[發明專利]一種利用光纖干涉儀精密測量寬譜光源平均波長的方法

有效

• 申請號: 201210257452.9
• 申請日: 2012-07-24
• 公開（公告）號: CN102759407A
• 公開（公告）日: 2012-10-31
• 發明（設計）人: 高曉文;張超;趙辛;陳杏藩
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G01J9/02
• 分類號: G01J9/02
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 林懷禹

1.一種利用光纖干涉儀精密測量寬譜光源平均波長的方法，其特征在該方法的步驟如下：

（1）將賽格奈克光纖干涉儀固定安裝在轉臺臺面上，賽格奈克光纖干涉儀的敏感軸與轉臺旋轉軸平行；

（2）以波長為λ₁的He--Ne激光器光源的輸出光波I₁作為賽格奈克光纖干涉儀的光源，設定轉臺以1000°/s啟動，記錄轉臺轉動N圈的賽格奈克光纖干涉儀輸出累加和K₁₀₀₀；

（3）保持賽格奈克光纖干涉儀的光源為He--Ne激光器的輸出光波I₁不變，設定轉臺以?1000°/s啟動，記錄轉臺轉動N圈的賽格奈克光纖干涉儀輸出累加和K_?1000；

（4）將賽格奈克光纖干涉儀的光源換成待測寬譜光源的輸出光波I₂，設定轉臺以1000°/s啟動，記錄轉臺轉動N圈的賽格奈克光纖干涉儀輸出累加和K^’₁₀₀₀；

（5）保持賽格奈克光纖干涉儀的光源為待測寬譜光源的輸出光波I₂不變，設定轉臺以?1000°/s啟動，記錄轉臺轉動N圈的賽格奈克光纖干涉儀輸出累加和K^’_?1000；

（6）計算待測寬譜光源輸出光波I₂的平均波長????????????????????????????????????????????????₂；

步驟（2）、（3）、（4）和（5）中的轉臺轉動圈數N均相同。

2.根據權利要求1所述的利用光纖干涉儀精密測量寬譜光源平均波長的方法，其特征在于：所述的He--Ne激光器光源的輸出光波I₁的波長λ₁為632.800nm，波長穩定性優于1ppm。

3.根據權利要求1所述的利用光纖干涉儀精密測量寬譜光源平均波長的方法，其特征在于：所述的待測寬譜光源輸出光波I₂的平均波長₂計算方法如下：

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