[發(fā)明專利]一種靜態(tài)CT掃描儀及其散射X光子校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210264323.2 | 申請日: | 2012-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN102764137A | 公開(公告)日: | 2012-11-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 代秋聲;徐品;邢曉曼 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州生物醫(yī)學(xué)工程技術(shù)研究所 |
| 主分類號: | A61B6/03 | 分類號: | A61B6/03 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215163 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 靜態(tài) ct 掃描儀 及其 散射 光子 校正 方法 | ||
1.一種靜態(tài)CT掃描儀,其包括:
X射線源系統(tǒng),所述X射線源系統(tǒng)包括一個環(huán)形X射線源及一個設(shè)置于所述環(huán)形X射線源的出口處的環(huán)形前準(zhǔn)直器,所述環(huán)形X射線源包括若干個基于碳納米管的X射線源模塊,所述環(huán)形前準(zhǔn)直器上分布有若干個用于對X射線的出射范圍進行限制的準(zhǔn)直器狹縫,每個所述X射線源模塊均對應(yīng)一個所述準(zhǔn)直器狹縫;
探測器系統(tǒng),所述探測器系統(tǒng)用于接收所述X射線源系統(tǒng)發(fā)射的X射線,所述探測器系統(tǒng)包括位于所述環(huán)形前準(zhǔn)直器的內(nèi)側(cè)的兩個環(huán)形探測器,所述兩個環(huán)形探測器之間具有對應(yīng)所述準(zhǔn)直器狹縫的夾縫,每個所述環(huán)形探測器均由若干個能夠?qū)光子進行能量分辨的探測器模塊組成;
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)連接所述探測器系統(tǒng),用于對所述探測器系統(tǒng)輸出的信號進行采集;
計算機,所述計算機和所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連接;及
電源系統(tǒng),所述電源系統(tǒng)分別連接所述X射線源系統(tǒng)、所述探測器系統(tǒng)所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和所述計算機,以提供所需的高壓和普通電源;
其特征在于:
每個所述探測器模塊均包括相互連接的探測區(qū)和非探測區(qū),所述探測區(qū)靠近所述夾縫,所述非探測區(qū)遠離所述夾縫,所述環(huán)形前準(zhǔn)直器的照射范圍完全覆蓋其內(nèi)側(cè)的所述探測器模塊的探測區(qū),以避免非探測區(qū)被X射線照射,降低掃描物體所接收的吸收劑量;所述探測器系統(tǒng)進一步包括兩個環(huán)形后準(zhǔn)直器及兩個環(huán)形監(jiān)測探測器,所述兩個環(huán)形后準(zhǔn)直器設(shè)置于所述兩個環(huán)形探測器的內(nèi)側(cè),且分別位于對應(yīng)探測器模塊的探測區(qū)和非探測區(qū)的連接處,用于對X射線中的散射X光子進行限制;所述兩個環(huán)形監(jiān)測探測器和所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)相連接,且分別對應(yīng)地設(shè)置于所述兩個環(huán)形后準(zhǔn)直器背離所述探測器模塊的探測區(qū)的一側(cè);所述計算機對所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集的數(shù)據(jù)進行處理后進行圖像重建。
2.如權(quán)利要求1所述的靜態(tài)CT掃描儀,其特征在于,每一所述環(huán)形監(jiān)測探測器均由若干個監(jiān)測探測器模塊組成。
3.如權(quán)利要求2所述的靜態(tài)CT掃描儀,其特征在于,所述若干個監(jiān)測探測器模塊等間距地間隔設(shè)置于對應(yīng)的所述環(huán)形后準(zhǔn)直器背離所述探測器模塊的探測區(qū)的一側(cè)。
4.如權(quán)利要求3所述的靜態(tài)CT掃描儀,其特征在于,所述環(huán)形監(jiān)測探測器采用近似或插值的方式來獲取間隔處無所述監(jiān)測探測器模塊的區(qū)域的散射光子計數(shù)和能譜分布。
5.如權(quán)利要求1所述的靜態(tài)CT掃描儀,其特征在于,所述兩個環(huán)形監(jiān)測探測器和所述兩個環(huán)形探測器同時啟動、同步工作。
6.如權(quán)利要求1所述的靜態(tài)CT掃描儀,其特征在于,所述兩個環(huán)形后準(zhǔn)直器垂直于所述兩個環(huán)形探測器且相互平行。
7.如權(quán)利要求1所述的靜態(tài)CT掃描儀,其特征在于:所述若干個探測器模塊為能夠?qū)光子進行能量分辨的基于碲鋅鎘的高計數(shù)率探測器模塊。
8.如權(quán)利要求1所述的靜態(tài)CT掃描儀,其特征在于:所述兩個環(huán)形探測器之間的夾縫的間距大于0且小于5mm。
9.如權(quán)利要求1所述的靜態(tài)CT掃描儀,其特征在于:所述環(huán)形X射線源和所述兩個環(huán)形探測器的直徑范圍為0.2m至1.5m。
10.一種如權(quán)利要求1~9任一項所述的靜態(tài)CT掃描儀的散射X光子校正方法,其特征在于,包括如下步驟:所述兩個環(huán)形探測器和所述兩個環(huán)形監(jiān)測探測器同時分別探測所述環(huán)形X射線源發(fā)射的X射線束;所述數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)分別采集所述探測器系統(tǒng)輸出的投影數(shù)據(jù)和所述兩個環(huán)形監(jiān)測探測器輸出的數(shù)據(jù);所述計算機根據(jù)所述探測器系統(tǒng)輸出的投影數(shù)據(jù),按照預(yù)設(shè)規(guī)則和比例與所述兩個環(huán)形監(jiān)測探測器輸出的數(shù)據(jù)相減,即得到經(jīng)過散射校正的投影數(shù)據(jù)。
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