[發明專利]一種確定弱透水層水文地質參數的方法

有效

• 申請號: 201210276528.2
• 申請日: 2012-08-03
• 公開（公告）號: CN102809642A
• 公開（公告）日: 2012-12-05
• 發明（設計）人: 周志芳;趙燕容;竇智;郭巧娜;田勝
• 申請（專利權）人: 河海大學
• 主分類號: G01N33/24
• 分類號: G01N33/24;G01N15/08
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 柏尚春

1.一種確定弱透水層水文地質參數的方法，其特征在于：首先，基于土柱試驗模型，推導在弱透水層柱體一側水頭降低某一常量條件下弱透水層單位水平面積的流量公式解析解；然后，給出基于流量隨時間變化的實驗資料，采用配線法確定弱透水層傳導系數、滲透系數和貯水率的方法。

2.如權利要求1所述的確定弱透水層水文地質參數的方法，其特征在于：所述土柱試驗模型從下到上依次包括下濾層、試樣段、上濾層、水；所述下濾層上端的弱透水層柱體底端側壁上設有出水管，出水管向上延伸至試樣段以上，出水管的出水口對應一接水容器，且出水口處設有閥門；所述土柱試驗模型上部設有溢流口，且溢流口的高度大于出水口的高度；所述土柱試驗模型最上端設有進水口；所述進水口處設有閥門。

3.如權利要求1所述的確定弱透水層水文地質參數的方法，其特征在于：所述基于流量隨時間變化的實驗資料，采用配線法確定弱透水層傳導系數、滲透系數和貯水率的方法，即將記錄的弱透水層的流量Q除以弱透水層柱體橫截面積S，化為單位面積流量q(cm/min)，在與標準曲線相同模的雙對數坐標系中作q~t實測曲線，與標準曲線配線，使兩條曲線重疊最好，任選一匹配點，記下對應的坐標值[q]、和[t]，代入相應公式計算傳導系數a、滲透系數K、貯水率μ。