[發明專利]一種紅外圖像的線性拉伸方法有效
| 申請號: | 201210286867.9 | 申請日: | 2012-08-14 |
| 公開(公告)號: | CN102831573A | 公開(公告)日: | 2012-12-19 |
| 發明(設計)人: | 劉子驥;楊書兵;勞常委;蔡貝貝;鄭興 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | G06T3/20 | 分類號: | G06T3/20 |
| 代理公司: | 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 譚新民 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 紅外 圖像 線性 拉伸 方法 | ||
1.一種紅外圖像的線性拉伸方法,包括:
獲取紅外圖像;
用所述紅外圖像的像素點灰度值構建最大二叉堆和最小二叉堆;
獲取所述最大二叉堆的根節點,以所述最大二叉堆的根節點為所述紅外圖像的暗點灰度值;
獲取所述最小二叉堆的根節點,以所述最小二叉堆的根節點為所述紅外圖像的亮點灰度值;
根據所述亮點灰度值和所述暗點灰度值獲得所述紅外圖像的拉伸參數;
用所述拉伸參數拉伸所述紅外圖像。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,其中用所述紅外圖像的像素點灰度值構建最大二叉堆和最小二叉堆包括:
初始化所述最大二叉堆和所述最小二叉堆;
獲取所述紅外圖像的所述像素點灰度值;
比較所述像素點灰度值和所述最大二叉堆的根節點,當所述像素點灰度值小于所述最大二叉堆的根節點時,用所述像素點灰度值更新所述最大二叉堆的根節點,并對所述最大二叉堆重新進行建堆操作;
比較所述像素點灰度值和所述最小二叉堆的根節點,當所述像素點灰度值大于所述最小二叉堆的根節點時,用所述像素點灰度值更新所述最小二叉堆的根節點,并對所述最小二叉堆重新進行建堆操作。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,其中獲取所述紅外圖像的所述像素點灰度值之后還包括:
判斷所述像素點是否為盲元;
當所述像素點是盲元時,對所述像素點進行盲元補償。
4.如權利要求2所述的方法,其特征在于,其中獲取所述紅外圖像的所述像素點灰度值之后還包括:對所述像素點灰度值進行非均勻校正。
5.如權利要求1所述的方法,其特征在于,在根據所述亮點灰度值和所述暗點灰度值獲得所述紅外圖像的拉伸參數之前還包括:
計算所述亮點灰度值和所述暗點灰度值的差值;
比較所述差值和第一閾值;
當所述差值大于所述第一閾值時,根據所述亮點灰度值和所述暗點灰度值獲得所述紅外圖像的拉伸參數。
6.如權利要求1所述的方法,其特征在于,在根據所述亮點灰度值和所述暗點灰度值獲得所述紅外圖像的拉伸參數之前還包括:
用調整系數調整所述亮點灰度值。
7.如權利要求1至6中任意一項所述的方法,其特征在于,其中根據所述亮點灰度值和所述暗點灰度值獲得所述紅外圖像的拉伸參數包括:按照下列公式計算所述拉伸參數:
,
,
其中,S為第一拉伸參數,O為第二拉伸參數,High’為第三拉伸參數,Low’為第四拉伸參數,High為所述亮點灰度值,Low為所述暗點灰度值,Max為拉伸目標灰度值上限,Min為拉伸目標灰度值下限,[?]是取整運算,是向下取整運算,是向上取整運算。
8.如權利要求1至6中任意一項所述的方法,其特征在于,其中用所述拉伸參數拉伸所述紅外圖像包括:按照下列公式計算拉伸后的紅外圖像的像素點的灰度值:
,
其中,S為第一拉伸參數,O為第二拉伸參數,High’為第三拉伸參數,Low’為第四拉伸參數,R為所述紅外圖像的像素點灰度值,Y為拉伸后的紅外圖像的像素點的灰度值,Max為拉伸目標灰度值上限,Min為拉伸目標灰度值下限。
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