[發(fā)明專利]一種精密電子天平

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210257700.X
• 申請日: 2012-07-24
• 公開（公告）號: CN103575375A
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張浩;張楠
• 申請（專利權(quán)）人: 天津市圣信唯科技有限公司
• 主分類號: G01G21/28
• 分類號: G01G21/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于稱量用具領(lǐng)域，尤其是涉及一種精密電子天平。?

背景技術(shù)

由于精密電子天平的靈敏度高，在計(jì)量時(shí)空氣氣流的流動會對秤盤有影響，所以要給秤盤防風(fēng)。目前，精密電子天平一般會使用方形帶門設(shè)計(jì)的防風(fēng)罩，但使用這種防風(fēng)罩的精密電子天平體積較大，不便于攜帶，且密封性能不好，不適用于戶外使用。?

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種結(jié)構(gòu)獨(dú)特，可改變體積大小，密封性好，且攜帶方便的精密電子天平。?

本發(fā)明的技術(shù)方案是：一種精密電子天平，包括天平基架、秤盤、防風(fēng)罩、防風(fēng)罩導(dǎo)套和防風(fēng)罩頂蓋，其特征在于：天平基架上設(shè)有秤盤，秤盤外圈固定安裝有防風(fēng)罩導(dǎo)套，防風(fēng)罩為圓環(huán)形，插裝于防風(fēng)罩導(dǎo)套的環(huán)形通槽內(nèi)，天平基架內(nèi)設(shè)有與防風(fēng)罩相配型的環(huán)形槽，所述環(huán)形槽與防風(fēng)罩導(dǎo)套的環(huán)形通槽相通，使防風(fēng)罩可以通過防風(fēng)罩導(dǎo)套做推入天平基架內(nèi)的環(huán)形槽和拉出天平基架內(nèi)的環(huán)形槽的動作。?

進(jìn)一步，所述防風(fēng)罩頂部設(shè)有防風(fēng)罩頂蓋。?

本發(fā)明具有的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是：結(jié)構(gòu)獨(dú)特，由于防風(fēng)罩可以通過防風(fēng)罩導(dǎo)套推入天平基架內(nèi)的環(huán)形槽內(nèi)，使精密電子天平的體積變小，攜帶方便。?

附圖說明

圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；?

圖2是本發(fā)明防風(fēng)罩導(dǎo)套的結(jié)構(gòu)示意圖；?

圖3是本發(fā)明的防風(fēng)罩推入天平基架內(nèi)的環(huán)形槽時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖。?

圖中：?

1、防風(fēng)罩????2、防風(fēng)罩導(dǎo)套????201、環(huán)形通槽????3、防風(fēng)罩頂蓋?

4、天平基架??5、環(huán)形槽????????6、秤盤?

具體實(shí)施方式

如圖1、2所示，本發(fā)明是一種精密電子天平，包括天平基架4、秤盤6、防風(fēng)罩1、防風(fēng)罩導(dǎo)套2和防風(fēng)罩頂蓋3，其特征在于：天平基架4上設(shè)有秤盤6，秤盤6外圈固定安裝有防風(fēng)罩導(dǎo)套2，防風(fēng)罩1為圓環(huán)形，插裝于防風(fēng)罩導(dǎo)套2的環(huán)形通槽201內(nèi)，天平基架4內(nèi)設(shè)有與防風(fēng)罩1相配型的環(huán)形槽5，所述環(huán)形槽5與防風(fēng)罩導(dǎo)套2的環(huán)形通槽201相通，使防風(fēng)罩1可以通過防風(fēng)罩導(dǎo)套2做推入天平基架4內(nèi)的環(huán)形槽5和拉出天平基架4內(nèi)的環(huán)形槽5的動作。?

進(jìn)一步，所述防風(fēng)罩1頂部設(shè)有防風(fēng)罩頂蓋3。?

綜上所述，本發(fā)明由于防風(fēng)罩1可以通過防風(fēng)罩導(dǎo)套2推入天平基架4內(nèi)的環(huán)形槽5內(nèi)，使精密電子天平的體積變小，攜帶方便；還由于本發(fā)明的防風(fēng)罩1為圓環(huán)形，且無拼接，在測量時(shí)，測量室內(nèi)形成密閉空間，即便在戶外使用，也可保證測量數(shù)值的精準(zhǔn)無誤。?

以上對本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明，但所述內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，不能被認(rèn)為用于限定本發(fā)明的實(shí)施范圍。凡依本發(fā)明申請范圍所作的均等變化與改進(jìn)等，均應(yīng)仍歸屬于本發(fā)明的專利涵蓋范圍之內(nèi)。?