[發明專利]超高速隨機接入處理方法、裝置及系統有效
| 申請號: | 201210278680.4 | 申請日: | 2012-08-07 |
| 公開(公告)號: | CN103581944A | 公開(公告)日: | 2014-02-12 |
| 發明(設計)人: | 萬莉 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | H04W24/00 | 分類號: | H04W24/00;H04W74/08 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 超高速 隨機 接入 處理 方法 裝置 系統 | ||
1.一種超高速隨機接入處理方法,所述方法包括:
根據小區類型和第一循環移位參數Ncs,選取Zadoff-Chu(ZC)序列組,為所述ZC序列組中每個ZC序列設置N個檢測窗口,N≥5;
發送所述小區類型、第二Ncs和所述ZC序列組給用戶設備UE,使得所述UE在所述ZC序列組中選擇隨機接入序列;
接收所述UE發送的隨機接入信號,從所述隨機接入信號中獲取所述隨機接入序列;
將所述隨機接入序列分別與所述ZC序列組中每個ZC序列做相關處理,在所述每個ZC序列的N個檢測窗口中檢測有效峰值,根據所述有效峰值確定往返傳輸時延RTD的估計值。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,當所述ZC序列組中包含M個ZC序列時,所述為所述ZC序列組中每個ZC序列設置N個檢測窗口包括:
獲取所述ZC序列組中第i個ZC序列的duHT值;
根據所述第i個ZC序列的duHT值,確定所述第i個ZC序列的N個檢測窗口的起始位置;
根據所述N個檢測窗口的起始位置和預設置的檢測窗口大小,設置所述第i個ZC序列的N個檢測窗口;
其中,所述第i個ZC序列的duHT值指的是當頻偏為正或負時所述第i個ZC序列在功率延遲譜PDP中的鏡像峰相對于所述RTD的移位,TSEQ是所述第i個ZC序列占用的時間長度,i的取值為[1,M]的所有整數。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,當所述超高速隨機接入的頻偏范圍為且所述ZC序列組中包含M個ZC序列時,ΔfRA表示隨機接入信道的子載波間隔,所述為所述ZC序列組中每個ZC序列設置N個檢測窗口包括:
獲取所述ZC序列組中第i個ZC序列的duHT值;
根據所述第i個ZC序列的duHT值,設置所述第i個ZC序列的5個檢測窗口;
其中,所述第i個ZC序列的duHT值指的是當頻偏為正或負時所述第i個ZC序列在功率延遲譜PDP中的鏡像峰相對于所述RTD的移位,TSEQ是所述第i個ZC序列占用的時間長度,i的取值為[1,M]的所有整數。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據所述第i個ZC序列的duHT值,設置所述第i個ZC序列的5個檢測窗口包括:
根據所述第i個ZC序列的duHT值,獲得所述第i個ZC序列的5個檢測窗口的起始位置;
其中,所述5個檢測窗口分別為檢測窗口①、檢測窗口②、檢測窗口③、檢測窗口④和檢測窗口⑤;
所述檢測窗口①的起始位置為0;
所述檢測窗口②的起始位置為mod(duHT,Nzc);
所述檢測窗口③的起始位置為mod(-duHT,Nzc);
所述檢測窗口④的起始位置為mod(2*duHT,Nzc);
所述檢測窗口⑤的起始位置為mod(-2*duHT,Nzc);
Nzc是所述第i個ZC序列的長度;
根據所述第i個ZC序列的5個檢測窗口的起始位置和預設置的檢測窗口大小,設置所述第i個ZC序列的5個檢測窗口。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于華為技術有限公司,未經華為技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210278680.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:金屬化電容賦能焊接編排機導針打扁切斷機構
- 下一篇:膜片裝配機





