[發(fā)明專利]原子基態(tài)超精細塞曼頻率的測量裝置和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210270295.5 | 申請日: | 2012-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN102788900A | 公開(公告)日: | 2012-11-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 雷海東 | 申請(專利權(quán))人: | 江漢大學(xué) |
| 主分類號: | G01R23/02 | 分類號: | G01R23/02 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
| 地址: | 430056 湖北省武漢市*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 原子 基態(tài) 精細 頻率 測量 裝置 方法 | ||
1.一種原子基態(tài)超精細塞曼頻率的測量裝置,其特征在于,所述裝置包括:
光輻射模塊,用于使原子產(chǎn)生輻射光,所述輻射光的譜線包括兩個超精細結(jié)構(gòu)成分;
過濾模塊,用于采用所述原子的同位素濾除所述兩個超精細結(jié)構(gòu)成分中的一個,得到過濾后的輻射光;
分裂躍遷模塊,用于在所述過濾后的輻射光的照射下,通過磁場和射頻信號的作用,使微波腔中的原子發(fā)生分裂并產(chǎn)生共振躍遷,所述微波腔中的原子與所述光輻射模塊中的原子為同一種原子;
光檢模塊,用于實時檢測透過所述分裂躍遷模塊的輻射光的強度,并產(chǎn)生光強信號;
主控計算模塊,用于為所述微波腔提供所述射頻信號,根據(jù)所述射頻信號與所述光強信號的對應(yīng)關(guān)系,得到所述原子的吸收譜線,并根據(jù)所述吸收譜線計算所述原子的基態(tài)超精細塞曼頻率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述光輻射模塊為87Rb光譜燈;所述過濾模塊為85Rb濾光泡;所述分裂躍遷模塊包括所述微波腔和放置在所述微波腔內(nèi)的87Rb吸收泡;所述微波腔外繞制產(chǎn)生所述磁場的通電線圈。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述主控計算模塊具體包括:
射頻信號產(chǎn)生單元,用于輸出并記錄所述射頻信號;
電流產(chǎn)生單元,用于產(chǎn)生電流以控制所述磁場的大??;
采樣單元,用于根據(jù)輸出所述射頻信號的時序?qū)λ龉鈴娦盘栠M行采樣并記錄,使所述光強信號與所述射頻信號一一對應(yīng);
計算單元,用于根據(jù)所述光強信號與所述射頻信號的對應(yīng)關(guān)系,得到所述原子對應(yīng)的吸收譜線,并根據(jù)所述吸收譜線計算并顯示計算出的所述的原子基態(tài)超精細塞曼頻率。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置,其特征在于,所述射頻信號產(chǎn)生單元為掃頻儀。
5.一種原子基態(tài)超精細塞曼頻率的測量方法,其特征在于,所述方法包括:
使原子產(chǎn)生輻射光,所述輻射光的譜線包括兩個超精細結(jié)構(gòu)成分;
采用所述原子的同位素濾除所述兩個超精細結(jié)構(gòu)成分中的一個,得到過濾后的輻射光;
在所述過濾后的輻射光的照射下,通過磁場和射頻信號的作用,使微波腔中原子發(fā)生分裂并產(chǎn)生共振躍遷,所述微波腔中的原子與產(chǎn)生輻射光的原子為同一種原子;
實時檢測透過所述微波腔的輻射光的強度,并產(chǎn)生光強信號;
根據(jù)所述射頻信號與所述光強信號的對應(yīng)關(guān)系,得到所述原子的吸收譜線,并根據(jù)所述吸收譜線計算所述原子的基態(tài)超精細塞曼頻率。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述吸收譜線計算所述原子的基態(tài)超精細塞曼頻率,包括:
在所述吸收譜線中,分別獲取最小的光強信號對應(yīng)的所述射頻信號的頻率值、以及次小的光強信號對應(yīng)的所述射頻信號的頻率值;
計算最小的光強信號對應(yīng)的射頻信號的頻率值與次小的光強信號對應(yīng)的射頻信號的頻率值之間的差值,得到所述原子的基態(tài)超精細塞曼頻率。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述射頻信號的變化范圍為6832.6875MHz~6836.6875MHz,步長為500Hz。
8.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述磁場的大小在100mG以內(nèi)。
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