[發(fā)明專利]過零檢測器電路和具有過零檢測器電路的圖像形成設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210265011.3 | 申請日: | 2012-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN102901861A | 公開(公告)日: | 2013-01-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 犬飼勝己 | 申請(專利權(quán))人: | 兄弟工業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號: | G01R19/175 | 分類號: | G01R19/175;G03G15/00 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 李蘭;孫志湧 |
| 地址: | 日本愛知*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測器 電路 具有 圖像 形成 設(shè)備 | ||
相關(guān)申請的交叉引用
本申請要求2011年7月28日提交的日本專利申請No.2011-165512的優(yōu)先權(quán),其全部主題通過引用合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及過零檢測器電路和具有過零檢測器電路的圖像形成設(shè)備,并且更具體地,涉及檢測AC電壓的過零點(diǎn)的技術(shù)。
背景技術(shù)
例如,作為用于檢測AC電壓的過零點(diǎn)(過零時(shí)刻)的技術(shù),已知的有在JP-A-2010-239774中公開的技術(shù)。JP-A-2010-239774公開了一種使用光電耦合器來檢測過零點(diǎn)的技術(shù)。
然而,根據(jù)如在JP-A-2010-239774中的使用光電耦合器來檢測過零點(diǎn)的方法,能夠適當(dāng)?shù)貦z測過零點(diǎn),但是光電耦合器的光電二極管的功耗是不可忽略的。為此,期望一種可以節(jié)省電力的檢測過零點(diǎn)的技術(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本公開提供至少能夠節(jié)省電力的用于檢測過零點(diǎn)的技術(shù)。
通過考慮上述內(nèi)容,本公開的過零檢測器電路包括:第一電容器、第二電容器、電流路徑、信號轉(zhuǎn)換電路和檢測單元。第一電容器包括:第一電極,該第一電極被構(gòu)造為連接到AC電源的一端;以及第二電極。第二電容器包括:第一電極,該第一電極被構(gòu)造為連接到AC電源的另一端;以及第二電極。電流路徑被串聯(lián)連接在第一電容器的第二電極和第二電容器的第二電極之間并且被連接到基準(zhǔn)電位,并且當(dāng)AC電流返回到AC電源時(shí),電流路徑使得從AC電源輸出的AC電流通過電流路徑,并且當(dāng)AC電流通過電流路徑時(shí)生成第二電極側(cè)電壓。信號轉(zhuǎn)換電路連接到AC電源以接收第二電極側(cè)電壓,并且然后將第二電極側(cè)電壓轉(zhuǎn)換成脈沖信號。檢測單元檢測脈沖信號的脈沖周期,并且通過使用脈沖周期來檢測AC電源的AC電壓的過零點(diǎn)。
在上述過零檢測器電路中,信號轉(zhuǎn)換電路可以包括晶體管,并且電流路徑可以包括第一反向電壓抑制元件,用于抑制將反向電壓施加到晶體管。
在上述過零檢測器電路中,電流路徑可以進(jìn)一步包括第二反向電壓抑制元件,該第二反向電壓抑制元件被設(shè)置在第一反向電壓抑制元件和基準(zhǔn)電位之間。
在上述過零檢測器電路中,第一反向電壓抑制元件可以是二極管,該二極管的陰極可以被連接到第一電容器的第二電極,并且該二極管的陽極可以被連接到第二電容器的第二電極。
在上述過零檢測器電路中,電流路徑可以包括電橋電路,該電橋電路由一對串聯(lián)電路來構(gòu)造,一對串聯(lián)電路中的每一個(gè)包括兩個(gè)電路元件,電橋電路的一對串聯(lián)電路中的一個(gè)的、電路元件之間的接觸節(jié)點(diǎn)可以被連接到基準(zhǔn)電位,并且一對串聯(lián)電路中的另一個(gè)的、電路元件之間的接觸節(jié)點(diǎn)可以被連接到信號轉(zhuǎn)換電路。
在上述過零檢測器電路中,在脈沖信號的脈沖周期大于預(yù)定時(shí)段的情況下,檢測單元可以基于脈沖信號的上升時(shí)刻和脈沖信號的下降時(shí)刻來檢測過零點(diǎn),并且在脈沖信號的脈沖周期等于或小于預(yù)定時(shí)段的情況下,檢測單元可以基于脈沖信號的上升時(shí)刻或者脈沖信號的下降時(shí)刻來檢測過零點(diǎn)。
在上述過零檢測器電路中,在脈沖信號的脈沖周期大于預(yù)定時(shí)段的情況下,檢測單元可以檢測出基準(zhǔn)電位被接地,并且在脈沖信號的脈沖周期等于或小于預(yù)定時(shí)段的情況下,檢測單元可以檢測出基準(zhǔn)電位未被接地。
此外,本公開的圖像形成設(shè)備可以包括上述的過零檢測器電路。上述圖像形成設(shè)備可以包括定影裝置,基于由過零檢測器電路的檢測單元所檢測到的過零點(diǎn)來對該定影裝置執(zhí)行加熱控制。
根據(jù)本公開,作為光電耦合器的替代,第一電容器、第二電容器、電流路徑以及信號轉(zhuǎn)換器電路用于生成用于檢測過零點(diǎn)(過零時(shí)刻)的脈沖信號。因此,例如,在通過晶體管構(gòu)造信號轉(zhuǎn)換器電路,并且通過二極管和電阻構(gòu)造電流路徑的情況下,與光電耦合器的驅(qū)動(dòng)電流相比,能夠減少在電流路徑中流動(dòng)的電流。由此,與光電耦合器用于生成用于檢測過零的脈沖信號的情況相比,能夠節(jié)省電力。
附圖說明
根據(jù)參考附圖考慮的下述詳細(xì)的描述,本公開的前述和其它特征和特性將變得更加明顯,其中:
圖1是示出根據(jù)第一實(shí)施例的圖像形成設(shè)備的示意性構(gòu)造的截面?zhèn)纫晥D;
圖2是示出與定影單元的驅(qū)動(dòng)有關(guān)的電路的示意性構(gòu)造的框圖;
圖3是示出過零檢測器電路的基本構(gòu)造的框圖;
圖4是示出根據(jù)第一實(shí)施例的過零檢測器電路的構(gòu)造的框圖;
圖5是示出根據(jù)第一實(shí)施例的各種信號的時(shí)序圖;
圖6是示出根據(jù)第一實(shí)施例的電流路徑的另一示例的電路圖;
圖7是示出根據(jù)第一實(shí)施例的電流路徑的另一示例的電路圖;
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