[發明專利]圖像傳感器、成像裝置以及成像方法在審
| 申請號: | 201210261661.0 | 申請日: | 2012-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN102917181A | 公開(公告)日: | 2013-02-06 |
| 發明(設計)人: | 中田征志 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | H04N5/357 | 分類號: | H04N5/357;H04N5/359;H04N9/04 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 邸萬奎 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像傳感器 成像 裝置 以及 方法 | ||
技術領域
本公開涉及圖像傳感器、成像裝置以及成像方法。更具體地,本公開涉及能夠更準確地校正混色(color?mixing)的圖像傳感器、成像裝置以及成像方法。
背景技術
在現有技術中,已提出了預設混色校正系數、并通過使用混色校正系數來校正混色的方法(例如,參見日本專利特開(Laid-open)No.2010-16419)。
還提出了在有效像素之外的光學黑區(OPB區)提供混色檢測像素的方法作為動態校正混色的方法(例如,參見日本專利特開No.2010-239192)。
此外,還提出了在有效像素內提供OPB的方法(例如,參見日本專利特開No.2010-147785)。
發明內容
然而,在日本專利特開No.2010-16419中描述的預設混色校正系數的方法中,未考慮制造差異(例如,濾色器的膜厚,或片載(on-chip)透鏡的位置偏差)。由于混色率取決于光波長以及光源或者要拍攝的對象而變化,所以,預設混色校正系數的方法未能考慮到這樣的情況。
此外,在日本專利特開No.2010-239192中描述的方法中,如果在有效像素之外的區域提供混色檢測像素,則有效像素內的入射角與有效像素外的入射角不同,這是因為,混色量是取決于光入射角而變化的值。因而,不可能得到準確的混色量。
此外,在日本專利特開No.2010-147785中描述的方法中,未考慮Si內產生的混色。如果僅在特定顏色的像素上提供OPB,則連同黑電平一起輸出正進入該像素的混色。如果從其它顏色的像素中減去該值,則得到的混色率可能不準確,這是因為,混色取決于顏色而變化。另外,由于混色量取決于圖像高度(圖像傳感器內的位置)而變化,所以,有必要執行考慮到光學距離的操作。然而,在日本專利特開No.2010-147785中描述的方法未考慮到這一點。
考慮到前述內容,期望提供能夠更準確地校正混色的技術。
根據本公開的實施例,提供了一種圖像傳感器,包括:由多個常規像素構成的常規像素組,每個所述常規像素具有用于對入射光進行光電轉換的光電轉換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規像素組的有效像素區域內,通過所述光電轉換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。
所述檢測像素還可包括遮光膜,其被配置為遮蔽從外部入射到所述檢測像素上的入射光。
可由布線層形成所述遮光膜。
可由多個布線層形成所述遮光膜。
每個所述布線層可在其上的彼此不同的位置形成間隙。
可取決于入射光的入射角來布置每個所述布線層。
可由被置于所述光電轉換器件上的金屬來形成所述遮光膜。
所述圖像傳感器可包括多個所述檢測像素。
該圖像傳感器還可包括:濾光器,其被配置為透射預定波長的入射光。使用通過由所述檢測像素檢測來自相鄰像素的入射光所得到的結果,來校正常規像素的像素值,所述常規像素被提供有被配置為與在所述檢測像素上提供的濾光器透射具有相同波長的入射光的濾光器。
可在彼此不連續的位置中提供所述檢測像素。
根據本公開的另一實施例,提供了一種成像裝置,包括圖像傳感器和減法單元。圖像傳感器包括:由多個常規像素構成的常規像素組,每個所述常規像素具有用于對入射光進行光電轉換的光電轉換器件;以及檢測像素,其被配置為在所述常規像素組的有效區域內,通過所述光電轉換器件來檢測來自相鄰像素的入射光。減法單元被配置為通過使用所述圖像傳感器的所述檢測像素檢測到的光的光量,從所述常規像素的像素值中減去從所述常規像素的相鄰像素入射的光的光量。
所述減法單元可包括:選擇單元,其被配置為選擇要被用于減去所述光量的檢測像素;光量計算單元,其被配置為使用由所述選擇單元選擇的檢測像素的像素值,計算在要處理的常規像素的像素值中包括的光量;以及光量減法單元,其被配置為從要處理的常規像素的像素值中減去由所述光量計算單元計算的光量。
所述選擇單元可選擇多個檢測像素。所述光量計算單元可通過取決于由所述選擇單元選擇的多個檢測像素與要處理的常規像素之間的位置關系而對所述多個檢測像素的每個像素值加權,來計算所述光量。
當由所述選擇單元選擇的檢測像素的相鄰像素的像素值飽和時,所述光量計算單元可將用來計算所述光量的檢測像素改變為另一檢測像素,或禁止使用該檢測像素。
當由所述選擇單元選擇的檢測像素是缺陷像素時,所述光量計算單元可將用來計算所述光量的檢測像素改變為另一檢測像素,或禁止使用該檢測像素。
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