[發明專利]一種太陽光四方位光線測量傳感器無效
| 申請號： | 201210259783.6 | 申請日： | 2012-07-25 |
| 公開（公告）號： | CN103575385A | 公開（公告）日： | 2014-02-12 |
| 發明（設計）人： | 張國琦;曹捷 | 申請（專利權）人： | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號： | G01J1/00 | 分類號： | G01J1/00;G01J1/04 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 710119 陜西省西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 太陽光 方位 光線 測量 傳感器 | ||
【權利要求書】：
1.一種太陽光四方位光線測量傳感器，其特征在于：包含濾光玻璃(1)、光學材料(2)、四個傳感器(3)及濾光玻璃上的漆層(5)；
所述光學材料采用亞克力材料，一次沖壓成型，光學材料正面呈十字型，四個外側面呈θ角度，十字型的每一端底部呈V型。所述傳感器采光光敏元件，共設四個傳感器，分別安裝在十字型光線材料底部的V型面內側；
所述濾光玻璃置于光學材料的上方，濾光玻璃上涂有漆層，漆層范圍為能夠遮擋光線直射傳感器的面積。
2.根據權利要求1所述的一種太陽光四方位光線測量傳感器，其特征在于：還包括一個將四個傳感器封裝在內部的底蓋(4)。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院西安光學精密機械研究所，未經中國科學院西安光學精密機械研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210259783.6/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
