[發明專利]用于檢驗處理電子器件的設備、方法和計算機程序產品

無效

• 申請號: 201210269961.3
• 申請日: 2012-07-31
• 公開（公告）號: CN102914736A
• 公開（公告）日: 2013-02-06
• 發明（設計）人: D.加萊恩
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/00;A61B6/03
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

1.一種用于檢驗處理電子器件（19）、尤其是計算機斷層造影設備的檢測器模塊的集成電路的設備（1，1′），包括：

-處理中心（5），所述處理中心在運行中定義測試流程和/或進一步處理來自測試流程的結果數據（ED，ED_a，ED_b），

-與所述處理中心（5）相連接的流程單元（23），該流程單元在運行中在從處理中心（5）接收測試流程的定義（TAD₁，TAD₂）之后獨立地執行這些測試流程，并且該流程單元與用于接觸所述處理電子器件(19)的接觸設備（21）耦合，

-信號發生器（7），所述信號發生器將測試信號(TS)導入處理邏輯器（19），以及

-至少一個觸發單元（13，13a，13b），所述觸發單元在運行中實時地將通過所述流程單元（23）執行的測試流程的開始與通過所述信號發生器（7）對所述測試信號（TS）的導入相互同步。

2.根據權利要求1所述的設備，其中，所述流程單元（23）包括可編程存儲單元，尤其是FPGA。

3.根據權利要求1或2所述的設備，其中，所述流程單元（23）與獨立于所述處理中心（5）的電源（11）相連接。

4.根據上述權利要求中任一項所述的設備，其中，所述信號發生器（7）被連接到信號輸出單元（17）。

5.根據權利要求4所述的設備，其中，所述信號輸出單元（17）包括電磁輻射源，尤其是光源。

6.根據上述權利要求中任一項所述的設備，其中，所述接觸設備（21）連接到用于向所述處理電子器件（19）供應運行電流（BS₂）的電源單元（9）。

7.根據權利要求6所述的設備，其中，所述電源單元（9）由所述處理中心（5）控制。

8.根據上述權利要求中任一項所述的設備，其中，所述接觸設備（21）容納在不透光的外殼（3，3a，3b）中。

9.根據上述權利要求中任一項所述的設備，其中，所述處理中心（5）與所述流程單元（23）經由以太網接口（25）相互連接。

10.根據上述權利要求中任一項所述的設備，其中，所述觸發單元（13，13a）被構造為，使得該觸發單元將測試流程的開始與測試信號（TS）的導入這樣相互同步，即測試流程的開始引起測試信號（TS）的導入以及測試信號（TS）的導入引起測試流程的開始。

11.根據上述權利要求中任一項所述的設備（1′），包括多個接觸設備（21）。

12.根據上述權利要求中任一項所述的設備（1′），包括多個觸發單元（13，13a，13b）。

13.根據上述權利要求中任一項所述的設備，其中，觸發單元（13b）被構造為，使得該觸發單元將測試流程的開始與測試信號（TS）的導入這樣相互同步，即該觸發單元或者在測試流程的開始時引起測試信號（TS）的導入或者測試信號（TS）的導入引起測試流程的開始。

14.一種用于檢驗處理電子器件（19）、尤其是計算機斷層造影設備的檢測器模塊的集成電路的方法，包括以下步驟：

-在處理中心（5）中為所述處理電子器件（19）定義（A）測試流程，

-從所述處理中心（5）接收（B）測試流程的定義并且通過與所述處理中心（5）相連接的流程單元（23）獨立地執行這些測試流程，所述流程單元與用于接觸所述處理電子器件（19）的接觸設備（21）耦合，

-通過信號發生器（7）將測試信號（TS）導入（C）處理邏輯器（19），

-借助觸發單元（13，13a，13b）實時地將通過所述流程單元（23）執行的測試流程的開始與通過信號發生器（7）對測試信號（TS）的導入相互同步（D），以及

-在所述處理中心（5）中可選地對來自測試流程的結果數據（ED，ED_a，ED_b）進行進一步處理（E）。

15.一種能直接被加載到可編程檢驗系統的處理器中的計算機程序產品，具有程序代碼裝置，用于當程序產品在檢驗系統上實施時執行根據權利要求14所述的方法的所有步驟。