準樣品第j個干擾元素的強度，Kj為重疊干擾校正系數，m為重疊干擾元素的個數，n為標準樣品個數，則上式可寫為
根據
得
可整理得到如下方程組
分別求解出系數K0?K1?K2...Km。然后將測量獲得的干擾元素的強?度和被干擾元素的強度代入譜線重疊校正模型?計算出被干擾元素的凈信號強度Ic。利用已知的標準樣品通過擬合的方法求得經典模型C＝A*Ic3+B*Ic2+C*Ic+D中的系數A、B、C、D；再將待分析樣品的Ic重新代入經典模型C＝A*Ic3+B*Ic2+C*Ic+求得分析樣品中被干擾元素的含量C。
3.根據權利要求1所述的通過元素的測量強度計算被干擾元素濃度的方法，其特征在于，所述譜線重疊-自吸校正模型的求解方法為：假設標準樣品有n塊，因此我們共有n組數據，根據加權最小二乘法，有
設Ic＝Ci*K0，其中Ci為第i塊標準樣品被干擾元素的濃度，K0為沒有干擾時的系數，則上式可寫為
根據
得
可整理得如下方程組：?
分別求解出系數K0?K1?K2...Km。然后將測量獲得的干擾元素的強度和被干擾元素的強度代入譜線重疊-自吸校正模型?計算出被干擾元素的凈信號強度Ic。利用已知的標準樣品通過擬合的方法求得經典模型C＝A*Ic3+B*Ic2+C*Ic+D中的系數A、B、C、D；再將待分析樣品的Ic重新代入經典模型C＝A*Ic?3+B*Ic2+C*Ic+求得分析樣品中被干擾元素的含量C。?
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