[發明專利]低損耗電阻測試裝置

無效

• 申請號: 201210271911.9
• 申請日: 2012-08-02
• 公開（公告）號: CN102809694A
• 公開（公告）日: 2012-12-05
• 發明（設計）人: 阮獻忠
• 申請（專利權）人: 泰州市雙宇電子有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.低損耗電阻測試裝置，用于快速檢測電阻（100）的阻值，且該電阻（100）兩端分別設有接腳（101），該低損耗電阻測試裝置包括基座板（10），基座板（10）上設有電阻表（20）和左銅帶（31）、右銅帶（32），其中，電阻表（20）的2個端子分別連接左銅帶（31）和右銅帶（32），且左銅帶（31）和右銅帶（32）呈“八”字型分布，其特征在于：所述左銅帶（31）和右銅帶（32）之間設有滑塊（40），滑塊（40）上設有容納槽（41），容納槽（41）的兩端設有保護槽（411），其中，電阻（100）放置于容納槽（41）內，且2個接腳（101）分別和2個保護槽（411）相配。

2.根據權利要求1所述的低損耗電阻測試裝置，其特征在于：所述2個保護槽（411）的寬度均為1mm。

3.根據權利要求1所述的低損耗電阻測試裝置，其特征在于：所述基座板（10）上位于左銅帶（31）和右銅帶（32）之間設有滑槽（11），該滑槽（11）和滑塊（40）相配。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的低損耗電阻測試裝置，其特征在于：所述左銅帶（31）和右銅帶（32）均為一端固定在基座板（10）上、另一端呈自由狀態。