[發明專利]小型中階梯光柵光譜儀的裝調方法有效
| 申請號: | 201210259605.3 | 申請日: | 2012-07-25 |
| 公開(公告)號: | CN102809428A | 公開(公告)日: | 2012-12-05 |
| 發明(設計)人: | 陳少杰;寧春麗;崔繼承;巴音賀希格;齊向東;唐玉國 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 王淑秋 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 小型 階梯 光柵 光譜儀 方法 | ||
1.一種中階梯光柵光譜儀的裝調方法,其特征在于包括下述步驟:
步驟一:
將第一入射針孔(4)安裝固定,第一聚光鏡(15)放置于第一入射針孔(4)前,第一入射針孔(4)作為整個光學系統的坐標原點;然后將第一可見光激光器(1)作為光源,使第一可見光激光器(1)出射的光束無俯仰、無傾斜地經過第一聚光鏡(15)后入射到第一入射針孔(4);
步驟二:
在第一聚光鏡(15)與入射針孔(4)之間放置第一半反半透板(2),在第一半反半透板(2)反射光路上與第一入射針孔(4)對稱的位置放置第一顯微鏡(3);將準直鏡(5)放置在第一入射針孔(4)的出射光路上,并調整準直鏡(5)的位置使第一入射針孔(4)位于準直鏡(5)的焦點處;在中階梯光柵(7)位置先安裝第一平面反射鏡(6),使第一平面反射鏡(6)與準直鏡(5)出臂垂直,固定第一平面反射鏡(6);調整準直鏡(5)的角度,當在第一顯微鏡(3)視場中看到反射光從第一入射針孔(4)射出時,固定準直鏡(5);
步驟三:
利用水平儀消除交叉色散棱鏡(8)的滾轉誤差;利用高度尺測試由第一平面反射鏡(6)反射并入射到交叉色散棱鏡(8)的光線高度,利用高度尺測試交叉色散棱鏡(8)折射后的出射光線,調整交叉色散棱鏡(8),使出射光線與入射光線在同一水平面上;
步驟四:
調整聚焦鏡(10)的位置,使像面位于聚焦鏡(10)的焦平面上,在像面中心安裝第二入射針孔(11);然后將第二聚光鏡(16)、第二可見光激光器(14)放置于第二入射針孔(11)后,使第二可見光激光器(14)出射的光束經過第二聚光鏡(16)后無俯仰、無傾斜地入射到第二入射針孔(11);
在第二聚光鏡(16)與第二入射針孔(11)之間放置第二半反半透板(12),在第二半反半透板(12)反射光路上與第二入射針孔(11)對稱的位置放置第二顯微鏡(13);在交叉色散棱鏡(8)方向放置第二平面反射鏡(9),使第二平面反射鏡(9)與聚焦鏡(10)的出臂垂直,固定第二平面反射鏡(9);調整聚焦鏡(10)的角度,當在第二顯微鏡(13)視場中看到反射光從第二入射針孔(11)射出時,固定聚焦鏡(10);
步驟五:
將第一半反半透板(2)、第一顯微鏡(3)、第一平面反射鏡(6)、第二入射針孔(11)、第二半反半透板(12)、第二顯微鏡(13)、第二聚光鏡(16)、第二可見光激光器(14)和第二平面反射鏡(9)移除光學系統;將中階梯光柵(7)安裝至設計位置,調整中階梯光柵(7)使其光柵面與光學系統坐標原點所在的水平面垂直;根據光柵衍射角方向轉動中階梯光柵(7),直至找到最亮的光斑并使該光斑入射至交叉色散棱鏡(8);
步驟六:
將面陣探測器放置于像面位置,并完成面陣探測器像面位置的調整與像面滾轉誤差的調整;
步驟七:
將第一可見光激光器(1)移除光學系統,將汞燈放置在第一可見光激光器(1)位置處作為光源,此時像面呈現各波長的二維光譜分布圖像;根據譜圖還原算法,建立各波長譜線與像面位置的對應關系,該對應關系作為中階梯光柵光譜儀標定的譜圖模型;將與各特征波長對應的濾光片依次放置在汞燈與第一聚光鏡(15)之間,在像面內識別出汞燈的各特征波長譜線;分別調整交叉色散棱鏡(8)的入射角度與中階梯光柵(7的入射角度,使各特征波長譜線的成像位置與所建立的譜圖模型一致;將汞燈移除光學系統,完成中階梯光柵光譜儀的的裝調。
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