[發明專利]薄膜成品率預測系統及方法

有效

• 申請號: 201210260972.5
• 申請日: 2012-07-25
• 公開（公告）號: CN102901734A
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發明（設計）人: 洪昇均;樸宰賢;尹永根
• 申請（專利權）人: 東友精細化工有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種光學薄膜成品率預測系統，具備：

第一檢查部，其在光學薄膜的制造工序中，對執行特定步驟中的光學薄膜上的缺陷進行檢測，生成包含檢測出的缺陷的位置的第一缺陷數據；

第二檢查部，其對執行區別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟中的所述光學薄膜上的缺陷進行檢測，生成包含檢測出的缺陷的位置的第二缺陷數據；

數據合并部，其合并所述第一缺陷數據和所述第二缺陷數據；以及

成品率預測部，其根據由所述數據合并部合并得到的缺陷數據，算出基于所述光學薄膜的預期切削位置和切削尺寸的所述光學薄膜的預期成品率。

2.根據權利要求1所述的成品率預測系統，其特征在于，

所述第一檢查部和所述第二檢查部從所述光學薄膜的上表面拍攝所述光學薄膜的圖像，根據拍攝得到的所述圖像來生成所述缺陷數據。

3.根據權利要求1所述的成品率預測系統，其特征在于，

所述數據合并部將所述第一缺陷數據和所述第二缺陷數據的位置坐標進行比較來算出所述第一缺陷數據的校正坐標，在根據算出的所述校正坐標來校正其位置的所述第一缺陷數據中除去存在于與所述第二缺陷數據相同位置的缺陷，并結合剩余的第一缺陷數據與所述第二缺陷數據，由此合并所述第一缺陷數據和所述第二缺陷數據。

4.根據權利要求3所述的成品率預測系統，其特征在于，

所述數據合并部以所述第一缺陷數據內包含的缺陷以及所述第二缺陷數據內包含的缺陷中重復缺陷的數量變得最大的方式算出所述第一缺陷數據的校正坐標。

5.根據權利要求1所述的成品率預測系統，其特征在于，

還具備接縫缺陷排除部，該接縫缺陷排除部從所述第一缺陷數據和所述第二缺陷數據中排除接縫缺陷。

6.根據權利要求5所述的成品率預測系統，其特征在于，

當所述接縫缺陷排除部在所述第一缺陷數據和所述第二缺陷數據內包含的缺陷中，在與所述光學薄膜的長邊方向垂直的方向上識別出既定個數以上的缺陷的情況下，將該缺陷識別為接縫缺陷而予以排除。

7.根據權利要求1所述的成品率預測系統，其特征在于，

所述成品率預測部對按所述光學薄膜的預期切削位置以及切削得到的薄膜的尺寸來切削得到的各薄膜是否存在缺陷進行判斷，根據切削得到的薄膜的個數以及切削得到的薄膜中存在缺陷的薄膜的個數來算出所述光學薄膜的預期成品率。

8.根據權利要求1所述的成品率預測系統，其特征在于，

所述光學薄膜的制造工序中的特定步驟是對所述光學薄膜涂敷粘合劑或者粘接劑之前的步驟，區別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟是對所述光學薄膜涂敷所述粘合劑或者粘接劑之后的步驟。

9.根據權利要求1所述的成品率預測系統，其特征在于，

所述第一缺陷數據和所述第二缺陷數據還包含分別獨立地檢測出的缺陷的明亮度和尺寸。

10.一種光學薄膜成品率預測方法，包含以下步驟：

在光學薄膜的制造工序中，對執行特定步驟中的光學薄膜上的缺陷進行檢測，生成包含檢測出的缺陷的位置的第一缺陷數據；

對執行區別于所述特定步驟的所述制造工序的其它步驟中的所述光學薄膜上的缺陷進行檢測，生成包含檢測出的缺陷的位置的第二缺陷數據；

合并所述第一缺陷數據和所述第二缺陷數據；以及

根據由所述合并步驟合并得到的缺陷數據，算出基于所述光學薄膜的預期切削位置和切削尺寸的所述光學薄膜的預期成品率。

11.根據權利要求10所述的成品率預測方法，其特征在于，

在所述第一缺陷數據的生成步驟和所述第二缺陷數據的生成步驟中，從所述光學薄膜的上表面拍攝所述光學薄膜的圖像，根據拍攝得到的所述圖像來生成所述缺陷數據。

12.根據權利要求10所述的成品率預測方法，其特征在于，

所述合并步驟包含以下步驟：

將所述第一缺陷數據和所述第二缺陷數據的位置坐標進行比較來算出所述第一缺陷數據的校正坐標；

根據算出的所述校正坐標來對所述第一缺陷數據的位置進行校正；以及

在位置校正過的所述第一缺陷數據中除去存在于與所述第二缺陷數據相同位置的缺陷，并結合剩余的第一缺陷數據與所述第二缺陷數據。