[發明專利]電致變色測試裝置及測試方法

無效

• 申請號: 201210255492.X
• 申請日: 2012-07-23
• 公開（公告）號: CN102749283A
• 公開（公告）日: 2012-10-24
• 發明（設計）人: 牛海軍;張春雨;潘清江;張海洋;馬麗娜
• 申請（專利權）人: 黑龍江大學
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/31
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 牟永林

技術領域

本發明涉及一種電致變色測試裝置及測試方法，屬于電致變色測試技術領域。

背景技術

進入信息時代，有機電子學作為一門新興的學科取得了迅猛的發展。有機電子學與有機化學、材料科學等學科相結合誕生出一批具有卓越光電性能的新型材料，此類新型材料涵蓋了顯示器材料、軍事偽裝材料、信息存儲材料、傳感材料以及智能材料等諸多領域。具有電致變色性能的聚合物的存在必將使顯示和傳感領域迸發出蓬勃的生命力，表現出突出的優越性和廣闊的開發應用前景。目前電致變色材料在顯示器、軍事偽裝等領域的廣泛應用，已使其受到了越來越多的關注。研究電致變色測試裝置的人也越來越多了。

現有對電致變色材料的測試需要在全暗的房間進行測試，是由于參比電極較大，將其直接插在測試池中，會導致機器蓋不上蓋，使得有雜光進入到光譜接收器上，因此無法得到確定的顏色變化信號，不利于實驗操作。同時，現有測試儀還存在電位梯度的問題。

發明內容

本發明是為了解決現有電致變色測試裝置存在的不易操作及有電位梯度的問題，提供一種電致變色測試裝置及測試方法。

本發明所述電致變色測試裝置，它包括工作電極、對電極和參比電極，它還包括比色皿、玻璃柱和塑料管，

比色皿的端蓋上開有兩個矩形孔和一個圓孔，兩個矩形孔沿端蓋寬度方向開設，并對稱分列于圓孔兩側，所述圓孔靠近端蓋的一側邊緣，

一個矩形孔中插入有工作電極，另一個矩形孔中插入有對電極，玻璃柱設置在比色皿內，并處于工作電極和對電極之間，塑料管插入到所述圓孔內，參比電極插入到該塑料管內。

對電極為由鉑絲制成的矩形框電極或鉑網電極。

工作電極為由導電玻璃制成的矩形電極片。

參比電極為飽和Ag/AgCl電極或飽和甘汞電極。

基于上述電致變色測試裝置的電致變色測試方法，它包括以下步驟：

步驟一：將比色皿內裝入適量的測試液，使工作電極的末端和對電極的末端均浸入到測試液內；同時使參比電極的末端浸入到塑料管內的測試液中；

步驟二：將要測試的電致變色材料涂覆在工作電極上；

步驟三：將所述電致變色測試裝置置放于紫外-可見-近紅外測試儀內，并分別給三個電極供電；

步驟四：將紫外-可見-近紅外光源放置于紫外-可見-近紅外測試儀內，所述紫外-可見-近紅外光源發射的光照射在工作電極位于對比色皿內的部分，采用光譜接收儀器接收經工作電極透射的光；

步驟五：通過光譜接收儀器接收到的透射光的光譜來確定電致變色材料的變色性能。

本發明的優點是：本發明裝置可與任意紫外-可見-近紅外測試儀器配套使用，易于操作，并且能夠降低電位梯度。

本發明采用塑料軟管將參比電極的端部與比色皿內的測試液連接，不影響對測試儀器上蓋蓋嚴，因此能有效地避免雜光進入到測試倉中。對電極采用鉑絲制成矩形框電極或鉑網電極，能夠有效的降低電位梯度的影響，避免了采用單根絲或鉑片作為對電極造成的電場分布不均的現象。玻璃柱起到了隔離對電極和工作電極的目的，能夠防止它們之間接觸，造成短路現象，進而損壞測試裝置。玻璃柱易于制備并且不發生電化學腐蝕。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖；

圖2為圖1的俯視圖；

圖3為本發明在測試過程中的示意圖，圖中，7為紫外-可見-近紅外測試儀，8為紫外-可見-近紅外光源，9為光譜接收儀器，10為供電電源或電化學儀。

具體實施方式

具體實施方式一：下面結合圖1和圖2說明本實施方式，本實施方式所述電致變色測試裝置，它包括工作電極1、對電極2和參比電極3，它還包括比色皿4、玻璃柱5和塑料管6，

比色皿4的端蓋上開有兩個矩形孔和一個圓孔，兩個矩形孔沿端蓋寬度方向開設，并對稱分列于圓孔兩側，所述圓孔靠近端蓋的一側邊緣，

一個矩形孔中插入有工作電極1，另一個矩形孔中插入有對電極2，玻璃柱5設置在比色皿4內，并處于工作電極1和對電極2之間，塑料管6插入到所述圓孔內，參比電極3插入到該塑料管6內。

本實施方式中，使用的比色皿4為標準的比色皿。玻璃柱5是為了起到隔離工作電極1和對電極2的作用。塑料管6需要選擇耐腐蝕的軟管，以防被比色皿4內測試液腐蝕。

具體實施方式二：本實施方式為對實施方式一的進一步說明，對電極2為由鉑絲制成的矩形框電極或鉑網電極。