[發明專利]一種高溫大面積碳化硅外延生長裝置及處理方法有效
| 申請號: | 201210260432.7 | 申請日: | 2012-07-25 |
| 公開(公告)號: | CN102747418A | 公開(公告)日: | 2012-10-24 |
| 發明(設計)人: | 孫國勝;董林;王雷;趙萬順;劉興昉;閆果果;鄭柳 | 申請(專利權)人: | 東莞市天域半導體科技有限公司 |
| 主分類號: | C30B25/10 | 分類號: | C30B25/10;C30B25/16;C30B29/36 |
| 代理公司: | 廣州市南鋒專利事務所有限公司 44228 | 代理人: | 羅曉聰 |
| 地址: | 523000 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高溫 大面積 碳化硅 外延 生長 裝置 處理 方法 | ||
技術領域:
本發明涉及碳化硅外延生長技術領域,特別設計一種高溫大面積碳化硅外延生長裝置及處理方法。
背景技術:
近年來,由于軍事、航天、雷達通信、電力傳輸、汽車工業和工業過程控制等領域對耐高溫、大功率電力電子器件的需求不斷增大,以碳化硅(SiC)為代表的寬禁帶半導體日益受到人們的關注。SiC是繼硅(Si)和砷化鎵(GaAs)材料之后出現的第三代半導體材料,和傳統的硅(Si)材料相比,SiC擁有明顯的優勢。例如,其禁帶寬度是Si的3倍,飽和電子漂移速率是Si的2.5倍,擊穿電場是Si的10倍。因此,其在高溫、高頻和大功率器件等領域有著巨大的應用潛力。目前,國際上已經成功研制出一系列具有不同結構和不同耐壓的SiC功率器件,并且一些重要的SiC功率器件,如SiC?MOSFET、SiC?JFET和SiC?SBD已經成功商品化。而在我國SiC功率器件的研制尚屬于起步階段,如何填補國內SiC功率器件產業化空白已成為一個亟待解決的問題。
不同種類的SiC功率器件需要不同厚度和摻雜濃度的外延漂移層,而目前制備碳化硅外延層的主要方法是高溫化學氣相沉積(CVD)技術。所謂化學氣相沉積技術,就是利用載氣將反應氣體如硅烷、丙烷等運輸到外延生長室內,使它們在熱襯底上發生化學反應并沉積得到碳化硅(SiC)外延材料。因為SiC外延層的結晶質量、缺陷密度和表面粗糙度對SiC功率器件的性能有著至關重要的影響,所以SiC外延生長技術是其功率器件制備的關鍵工藝。
為推動SiC功率器件的產業化發展,必須盡可能的降低其功率器件的生產成本,而在大尺寸SiC外延晶片上制備SiC功率器件能夠有效地降低其生產成本。因此,發展大面積、多片SiC外延生長裝置能夠有效地促進SiC外延晶片及其器件的產業化進程。然而,隨著生產型外延系統所用的SiC襯底的直徑和一次裝載晶片數量不斷地增加,人們對生產出的外延晶片的均勻性(摻雜與厚度)的要求也越來越高。目前,國際上生產SiC外延系統普遍采用多片衛星盤式結構,在該結構中,SiC襯底沿生長大盤的外圍圓周法線方向等間距放置;生長時反應氣體沿生長大盤徑向方向由中心向其外圍擴散,經過SiC襯底時便沉積得到SiC外延層。由于氣流只需經過每個襯底的直徑距離便可以完成沉積,這使得生長工藝的優化只需在一個晶片直徑范圍內進行。然而,隨著晶片直徑的增大,該結構的缺點也越來越突出。在該結構中,氣體沿徑向方向流動,其截面積不斷增大;由于氣體流速的迅速降低,使本來就存在的氣體的耗盡效應顯得更加突出,從而增大了外延晶片的不均勻性。對于較大直徑的晶片而言,就更加顯著。
另外,就SiC外延設備的氣密隔離外殼的材料而言,目前普遍采用石英管結構。由于設備的反應腔室設置于石英管內部,隨著SiC外延設備的容量(包括晶片直徑和晶片數量)不斷提高,石英管的直徑必須不斷擴大以滿足設備擴容需求。大直徑的石英管不但易于損壞,而且其加工難度也很大,這就給設備的制造和安全性提出了很大的挑戰。因此,如何設計一種大面積多片SiC外延系統已成為一個亟待解決的難題。
發明內容:
本發明所要解決的第一個技術問題在于克服現有技術的不足,提供一種高溫大面積碳化硅外延生長裝置,該裝置不但能夠實現大面積SiC外延生長,而且還可以實現多片生長,并能保證外延晶片的均勻性需求。
為了解決上述技術問題,本發明采用了下述技術方案:該裝置包括:一密閉工作室,該工作室具有進樣門;一反應腔室,該反應腔室位于所述的工作室內;一加熱組件,該加熱組件位于反應腔室的外圍,通過加熱組件對反應腔室進行加熱;于反應腔室內設置有托盤槽,承載有碳化硅襯底的托盤放置于該托盤槽內;上述的反應腔室具有一前后貫穿的通道,于通道的兩端分別設置有進氣裝置和出氣裝置,所述的進氣裝置和出氣裝置安裝在工作室上,氣體由進氣裝置進入反應腔室內,并由出氣裝置排出。
進一步而言,上述技術方案中,所述的工作室呈長方體,其由底盤、上蓋和圍設于四周的側壁構成,其中于相對兩側壁上設置有進樣門和備用門。
進一步而言,上述技術方案中,所述的反應腔室由腔室上蓋、腔室側壁和腔室底盤圍設形成一通道,于所述的腔室底盤上開設有供托盤放置的托盤槽。
進一步而言,上述技術方案中,所述的進氣裝置包括:一進氣器、進氣底盤和進氣通道,所述的進氣通道通過進氣底盤與進氣器連通;所述的進氣通道安裝在工作室的底盤上,其進氣口與外部的氣體輸出裝置連通;所述的進氣底盤安裝于進氣通道的上方;所述的進氣器安裝在進氣底盤上。
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