[發明專利]一種開關電容共模反饋結構

有效

• 申請號: 201210271855.9
• 申請日: 2012-08-02
• 公開（公告）號: CN102751956A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 寧寧;朱波;宋文青;倪春曉;陳華;徐雙恒;眭志凌;楊暢;鄭杰
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: H03F3/45
• 分類號: H03F3/45
• 代理公司: 成都科海專利事務有限責任公司 51202
• 代理人: 盛明潔

1.一種開關電容共模反饋結構，其特征在于該結構包含一共模檢測開關電容電路(201)和一運算放大器電路(202)，共模檢測開關電容電路(201)的兩個輸入端分別接全差分運算放大器雙端輸出電壓V_op和V_on，輸出中間檢測共模電壓V_det接到運算放大器電路(202)的正端，理想共模電壓V_cm接到運算放大器電路的負端，中間檢測共模電壓V_det與理想共模電壓V_cm比較放大后，輸出共模反饋電流源偏置電壓V_cmfb，并反饋回全差分運算放大器的電流源偏置點，穩定全差分運算放大器的共模電壓。

2.根據權利要求1所述的一種開關電容共模反饋結構，其特征在于所述的共模檢測開關電容電路(201)由四個開關S1~S4、兩個電容C₁和兩個電容C₂組成，全差分運算放大器的雙端輸出電壓V_op和V_on分別接到(201)的兩個輸入端，兩個電容C₁和兩個電容C₂的一端全部接到同一點，開關S₃和S₄的兩端分別接到電容C₁和C₂的另一端，開關S₁和S₂的兩端分別接到電容C₁的兩端，當開關S₁和S₂斷開、開關S₃和S₄閉合時，電容C₁和C₂并聯，當開關S₁和S₂閉合、開關S₃和S₄斷開時，電容C₁短路，開關由非交疊時鐘φ₁和φ₂控制，經過多個時鐘后共模檢測開關電容電路輸出中間檢測共模電壓，該電壓可表示為：

Vdet=Vop+Von2+(C2C1+C2)n·(V0-Vop+Von2)]]>(式9)

其中V_det為中間檢測共模電壓，V_op和V_on分別為全差分運算放大器雙端輸出電壓，V₀是在初始狀態下中間檢測電壓值，C₁和C₂表示電路中兩個電容的電容值，n為電路中開關的轉換次數，該開關電容電路能檢測到共模電壓。

3.根據權利要求1所述的一種開關電容共模反饋結構，其特征在于所述的運算放大器電路(202)為一個運算放大器，它的正端連接到共模檢測開關電容電路(201)的中間檢測共模電壓V_det，運算放大器的負端連接理想共模電壓V_cm，運算放大器將共模差值放大，最終輸出共模反饋電流源偏置電壓V_cmfb，并反饋回全差分運算放大器的電流源偏置點，穩定全差分運算放大器的共模電壓。