[發明專利]高頻電路及高頻模塊

有效

• 申請號: 201210274449.8
• 申請日: 2012-08-03
• 公開（公告）號: CN102916660A
• 公開（公告）日: 2013-02-06
• 發明（設計）人: 門井涼;林范雄;清水智;山本昭夫
• 申請（專利權）人: 瑞薩電子株式會社
• 主分類號: H03F3/19
• 分類號: H03F3/19
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 金曉

1.一種高頻電路，包括

高頻功率放大器電路，包括放大器單元和偏置控制單元；

工藝監測電路；

搜索控制單元；和

時鐘產生單元，

其中配置高頻功率放大器電路的放大器單元的放大晶體管的放大增益被偏置控制單元設定的放大晶體管的偏置電流控制，

其中工藝監測電路包括第一元件特性檢測器、第二元件特性檢測器和電壓比較器，

其中第一元件特性檢測器的第一復制晶體管、第二元件特性檢測器的第二復制晶體管和放大器單元的放大晶體管由相同的半導體制造工藝形成，

其中第一元件特性檢測器將第一復制晶體管的第一輸出電流轉換成第一檢測電壓，

其中第二元件特性檢測器將第二復制晶體管的第二輸出電流轉換成第二檢測電壓，

其中電壓比較器比較第一檢測電壓和第二檢測電壓，并提供比較輸出信號給搜索控制單元，

其中，響應于時鐘產生單元產生的時鐘信號和電壓比較器的比較輸出信號，搜索控制單元根據預定搜索算法產生用于最小化第一檢測電壓和第二檢測電壓之間的差的多位數字誤差補償值，并且

其中響應于根據預定搜索算法最終存儲在搜索控制單元中的數字誤差補償值，第二元件特性檢測器和偏置控制單元被反饋控制。

2.根據權利要求1的高頻電路，

其中，在用于形成高頻功率放大器電路的半導體制造工藝的變化能夠被基本上忽略的理想狀況下，第一元件特性檢測器的第一檢測電壓和第二元件特性檢測器的第二檢測電壓被設定到基本相等的電壓電平。

3.根據權利要求2的高頻電路，

其中，在所述理想狀況下，第二復制晶體管的第二輸出電流被設定為大于第一復制晶體管的第一輸出電流，

其中第一元件特性檢測器包括用于將第一復制晶體管的第一輸出電流轉換為第一檢測電壓的第一電流-電壓轉換電阻器，和用于將第二復制晶體管的第二輸出電流轉換為第二檢測電壓的第二電流-電壓轉換電阻器，并且

其中第一電流-電壓轉換電阻器被設定為大于第二電流-電壓轉換電阻器，以將第一檢測電壓和第二檢測電壓設定為理想狀況下的處于基本相等的電壓電平。

4.根據權利要求3的高頻電路，

其中第一元件特性檢測器包括耦合到第一復制晶體管以配置電流鏡的第一偏置晶體管，和用于使第一電流穿過第一偏置晶體管的第一電流源，

其中第二元件特性檢測器包括耦合到第二復制晶體管以配置電流鏡的第二偏置晶體管，和用于使第二電流穿過第二偏置晶體管的第二電流源，

其中放大器單元包括耦合到放大晶體管以配置電流鏡的第三偏置晶體管，

其中流過放大器單元的第三偏置晶體管的第三電流由配置為第三電流源的偏置控制單元設定，并且

其中響應于最終存儲在搜索控制單元中的數字誤差補償值，控制流過第二元件特性檢測器的第二電流源的第二電流值和流過放大器單元的第三電流源的第三電流值。