[發(fā)明專利]一種炮檢距屬性均勻性的確定方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210264204.7
• 申請日: 2012-07-27
• 公開（公告）號: CN103576213A
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 許銀坡;蔣先藝;彭文;郭武
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油天然氣集團(tuán)公司;中國石油集團(tuán)東方地球物理勘探有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01V13/00
• 分類號: G01V13/00
• 代理公司: 北京市中實友知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11013
• 代理人: 劉天語;任潔

1.一種炮檢距屬性均勻性的確定方法，特點是通過以下步驟實現(xiàn)：

1）采集工區(qū)的地質(zhì)數(shù)據(jù)，收集已知工區(qū)的地質(zhì)參數(shù)，根據(jù)地質(zhì)任務(wù)確定觀測系統(tǒng)參數(shù)，用常規(guī)方法設(shè)計一種以上的觀測系統(tǒng)，分別得到面元覆蓋次數(shù)、炮檢距序列；

2）對任一觀測系統(tǒng)，利用面元的炮檢距序列和面元覆蓋次數(shù)用下式計算第j個面元的第k個理論炮檢距b_k：

bk=mj+(k-1)*Mji;---(1)]]>

式中：j為目的層上的面元號，i為第j個面元的覆蓋次數(shù)，k為第j個面元的第k次覆蓋，也是第j個面元第k個炮檢距，1≤k≤i，mj為第j個面元炮檢距序列中的最小炮檢距，M_j為第j個面元炮檢距序列中的最大炮檢距；

3）第j個面元中第k炮檢距對應(yīng)的非均勻性系數(shù)T_j,k為：

Tj,k=|1-Δhj,k*iMj(1+λk)2|(1+λk)2,(k=1,2,...,i)---(2)]]>

式中：j為目的層上的面元號，i為第j個面元的覆蓋次數(shù)，k為第j個面元的第k次覆蓋，也是第j個面元第k個炮檢距，1≤k≤i，M_j為第j個面元炮檢距序列中的最大炮檢距，Δh_j，k為第j個面元炮檢距序列第k個相鄰道的變化量；λ_k為的整數(shù)部分，Δb_k為第j個面元炮檢距序列中的第k個炮檢距與第k個理論炮檢距差的絕對值；

4）對于任一個第j個面元，如果第j個面元的第k個炮檢距非均勻性系數(shù)T_j,k小于1，用作為新的第k個炮檢距非均勻性系數(shù)，如果第j個面元第k個炮檢距非均勻性系數(shù)T_j,k不小于1，用作為新的第k個炮檢非均勻性系數(shù)，用新生成的面元炮檢距非均勻性系數(shù)計算第j個面元內(nèi)所有炮檢距非均勻性系數(shù)的和E[j]；

式中：j為目的層上的面元號，k為第j個面元的第k次覆蓋，也是第j個面元第k個炮檢距；

5）對任意的第j個面元，利用步驟4）中第j個面元炮檢距非均勻性系數(shù)的和E[j]與設(shè)計的觀測系統(tǒng)方案的滿覆蓋次數(shù)Z，用下式重新計算第j個面元內(nèi)所有炮檢距非均勻性系數(shù)的和：

E‾[j]=E[j]*Zi---(3)]]>

再計算第j個面元炮檢距的平均非均勻性系數(shù)：

式中：j為目的層上的面元號，Z為設(shè)計觀測系統(tǒng)的滿覆蓋次數(shù)，i為第j個面元的覆蓋次數(shù)；

6）利用所有面元炮檢距的平均非均勻性系數(shù)和所有面元炮檢距的平均非均勻性系數(shù)和的平均值對步驟1）設(shè)計的每一種觀測系統(tǒng)的炮檢距分布按照下式進(jìn)行均勻性計算，得到觀測系統(tǒng)的面元炮檢距均勻性分布的標(biāo)準(zhǔn)系數(shù)η：

η=Σj=1N(R[j]-S‾)2NS‾---(5)]]>

式中：為所有面元炮檢距的平均非均勻性系數(shù)和的平均值；N為目的層上的面元數(shù)，j為目的層上的面元號，R[j]為步驟5）中的第j個面元內(nèi)炮檢距的平均非均勻性系數(shù)；

選擇面元炮檢距均勻性分布的標(biāo)準(zhǔn)系數(shù)η最小的觀測系統(tǒng)為最優(yōu)觀測系統(tǒng)方案，并應(yīng)用于實際工區(qū)勘探。