[發明專利]集成電路及其測試系統

無效

• 申請號: 201210259667.4
• 申請日: 2012-07-25
• 公開（公告）號: CN103576072A
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發明（設計）人: 程智修;洪邦楨
• 申請（專利權）人: 聯詠科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

1.一種集成電路，包括：

一輸入單元，具有一輸出控制接腳，用以接收一輸出控制信號；

一核心處理單元，耦接至該輸入單元，用以接收該輸出控制信號，并據以提供M個輸出控制信號，M為大于1的自然數；以及

M個輸出緩沖單元，耦接至該核心處理單元，該M個輸出緩沖單元分別響應于該M個輸出控制信號，時分多工地為致能，以分別在M個操作期間中輸出M個輸出信號。

2.根據權利要求1所述的集成電路，其中該輸出控制信號是由一測試裝置所提供，該測試裝置是經由一探針卡來與該集成電路連接。

3.根據權利要求2所述的集成電路，其中該探針卡包括：

一切換單元，包括N個輸入端及一輸出端，N為大于或等于M的自然數，其中該N個輸出端其中的M個輸入端分別耦接至該M個輸出緩沖單元，該輸出端耦接至該測試裝置，該切換單元還響應于該測試裝置提供的一切換控制信號選擇性地將該M個輸入端其中一耦接至該輸出端。

4.根據權利要求2所述的集成電路，其中該測試裝置還針對至少另外一個集成電路提出至少一第二輸出控制信號，該另一個集成電路耦接至該探針卡，藉此該測試裝置可通過該探針卡選擇性地控制至少兩個集成電路進行時分多工輸出操作。

5.根據權利要求1所述的集成電路，其中該輸出控制信號是由一測試裝置所提供，該測試裝置是經由一橋接集成電路及一探針卡來與該集成電路連接。

6.根據權利要求5所述的集成電路，其中該橋接集成電路包括：

一切換單元，包括N個輸入端及一輸出端，N為大于或等于M的自然數，其中該N個輸出端其中的M個輸入端分別耦接至該M個輸出緩沖單元，該輸出端經由該探針卡耦接至該測試裝置，該切換單元還響應于該測試裝置提供的一切換控制信號選擇性地將該M個輸入端其中一耦接至該輸出端。

7.根據權利要求5所述的集成電路，其中該測試裝置還針對至少另外一個集成電路提出至少一第二輸出控制信號，該另一個集成電路耦接至該橋接集成電路，藉此該測試裝置可通過該橋接集成電路及該探針卡選擇性地控制至少兩個集成電路進行時分多工輸出操作。

8.一種測試系統，包括：

一測試裝置，包括：

一控制單元，用以提供該輸出控制信號；

一橋接單元，包括：

一切換單元，包括N個輸入端及一輸出端，N為大于1的自然數；以及

一集成電路，包括：

一輸入單元，具有一輸出控制接腳，用以接收該輸出控制信號；

一核心處理單元，耦接至該輸入單元，用以接收該輸出控制信號，并據以提供M個輸出控制信號，M為大于1且小于或等于N的自然數；及

M個輸出緩沖單元，耦接至該核心處理單元，并分別與該N個輸入端其中的M個輸入端耦接，該M個輸出緩沖單元還分別響應于該M個輸出控制信號時分多工地為致能，以分別在M個操作期間中輸出M個輸出信號至該M個輸入端。

9.根據權利要求8所述的測試系統，其中該橋接單元包括：

一探針卡，包括該切換單元，并經由該切換單元與該集成電路及該測試裝置連接。

10.根據權利要求9所述的測試系統，其中該切換單元的該N個輸出端其中的M個輸入端分別耦接至該M個輸出緩沖單元，該輸出端耦接至該測試裝置，該切換單元還響應于該測試裝置提供的一切換控制信號選擇性地將該M個輸入端其中一耦接至該輸出端。

11.根據權利要求9所述的測試系統，還包括：

至少另一個集成電路；

其中，該控制單元還針對該至少另外一個集成電路提出至少一第二輸出控制信號，該另一個集成電路耦接至該橋接集成電路，藉此選擇性地控制至少兩個集成電路進行時分多工輸出操作。

12.根據權利要求8所述的測試系統，其中該橋接單元包括：

一橋接集成電路，包括該切換單元；及

一探針卡，將該橋接集成電路耦接至測試裝置。

13.根據權利要求12所述的測試系統，其中該切換單元的該N個輸出端其中的M個輸入端分別耦接至該M個輸出緩沖單元，該輸出端經由該探針卡耦接至該測試裝置，該切換單元還響應于該測試裝置提供的一切換控制信號選擇性地將該M個輸入端其中一耦接至該輸出端。。

14.根據權利要求12所述的測試系統，還包括：

至少另一個集成電路；

其中，該控制單元還針對該至少另外一個集成電路提出至少一第二輸出控制信號，該另一個集成電路耦接至該橋接集成電路及該探針卡，藉此選擇性地控制至少兩個集成電路進行時分多工輸出操作。