[發(fā)明專利]用于射線探測(cè)譜儀的穩(wěn)譜方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210265180.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-07-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103576181A | 公開(公告)日: | 2014-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙崑;王強(qiáng);王珍華;簡(jiǎn)應(yīng)榮;蒲中奇;王凱 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 同方威視技術(shù)股份有限公司;清華大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01T1/40 | 分類號(hào): | G01T1/40 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 吳敬蓮 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 射線 探測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于射線探測(cè)譜儀的穩(wěn)譜方法。
背景技術(shù)
射線探測(cè)譜儀一般由閃爍晶體、光電倍增管、電子學(xué)放大器以及多道脈沖分析器組成,用于探測(cè)各種射線并進(jìn)行核素識(shí)別。它基本技術(shù)路線是:閃爍晶體吸收(或部分吸收)射線、發(fā)光并將光匯聚到光電倍增管中;光電倍增管對(duì)光進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換、并線性倍增成電脈沖;電子學(xué)放大器對(duì)電脈沖進(jìn)行成型放大等處理,并將處理后的電脈沖傳送到多道譜儀;多道譜儀對(duì)該電脈沖進(jìn)行分析并轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。由于上述過程是一個(gè)線性放大和轉(zhuǎn)換過程,因此可利用射線探測(cè)譜儀測(cè)定入射射線的能譜,進(jìn)行核素識(shí)別等功能。
在閃爍晶體中,NaI閃爍晶體因其光產(chǎn)額高、探測(cè)效率高、能量分辨較好,是現(xiàn)在使用最廣的閃爍晶體,因而由NaI閃爍晶體組成的NaI譜儀是放射性物質(zhì)監(jiān)測(cè)和核素識(shí)別、分析的重要工具。
但是,由于NaI譜儀中NaI閃爍晶體的發(fā)光效率、光傳輸效率,光電倍增管性能,放大器增益,高壓的穩(wěn)定性等隨環(huán)境溫度、濕度的變化影響較大,所以由NaI譜儀測(cè)量到的射線能譜會(huì)受這些環(huán)境因素的影響而不穩(wěn)定,因此經(jīng)常需要用標(biāo)準(zhǔn)的放射源對(duì)其進(jìn)行重新定標(biāo)。
現(xiàn)有技術(shù)是定時(shí)用外部標(biāo)準(zhǔn)放射源定標(biāo),或在晶體內(nèi)參雜少量放射性核素進(jìn)行定時(shí)定標(biāo);也有利用LED發(fā)光模擬射線在探測(cè)器中的過程來進(jìn)行定時(shí)定標(biāo);此外還有一些現(xiàn)有技術(shù)采用自然本底譜中特征峰進(jìn)行人工定時(shí)定標(biāo)。但是這些對(duì)譜儀的定時(shí)重新定標(biāo)技術(shù)都存在無法對(duì)能譜漂移進(jìn)行在線監(jiān)控和穩(wěn)譜的缺點(diǎn),而且由于重新定標(biāo)經(jīng)常涉及到使用標(biāo)準(zhǔn)的放射源,因此還存在需要對(duì)這些標(biāo)準(zhǔn)放射源進(jìn)行嚴(yán)格管理的問題,以及經(jīng)常需要中斷測(cè)量過程。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于射線探測(cè)譜儀的穩(wěn)譜方法,該穩(wěn)譜方法能夠便捷地實(shí)現(xiàn)射線探測(cè)譜儀在線穩(wěn)譜。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,本發(fā)明提供了一種用于射線探測(cè)譜儀的穩(wěn)譜方法,該方法包括如下步驟:(1)采集環(huán)境本底能譜;(2)將采集到的環(huán)境本底能譜與基準(zhǔn)環(huán)境本底能譜進(jìn)行比較;以及(3)如果所采集的環(huán)境本底能譜與基準(zhǔn)環(huán)境本底能譜的差值超過預(yù)定的閾值,對(duì)射線探測(cè)譜儀進(jìn)行定標(biāo)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,所述的用于射線探測(cè)譜儀的穩(wěn)譜方法還包括:(4)保存所采集到的環(huán)境本底能譜。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,所述差值是特征峰的參數(shù)的差值。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,所述差值是特征峰的峰位的差值。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,根據(jù)特征峰的峰位對(duì)射線探測(cè)譜儀進(jìn)行定標(biāo)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀開機(jī)后,立即采集環(huán)境本底能譜并作為基準(zhǔn)環(huán)境本底能譜進(jìn)行保存。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀開機(jī)后,立即執(zhí)行步驟(1)和步驟(4)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,以預(yù)定的周期執(zhí)行步驟(1)至(3)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,以預(yù)定的周期執(zhí)行步驟(1)至(4)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,射線探測(cè)譜儀是NaI譜儀。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,自動(dòng)以預(yù)定的周期執(zhí)行步驟(1)至(3)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,自動(dòng)以預(yù)定的周期執(zhí)行步驟(1)至(4)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,實(shí)時(shí)以預(yù)定的周期執(zhí)行步驟(1)至(3)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,實(shí)時(shí)以預(yù)定的周期執(zhí)行步驟(1)至(4)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,實(shí)時(shí)和/或自動(dòng)執(zhí)行步驟(1)至(3)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,實(shí)時(shí)和/或自動(dòng)執(zhí)行步驟(1)至(4)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,實(shí)時(shí)和/或自動(dòng)以預(yù)定的周期執(zhí)行步驟(1)至(3)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,在射線探測(cè)譜儀正常操作期間,實(shí)時(shí)和/或自動(dòng)以預(yù)定的周期執(zhí)行步驟(1)至(4)。
申請(qǐng)人注意到:在一個(gè)相對(duì)固定的幾何空間條件下,環(huán)境本底譜中的天然放射性元素的射線強(qiáng)度、能譜結(jié)構(gòu)相對(duì)比較穩(wěn)定;如果能排除人工放射性射線對(duì)該本底譜的干擾,則能通過在線監(jiān)測(cè)該本底能譜中的特征能量峰位漂移情況,及時(shí)調(diào)整數(shù)控放大器增益,實(shí)現(xiàn)NaI譜儀在線穩(wěn)譜。申請(qǐng)人利用環(huán)境本底譜相對(duì)穩(wěn)定的特點(diǎn)而做出了本發(fā)明。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于同方威視技術(shù)股份有限公司;清華大學(xué),未經(jīng)同方威視技術(shù)股份有限公司;清華大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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