[發(fā)明專利]電池劣化確定設備、方法和系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210260429.5
• 申請日: 2012-07-25
• 公開（公告）號: CN102901928A
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發(fā)明（設計）人: 田中龍?zhí)?/a>
• 申請（專利權）人: 橫河電機株式會社
• 主分類號: G01R31/36
• 分類號: G01R31/36
• 代理公司: 北京天昊聯(lián)合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 陳源;張?zhí)焓?/td>

1.一種電池劣化確定設備，包括：

擬合模塊，其配置用于將AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成包括至少一個電路塊的等效電路模型，以獲得所述等效電路模型中的電路常數(shù)，其中所述電路塊中并聯(lián)連接了一個電阻和一個恒相元件；

P值保存模塊，其配置用于保存作為所述恒相元件指數(shù)的P值，該P值通過將基準電池的AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成所述等效電路模型而獲得；以及

劣化確定模塊，其配置用于參考電池劣化程度與所述等效電路模型中的電路常數(shù)之間的相關性，基于通過使用作為固定值的P值而將作為確定目標的電池的AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成所述等效電路模型而獲得的電路常數(shù)，來對作為確定目標的電池執(zhí)行劣化確定。

2.根據(jù)權利要求1所述的電池劣化確定設備，

其中，所述劣化確定模塊被配置為：當所獲得的電路常數(shù)所確定的擬合誤差等于或大于基準值時，確定作為確定目標的電池的使用是不適當?shù)摹?/p>

3.根據(jù)權利要求1或2所述的電池劣化確定設備，還包括：

擬合初始值設置模塊，其配置用于在所述擬合模塊執(zhí)行擬合之前設置所述電路常數(shù)的初始值，

其中，所述擬合初始值設置模塊被配置為：當AC阻抗測量數(shù)據(jù)被表示為奈奎斯特圖時，使用Zim=0的過零點以及利用了dZim/dZre的頻率特性圖的拐點和零點的橢圓近似來設置所述初始值。

4.一種電池劣化確定方法，包括：

保存作為恒相元件指數(shù)的P值，該P值通過將基準電池的AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成包括至少一個電路塊的等效電路模型而獲得，其中所述電路塊中并聯(lián)連接了一個電阻和所述恒相元件；以及

參考存儲了電池劣化程度與所述等效電路模型中的電路常數(shù)之間的相關性的數(shù)據(jù)庫，基于通過使用作為固定值的P值而將作為確定目標的電池的AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成所述等效電路模型而獲得的電路常數(shù)，來對作為確定目標的電池執(zhí)行劣化確定。

5.根據(jù)權利要求4所述的電池劣化確定方法，還包括：

通過記錄多個已知劣化程度與電路常數(shù)之間的相關性來創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫，其中，所述電路常數(shù)通過使用作為固定值的P值而將劣化程度已知的電池的AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成所述等效電路模型而獲得。

6.一種電池劣化確定系統(tǒng)，包括：

AC阻抗測量設備，其配置用于測量電池的AC阻抗；

電池劣化確定設備，其包括擬合模塊，所述擬合模塊配置用于將從所述AC阻抗測量設備獲得的AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成包括至少一個電路塊的等效電路模型以獲得該等效電路模型中的電路常數(shù)，其中所述電路塊中并聯(lián)連接了一個電阻和一個恒相元件；以及

數(shù)據(jù)庫，其配置用于存儲電池劣化程度與所述等效電路模型中的電路常數(shù)之間的相關性，其中，

所述電池劣化確定設備還包括：

P值保存模塊，其配置用于保存作為所述恒相元件指數(shù)的P值，該P值通過將從所述AC阻抗測量設備獲得的基準電池的AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成等效電路模型而獲得；以及

劣化確定模塊，其配置用于參考數(shù)據(jù)庫，基于通過使用作為固定值的P值而將從AC阻抗測量設備獲得的作為確定目標的電池的AC阻抗測量數(shù)據(jù)擬合成所述等效電路模型而獲得的電路常數(shù)，來對作為確定目標的電池執(zhí)行劣化確定。