[發(fā)明專利]一種基于量子點的中子能譜測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210282551.2 | 申請日: | 2012-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN102788990A | 公開(公告)日: | 2012-11-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 祝慶軍;宋逢泉;宋鋼;廖燕飛;吳宜燦 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院 |
| 主分類號: | G01T3/00 | 分類號: | G01T3/00 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 11251 | 代理人: | 成金玉 |
| 地址: | 230031 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 量子 中子 測量方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及中子能譜測量,特別是一種基于量子點的中子能譜測量方法,屬于核技術(shù)及應(yīng)用、放射醫(yī)學(xué)與輻射生物學(xué)、輻射防護等多學(xué)科交叉領(lǐng)域中的能量測量。
背景技術(shù)
中子能譜信息能夠為屏蔽設(shè)計、輻射劑量監(jiān)測、探測器的選擇提供重要的信息,目前中子能譜信息的獲取方法通常有以下兩種:(1)直接測量法。對單個中子能量進行直接測量,在統(tǒng)計的基礎(chǔ)上獲得中子能譜信息,其代表方法是中子飛行時間測量法。中子飛行時間測量法的優(yōu)點在于能量分辨高,但由于整個測量系統(tǒng)需要屏蔽和準(zhǔn)直系統(tǒng)、范圍巨大的空間(通常飛行距離為8-9m),復(fù)雜的電子學(xué)系統(tǒng),所以中子飛行時間法只是針對特定的中子源進行中子能譜測量,沒有普適性;(2)間接測量法。利用對中子能量響應(yīng)函數(shù)不同的探測器,將多個探測器放置于未知輻射場獲取多個探測器的讀數(shù),通過建立方程組,使用反卷積方法求解方程組,獲得中子能譜信息。目前設(shè)計對中子能量響應(yīng)函數(shù)不同的探測器的方法是通過改變慢化體厚度的方法,如Bonner多球中子譜儀,或是采用反應(yīng)閾值不同的材料,如多箔活化片法。根據(jù)這些方法設(shè)計的具有不同中子能量響應(yīng)函數(shù)的探測器的數(shù)目較少(小于20個),因此建立的方程組自由度較大,求解出中子譜能量分辨率較低。這種測量方法的優(yōu)點是測量系統(tǒng)具有移植性,能夠適用于大部分中子源的中子能譜測量。
量子點的三維尺寸等于或者小于其激子波爾半徑,量子點呈現(xiàn)出特殊的光學(xué)性質(zhì)和穩(wěn)定性,廣泛應(yīng)用于生物學(xué)和醫(yī)學(xué)研究,作為發(fā)光材料,目前是顯示、照明等研究領(lǐng)域的熱點。量子點在輻射測量領(lǐng)域的也開始受到關(guān)注。但目前并未發(fā)現(xiàn)同時使用多種量子點組成的探測器用于中子能譜測量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)解決問題:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種基于量子點的中子能譜測量方法,有效改善了中子能譜測量結(jié)果能量分辨率。
本發(fā)明技術(shù)解決方案:一種基于量子點的中子能譜測量方法,實現(xiàn)步驟如下:
(1)刻度量子點光學(xué)信號強度與中子能量的函數(shù)關(guān)系
將待刻度的能量范圍劃分的為N個能群,N>20,第j個能群的能量為Ej,其中j=1,2,3…N,如將10-9MeV到650MeV能量范圍劃分為60個能群。中子探測器采用M種量子點,M>3,將M種量子點和量子點光學(xué)信號強度采集系統(tǒng)置于已知輻射場中,M種量子點所放置位置處的中子能量Ej,這時量子點光學(xué)信號強度采集系統(tǒng)測量到第i種量子點光學(xué)信號強度Li(Ej),i=1,2,3…M。最終根據(jù)N個能群的中子能量和相應(yīng)的M種量子點的光學(xué)信號強度,得到M種量子點光學(xué)信號強度對中子能量的響應(yīng)函數(shù),第i種量子點光學(xué)信號強度對中子能量的響應(yīng)函數(shù)為Ri(Ej)。
(2)測量未知輻射場中量子點光學(xué)信號強度
將M種量子點和量子點光學(xué)信號強度采集系統(tǒng)放置于未知輻射場中,量子點光學(xué)信號強度采集系統(tǒng)測量到第i種量子光學(xué)信號強度Li,Li的標(biāo)準(zhǔn)差為σi;
(3)根據(jù)步驟(2)未知輻射場中所述量子點光學(xué)信號強度Li,以及步驟(1)中所述量子點光學(xué)信號強度對中子能量響應(yīng)函數(shù)Ri(Ej),建立方程組使用反卷積方法求解方程組,獲得方程組解為F(Ej),F(xiàn)(Ej)為能量為Ej的中子通量,F(xiàn)(Ej)即為中子能譜信息。
所述M種量子點中的每個量子點的三維尺寸小于量子點的發(fā)射光譜中峰值處的波長。
M種量子點中每兩種量子點的發(fā)射光譜中峰值波長相差超過10nm。例如選擇4種量子點,4種量子點發(fā)射光譜中峰值波長分別為400nm,500nm,550nm,600nm。
所述量子點光學(xué)信號強度采集系統(tǒng)包括:M個光學(xué)分頻器、M個波長轉(zhuǎn)換劑、M個光電倍增管、多道分析器和處理和存儲設(shè)備;M種量子點產(chǎn)生的光學(xué)信號輸入M個光學(xué)分頻器,由M個光學(xué)分頻器分為M個光學(xué)信號,M個光學(xué)信號輸入M個波長轉(zhuǎn)換劑,M個波長轉(zhuǎn)換劑將M個輸入光學(xué)信號轉(zhuǎn)換為適宜接收波長范圍后至輸入M個光電倍增管,M個光電倍增管將光學(xué)信號轉(zhuǎn)換為M個電信號,所述M個電信號分別輸入至多道分析器,多道分析器將M個電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號后將數(shù)字信號輸入處理和存儲設(shè)備中,由處理和存儲設(shè)備對數(shù)字信號進行處理和存儲。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院,未經(jīng)中國科學(xué)院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210282551.2/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種超聲波熱量分戶計量表
- 下一篇:燒嘴磚





