[發明專利]光盤庫裝置和光盤裝置選擇方法有效
| 申請號: | 201210285488.8 | 申請日: | 2012-08-13 |
| 公開(公告)號: | CN103000200A | 公開(公告)日: | 2013-03-27 |
| 發明(設計)人: | 冰見拓也;藤田真治;市川紀元 | 申請(專利權)人: | 日立樂金資料儲存股份有限公司;日立民用電子株式會社 |
| 主分類號: | G11B17/22 | 分類號: | G11B17/22 |
| 代理公司: | 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322 | 代理人: | 龍淳 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 盤庫 裝置 光盤 選擇 方法 | ||
技術領域
本發明涉及光盤裝置,特別涉及在使用了多個光盤裝置的光盤庫裝置中管理各個光盤裝置的使用狀態,選擇要使用的光盤裝置的方法。
背景技術
專利文獻1中記載了這樣的技術內容,“設置一種在接口轉換器中對上級裝置發出的裝載命令的發出次數進行計數,在彈出(eject)時或接收到讀/寫類命令時,從驅動器采集尋軌動作次數和寫區塊數并加以儲存的單元。此外,對各信息分別具有閾值,將儲存的統計信息與閾值比較,在超過閾值的情況下使驅動器成為已到壽命模式狀態。在已到壽命模式狀態時,通過設置限制來自上級裝置的命令處理的單元,能夠檢測出到達壽命區域。”
專利文獻2中記載了這樣的內容,“管理硬盤裝置的使用歷史記錄,基于該使用歷史記錄選定已決定的使用個數的硬盤裝置。使用歷史記錄可以使用由硬盤裝置在內部進行管理的管理信息(例如SMART(Self-Monitoring?Analysis?and?Reporting?Technology:自監分析和報告技術)),也可以由該信息處理裝置單獨管理各硬盤裝置的使用次數、使用時間。例如,如果優先選定使用次數和使用時間少的硬盤裝置,則各硬盤裝置的使用頻度被平均化。”
專利文獻3中記載了這樣的內容,“使用圖5說明光盤裝置204中的壽命模式到達設定處理。本處理用于決定是否使到達壽命的驅動器210不能使用。首先,在步驟500中進行了壽命管理處理(相當于圖3、圖4)之后,在步驟501中與預先設定的閾值進行比較,在判斷為超過閾值的情況下在步驟502中使該驅動器210成為壽命模式到達設定。這樣,超過壽命閾值的驅動器自動被設定為壽命模式,但也能夠設置通過SCSI接口阻止來自上級裝置的指令的單元。”
專利文獻1:日本特開平10-162402號公報
專利文獻2:日本特開2007-164912號公報
專利文獻3:日本特開2006-18955號公報
發明內容
光盤裝置由光拾取器和主軸電機等多個部件構成,由于進行光盤的信息記錄或信息再現等,裝置內的部件會劣化,會產生故障,或動作變得不穩定,所以需要推測部件的劣化狀態,管理裝置壽命。
特別是在使用了多個光盤裝置的光盤庫裝置中,在特定的光盤裝置因使用頻度高而發生劣化的情況下,劣化的光盤裝置的可靠性不能保障,所以可能損害光盤庫裝置整體的可靠性。因此,為了確保維持裝置整體的可靠性,評價并管理各光盤裝置的使用狀態或劣化狀態是重要的一點。
作為管理光盤裝置的壽命的技術,已知上述專利文獻1和3,通過檢測光盤裝置的壽命而進行禁止使用或禁止寫入動作的處理,但沒有考慮在到達壽命之前對信息的記錄或再現中使用的光盤裝置的選擇進行控制的內容。
關于硬盤裝置中的使用頻度平均化,已知專利文獻3,但其僅限于評價硬盤裝置的載入次數等作為使用歷史記錄,沒有考慮到對與光盤裝置相應的項目和劣化狀態等進行評價。
為了解決上述問題,本發明使用例如權利要求中記載的技術方案。
例如,本發明提供一種光盤庫裝置,從能夠對光盤進行記錄再現的多個光盤裝置中選擇要使用的光盤裝置,其特征在于,包括:庫控制部,對上述多個光盤裝置進行控制;和光盤裝置監視部,監視上述多個光盤裝置的狀態,保存包括上述光盤裝置的使用頻度信息的自監視信息,在使用光盤裝置對光盤實施信息的記錄或再現之前,從上述光盤裝置監視部獲取上述自監視信息,基于上述自監視信息中所包括的使用頻度信息或劣化信息來評價上述光盤裝置的使用優先級,基于上述使用優先級來選擇要在信息的記錄或再現中使用的光盤裝置。
此外,本發明提供一種光盤裝置選擇方法,從能夠對光盤進行記錄再現的多個光盤裝置中選擇要使用的光盤裝置,其特征在于,包括:在光盤裝置對光盤實施記錄或再現之前,獲取上述多個光盤裝置的自監視信息的自監視信息獲取步驟;基于上述自監視信息來評價上述光盤裝置的使用優先級的使用優先級評價步驟;和基于上述使用優先級來選擇要使用的光盤裝置的光盤裝置選擇步驟。
此外,本發明提供一種光盤裝置選擇方法,從能夠對光盤進行記錄再現的多個光盤裝置中選擇要使用的光盤裝置,其特征在于,包括:在光盤裝置對光盤實施記錄或再現之前,獲取上述多個光盤裝置的自監視信息的自監視信息獲取步驟;基于上述自監視信息來評價上述光盤裝置的劣化狀態的劣化狀態評價步驟;基于上述自監視信息來評價上述光盤裝置的使用優先級的使用優先級評價步驟;和基于上述使用優先級來選擇要使用的光盤裝置的光盤裝置選擇步驟。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于日立樂金資料儲存股份有限公司;日立民用電子株式會社,未經日立樂金資料儲存股份有限公司;日立民用電子株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210285488.8/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





