[發(fā)明專利]一種提高點(diǎn)衍射干涉儀測試精度的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210255791.3 | 申請日: | 2012-07-23 | 
| 公開(公告)號: | CN102798341A | 公開(公告)日: | 2012-11-28 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邵晶;馬冬梅;張海濤;于杰 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 | 
| 主分類號: | G01B9/02 | 分類號: | G01B9/02;G01J9/02 | 
| 代理公司: | 長春菁華專利商標(biāo)代理事務(wù)所 22210 | 代理人: | 張偉 | 
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提高 衍射 干涉儀 測試 精度 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于點(diǎn)衍射干涉儀測試領(lǐng)域,具體涉及一種提高點(diǎn)衍射干涉儀測試精度的方法。
背景技術(shù)
干涉儀是一種高精度的光學(xué)測量設(shè)備,其中,點(diǎn)衍射干涉儀采用小孔衍射的波前作為測試基準(zhǔn)波前,具有很高的精度,已被應(yīng)用于超高精度的光學(xué)檢測、測量中。點(diǎn)衍射干涉儀由于小孔衍射的原因,它出射的球面光束的光強(qiáng)分布不均勻,中心區(qū)域的光強(qiáng)亮度明顯高于邊緣區(qū)域。這樣點(diǎn)衍射干涉儀在測試高數(shù)值孔徑的光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)時,干涉條紋的邊緣的亮度會比中心區(qū)域的光強(qiáng)下降。由于點(diǎn)衍射干涉儀一般采用相機(jī)作為采集干涉條紋的傳感器,它與控制計(jì)算機(jī)之間需要進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,相機(jī)采集干涉條紋要求相機(jī)不能飽和,邊緣亮度的下降會導(dǎo)致邊緣圖像模數(shù)轉(zhuǎn)換位數(shù)的下降,點(diǎn)衍射干涉儀的測試精度會下降。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題,本發(fā)明提供了一種提高點(diǎn)衍射干涉儀測試精度的方法,該方法利用修正點(diǎn)衍射干涉儀中的成像鏡頭出瞳光束光強(qiáng)分布,使點(diǎn)衍射干涉儀形成干涉條紋的中心光強(qiáng)分布與邊緣分布一致,增強(qiáng)邊緣光束的模數(shù)轉(zhuǎn)換位數(shù),提高點(diǎn)衍射干涉儀的測試精度。
本發(fā)明解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案如下:
一種提高點(diǎn)衍射干涉儀測試精度的方法,該方法包括如下步驟:
步驟一:將會聚鏡頭和小孔板同光軸放置,平行光源通過會聚鏡頭會聚,經(jīng)由小孔板出射,一部分光線形成測試光,另一部分光線做為參考光;測試光和參考光在相機(jī)成像鏡頭的出瞳處共光路;
步驟二:將成像鏡頭出瞳處的出瞳光強(qiáng)最大值處記為A,放置一片以A點(diǎn)為中心,沿徑向方向透過率逐漸提高的衰減片,用以調(diào)整成像鏡頭出瞳光束的光強(qiáng)分布,使中心和邊緣干涉條紋的圖像強(qiáng)度一致。
發(fā)明原理:在不加置衰減片前,點(diǎn)衍射干涉儀衍射光束在成像鏡頭出瞳光強(qiáng)分布最大值位置處記為A點(diǎn),以A點(diǎn)為中心,沿徑向方向衰減片的透過率逐步提高。衰減片中A點(diǎn)位置處的透過率最小。A點(diǎn)不一定與衰減片的機(jī)械中心重合。衰減片的最大透過率和最小透過率由在不加置衰減片前,點(diǎn)衍射干涉儀成像鏡頭出瞳光強(qiáng)分布的最大最小值決定,以保證點(diǎn)衍射干涉儀干涉條紋在調(diào)整后保持強(qiáng)度一致。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明具有設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)簡單、成本低廉、容易加工制造的優(yōu)點(diǎn),能夠利用較低成本解決點(diǎn)衍射干涉儀邊緣光強(qiáng)下降導(dǎo)致模數(shù)轉(zhuǎn)換位數(shù)降低的問題,提高點(diǎn)衍射干涉儀的測試精度。本發(fā)明適合科研院所和檢測部門使用。
附圖說明
圖1本發(fā)明測試光學(xué)元件表面面形的點(diǎn)衍射干涉儀的裝置示意圖。
圖2本發(fā)明測試光學(xué)系統(tǒng)波前誤差的點(diǎn)衍射干涉儀的裝置示意圖。
圖3本發(fā)明測試光學(xué)元件表面面形的點(diǎn)衍射干涉儀的裝置的衰減片示意圖。
圖4本發(fā)明測試光學(xué)系統(tǒng)波前誤差的點(diǎn)衍射干涉儀的裝置的衰減片示意圖。
圖中:1、會聚鏡頭,2、小孔板,3、待測光學(xué)元件,4、成像鏡頭,5、相機(jī),6、衰減片,7、在不加置衰減片前,點(diǎn)衍射干涉儀成像鏡頭出瞳光強(qiáng)分布最大值位置處,8、第一小孔板,9、待測光學(xué)系統(tǒng),10、第二小孔板。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)說明。
一種提高點(diǎn)衍射干涉儀測試精度的方法,該方法包括如下步驟:
步驟一:將會聚鏡頭和小孔板同光軸放置,平行光源通過會聚鏡頭會聚,經(jīng)由小孔板出射,一部分光線形成測試光,另一部分光線做為參考光;測試光和參考光在相機(jī)成像鏡頭的出瞳處共光路;
步驟二:將成像鏡頭出瞳處的出瞳光強(qiáng)最大值處記為A,放置一片以A點(diǎn)為中心,沿徑向方向透過率逐漸提高的衰減片,用以調(diào)整成像鏡頭出瞳光束的光強(qiáng)分布,使中心和邊緣干涉條紋的圖像強(qiáng)度一致。
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